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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
06.11.2003
Electronic component test apparatus
WO03091740
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.09.2003
Insert and electronic component handler comprising it
WO03075024
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.09.2003
Electronic component testing apparatus
WO03075025
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.09.2003
Electronic part test apparatus
WO03075023
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.07.2003
Anzeigevorrichtung zur Anzeige physikalischen Grösse von mehreren Signalen, Verfahren und Aufzeichnungsmedium
EP1179736
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
15.05.2003
Einzelmotorischer Mehrachsentisch
WO03039808
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2003
Vorrichtung und Verfahren zur Messung Optischer Kenngrössen, Aufzeichnungsmedium
EP1310783
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.01.2003
Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Kommunikationstest und Speichermedium, auf dem das Programm Gespeichert Wurde
EP1278317
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
20.11.2002
Geräteauthentifizierungsvorrichtung und Verfahren und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Geräteauthentifizierungsprogramm Aufgezeichnet Wird
EP1258801
Software & Datenverarbeitung Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
24.10.2002
Circuit Member Processor
WO02083333
Verfahrens- & Trenntechnik Kunststoff- & Polymertechnik
26.09.2002
Universelle Prüfschnittstelle zwischen einer zur Analyse Stehenden Vorrichtung und einem Prüfkopf
WO02075330
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.06.2002
Gerät und Verfahren zur Messung von Bitfehlern
EP1091518
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.05.2002
Beobachtungsvorrichtung und Verfahren für Radiohologramme
EP1046962
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.04.2002
Electron beam exposure system
WO0229868
Maschinenelemente & Fluidtechnik Optik & Fototechnik
27.03.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Verteilung eines Feldes.
EP1191340
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2002
Herstellungsmethode einer Halbleiter-Integrierten Schaltung mit Mehrlagen-Verdrahtungsstruktur
EP1184901
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.02.2002
Automatic system capable of responding to mobile terminal, and method for controlling the automatic system
WO0211415
Steuerungs- & Regelungstechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
27.12.2001
Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
WO0199189
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.11.2001
Teilchenstrahlsystem
EP1158563
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit Mehrachsen-Elektronenlinse und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
WO0175949
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit Mehrachsen-, Verfahren zur Herstellung einer Mehrachsen-Elektronenlinse und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
WO0175950
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit einer Mehrachsen-Elektronenlinse, Mehrachsen-Elektronen-Linse zum Fokussieren von Elektronenstrahlen und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
WO0175948
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit einer Mehrachsen-Elektronenlinse, Mehrachsen-Elektronenlinse zum Fokussieren von Elektronenstrahlen und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
WO0175947
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit Mehrachsen-Elektronenlinse, Mehrachsen-Elektronenlinse zum Fokussieren eines Mehrfach-Elektronenstrahls und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
WO0175946
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit Mehrachsen-Elektronenlinse und Verfahren zur Herstellung
WO0175951
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.09.2001
Verfahren und Apparat zur Messung einer optischen Transfercharakteristik
EP1018642
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.02.2001
Method and apparatus for environmental monitoring
WO0113093
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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Technologiefelder

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Halbleiter & Elektrische Bauelemente
259
Elektronik & Schaltungstechnik
151
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
105
Software & Datenverarbeitung
71
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58
Optik & Fototechnik
52
Medizintechnik & Gesundheit
23
Elektrische Energietechnik
22
Steuerungs- & Regelungstechnik
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
8
Verpackungs- & Fördertechnik
8

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