Advanced Micro Devices Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
1.708
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.708 gesamt| Patent | |||
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02.10.2002
In-Situ Steuerung einer Trockenätzanlage
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.09.2000
Anhängig
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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02.10.2002
Methode und Apparat für Bestimmung der Messfrequenz Basiert auf Hardwarealter und Gebrauch
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2002
Automatisierte Werkstückstemperaturregelung für einen Plasma Hoher Dichte (hdp)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2002
Quelldatenbericht-Abfragemethode in Fehlersuchgesteuerten Halbleiterherstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2002
Prozesskontrollsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.09.2002
Prüfkontaktvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.11.2001
Anhängig
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25.09.2002
Organische Gehäuse mit Lot zur Zuverlässligen Flip-Chip-Verbindung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.06.2000
Anhängig
Vertretung
Eve, Rosemary Margaret · Tunbridge Wells
Picker, Madeline Margaret · London
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18.09.2002
Schutznetzwerk gegen Elektrostatische Entladung mit Verteilten Bauelementen, die mit Induktoren Angeschlossen Werden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.09.2002
Methode zur Kontrolle der Schichtdicke von Fotoresists
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.01.2002
Anhängig
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04.09.2002
Verfahren zur Herstellung einer Ultradünnen Oxidschicht durch einen Ammoniaktemperprozess
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.08.2002
Chargenweise-Steuerungs-Verfahren für die Abstimmung eines Pid Reglers für Kurzzeittempernverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.11.2001
Anhängig
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29.08.2002
Arsenfreie N-Typ-Dotierstoffimplantation für Verbesserte Source/drain-Grenzflächen mit Nickelsiliziden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.12.2001
Anhängig
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28.08.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Anpassung des Sendeleistungspegels
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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22.08.2002
Dosissteuerung in Abhängigkeit von Optischen Parametern eines Steppers
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.01.2002
Anhängig
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22.08.2002
Silicide Stop Layer in A Damascene Gate Semiconductor Structure
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.11.2001
Anhängig
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22.08.2002
Gate Electrode Silicidation Layer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.11.2001
Anhängig
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08.08.2002
Konfigurierbare Musterungsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung Integrierter Schaltkreise mit Dieser Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.11.2001
Anhängig
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08.08.2002
Phasenschiebermaske und Verfahren zu Ihrer Herstellung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.12.2001
Anhängig
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08.08.2002
Dual-Gate Prozess unter Benutzung einer Selbstassemblierten Molekularen Schicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.12.2001
Anhängig
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08.08.2002
Verwendung Organischen Füllmaterials in Doppel-Damaszener-Prozess
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2001
Anhängig
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08.08.2002
Teilweise mit Silizid Versehene Diode und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.12.2001
Anhängig
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01.08.2002
System und Methode zur Gleichmässigen Verteilung von Last auf die Verbindungen eines Bündels
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 02.11.2001
Anhängig
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25.07.2002
Maske für ein Tragteil für eine Laserschneidvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2001
Anhängig
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24.07.2002
Vorrichtung und Verfahren zum Zwischenspeichern von Ausrichtungsinformation
Software & Datenverarbeitung
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18.07.2002
Verfahren zum Testen eines Halbleiterwafers durch Mechanisches Belasten eines Chips
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.11.2001
Anhängig
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18.07.2002
Reservoirvolumen eines Leiters für Interkonnekts in einer Intergrierten Schaltung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.11.2001
Anhängig
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04.07.2002
Verhinderung von Niederschlag-Verunreinigungen auf Kupferverbindungen Während Cmp durch Verwendung von Lösungen enthaltend Organische Verbindungen mit Kieselsäureadsorption und Korrosionshemmenden Eigenschaften für Kupfer
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
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Status
Angemeldet am 15.03.2001
Anhängig
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03.07.2002
Methode und Apparat zur Chargenkontrolle in einem Chargierten Herstellungsablauf
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.04.2000
Anhängig
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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03.07.2002
Laterale Bipolaranordnung mit Hoher Geschwindigkeit im Soi-Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.06.2002
Methode und System zur Verbesserung Er Stabilität von Photomasken
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.10.2001
Anhängig
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27.06.2002
In Kontrollierter Weise Getemperter Leiter für Zwischenverbindungen Integrierter Schaltungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.10.2001
Anhängig
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26.06.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Senkung des Zellen- oder Packetensverkehr über Standardisierten Pc Datenbusse
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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13.06.2002
Damaszen Transistor mit Metallischem Gatter aus Nisi und Hoher Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.12.2001
Anhängig
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30.05.2002
Imaging layer as hard mask for organic low-k materials
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.10.2001
Anhängig
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29.05.2002
Verfahren und Einrichtung zur Charakterisierung von Halbleiter-Vorrichtungen
Steuerungs- & Regelungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.05.2002
Methode und Apparat zur Chargenweisen Kontrolle der Deckung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.04.2000
Anhängig
Vertretung
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor · London
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23.05.2002
Amorphisierte Barriereschicht für Zwischenverbindungen Integrierter Schaltungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2001
Anhängig
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22.05.2002
Verfahren zur Herstellung von Schmalen Strukturen mittels eines Doppel-Damaszener Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.05.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Adaptiven Datenrahmenverfolgung
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 13.04.2000
Anhängig
Vertretung
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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15.05.2002
Verfahren zur Weichen Programmierung von Speicherzellen zur Einengung der Schwellwertspannungsverteilung unter Verwendung von Rampenförmigen Gatesignalen
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Wer vertritt Advanced Micro Devices?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advanced Micro Devices vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Software & Datenverarbeitung
1.044
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
407
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
149
Akustik, Musik & Datenspeicherung
146
Elektronik & Schaltungstechnik
51
Optik & Fototechnik
41
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30
Steuerungs- & Regelungstechnik
25
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
20
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
7
Metallurgie & Oberflächentechnik
6
Elektrische Energietechnik
5