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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
10.02.2005
Test device
WO2005012930
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.02.2005
Remainder system operation system, scaling operation unit, scaling operation method, program thereof, and recording medium
WO2005013117
Software & Datenverarbeitung
03.02.2005
Position detection device, position detection method, test device, and camera module manufacturing device
WO2005010461
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
27.01.2005
Tape winding device for wire material, and system of manufacturing tape-wound insulation core
WO2005008689
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.01.2005
Cover for cooling heat generating element, heat generating element mounter and test head
WO2005004571
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
29.12.2004
Test device and program
WO2004114317
Akustik, Musik & Datenspeicherung
29.12.2004
Test Equipment
WO2004113941
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2004
Transport device, electronic component handling device, and transporting method for electronic component handling device
WO2004108366
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
16.12.2004
Transportation device, electronic component-handling device, and transportation method in electronic component-handling device
WO2004109305
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2004
Device interface unit
WO2004109308
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2004
Electronic Component Test Instrument
WO2004106953
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2004
Electronic Component Test Instrument
WO2004106954
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2004
Electronic component testing apparatus
WO2004106945
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2004
Electronic part test device
WO2004106944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2004
Phase measurement device, method, program, and recording medium
WO2004104603
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.12.2004
Current measurement device and test device
WO2004104605
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.11.2004
Signal measurement/display device and method
WO2004102213
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.11.2004
Input signal processing device, high-frequency component acquisition method, and low-frequency component acquisition method
WO2004102794
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
25.11.2004
Signal measuring device
WO2004102214
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.11.2004
Pll Circuit
WO2004100379
Elektronik & Schaltungstechnik
11.11.2004
Measurement device and program
WO2004097439
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.11.2004
Insert and tray respectively for electronic component handling device and electronic component handling device
WO2004095038
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.11.2004
Stage device and exposure device
WO2004095548
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
04.11.2004
Optical characteristic measuring instrument and method, program, and record medium on which the program is recorded
WO2004094983
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.10.2004
Test device
WO2004092755
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
28.10.2004
Event based test method for debugging timing related failures in integrated circuits
WO2004092753
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.10.2004
Sample observing apparatus, edge position calculating device, and program
WO2004085959
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.10.2004
Orthogonal modulation device, method, program, recording medium, and modulation device
WO2004086713
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
30.09.2004
Wave detection device, method, program, and recording medium
WO2004083875
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.09.2004
Calibration method for system performance validation of automatic test equipment
WO2004083880
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.09.2004
Digitizer device, waveform generation device, conversion method, waveform generation method, and recording medium containing the program thereof
WO2004077776
Elektronik & Schaltungstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
19.08.2004
Test device
WO2004070404
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.08.2004
Detection device, detection method, and program
WO2004070406
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.08.2004
Tcp handling device and positional deviation correcting method for the same
WO2004068154
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.05.2004
Messungssteuervorrichtung
EP1420258
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.05.2004
Connection unit, board mounting device to be measured, probe card, and device interface unit
WO2004040325
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.02.2004
Electronic device test system
WO2004011952
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.01.2004
Contact, socket, socket board, and electronic component test apparatus
WO2004005944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.01.2004
Electronic component contact device
WO2004005948
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2003
Electronic component test apparatus
WO03091741
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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22
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