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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
05.08.2026
Kontaktlose Prüfung von Interposern und Siliziumbrücken
EP4786990
05.02.2026
Pay-per-use system and pay-per-use method for testing function license
WO2026026270
Software & Datenverarbeitung
15.01.2026
Contactor and testing device
WO2026014051
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.01.2026
Method and apparatus for analyzing lipoprotein in blood sample
WO2026004841
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.12.2025
Tester for an automatic test equipment system and method for controlling the same
WO2025250130
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
06.11.2025
Measurement device, measurement method, and measurement program
WO2025229716
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2025
Automated test equipment, test arrangement and method for testing with individual sensing in a ganged operation mode and device with routed power supply connection structure
WO2025228513
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2025
Device for equalising attenuation of a signal by a transmission line and system for testing electronic devices
WO2025228532
Elektronik & Schaltungstechnik
30.10.2025
Measurement device and measurement method
WO2025225482
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.10.2025
Measurement device, measurement method, and device to be tested
WO2025225479
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.09.2025
Power switch and method for operating a power switch using a switchable current source
WO2025185835
Elektrische Energietechnik Elektronik & Schaltungstechnik
04.09.2025
A device under test socket structure with a pusher surrounded with an electromagnetic absorber and a test arrangement or an automated test equipment comprising the same
WO2025180602
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2025
Testing apparatus, testing method, and program
WO2025173133
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.07.2025
Four-port network analyzer and method for measuring four-port network parameters
WO2025157383
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.06.2025
Apparatus, method, and program
WO2025126642
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.06.2025
Power supply filter circuit, power supply arrangement, automated test equipment and method for actively filtering a supply voltage
WO2025124716
Steuerungs- & Regelungstechnik Elektrische Energietechnik
12.06.2025
Test apparatus and test method
WO2025121020
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.06.2025
Testing device, testing method, and program
WO2025120999
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
01.05.2025
Testing device, testing method, and computer program product
WO2025089175
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2025
Pattern-generating device
WO2025083771
Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.04.2025
System and method for testing devices, computer readable medium
WO2025073382
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2025
Test device, test method, and program
WO2025069125
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.03.2025
Secretion component measuring device
WO2025052710
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2025
Test apparatus and test method
WO2025041281
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2025
Optical measurement device
WO2025041201
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2025
Variable attenuator, step attenuator, and test device
WO2025041272
Elektronik & Schaltungstechnik
06.02.2025
Phase change material switch and manufacturing method
WO2025027952
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.01.2025
Inductor
WO2025022712
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.01.2025
Switchable routing circuit and method for routing a signal
WO2025016545
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.01.2025
Antenna device with curved ridges
WO2025008076
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.01.2025
Halbleitertestergebnisanalysevorrichtung, Halbleitertestergebnisanalyseverfahren und Computerprogramm
EP4489059
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.12.2024
Testing arrangement and method for determining an optimized distance between a device under test and an antenna of a testing arrangement
WO2024260540
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.12.2024
Optical input/output device
WO2024262028
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2024
Feinpartikelmessvorrichtung und Feinpartikelmessverfahren
WO2024252999
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2024
Mikropartikelmessvorrichtung
WO2024253000
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.11.2024
Integrated circuit, automated test equipment and method for testing a device under test, using on-chip connections between voltage provider circuits
WO2024240349
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.10.2024
Microparticle measurement apparatus
WO2024225338
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.10.2024
Test apparatus and method for operating a test apparatus
WO2024199654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.10.2024
Minute particle measurement device and minute particle measurement method
WO2024202876
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.09.2024
Test system and mechanical arm apparatus
WO2024187749
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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