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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
13.10.2005
Variable Delay Circuit
WO2005096498
Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik
06.10.2005
Optical frequency measuring apparatus and optical frequency measuring method
WO2005093385
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.10.2005
Network analyzer, transmission tracking measuring method, network analyzing method, program, and recording medium
WO2005093438
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.10.2005
Processing unit, display method and display program
WO2005093819
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.10.2005
Halbleitertestsystem mit Speicherung von Pin-Kalibrierungsdaten, Kommandos und Anderen Daten im Nichtflüchtigen Speicher
EP1581870
Software & Datenverarbeitung
29.09.2005
Test device and test method
WO2005091305
Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.09.2005
Test device and test method
WO2005088645
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
09.09.2005
Probe card, and method of producing the same
WO2005083773
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.09.2005
Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium
WO2005080999
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.09.2005
Quadrature modulation apparatus, method, program and recording medium
WO2005081488
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.09.2005
Skew adjusting method, skew adjusting device, and test instrument
WO2005081004
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.08.2005
Semiconductor device testing apparatus and testing method
WO2005078736
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
25.08.2005
Test Equipment
WO2005078463
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.08.2005
Measurement instrument, measurement method, and test instrument
WO2005076021
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.08.2005
Test Equipment
WO2005076023
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2005
A Driver Circuit
WO2005074127
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
11.08.2005
Phase measurement device, method, program, and recording medium
WO2005073738
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2005
Testing apparatus and testing method
WO2005073740
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2005
Measurement device, method, program, and recording medium
WO2005073737
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.07.2005
Pulse width adjusting circuit, pulse width adjusting method, and semiconductor testing apparatus
WO2005069487
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
21.07.2005
Timing clock calibration method
WO2005066646
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.07.2005
Frequency Converter
WO2005064787
Elektronik & Schaltungstechnik
30.06.2005
Coaxial cable, twist pair cable, coaxial cable unit, test device, and cpu system
WO2005059926
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.06.2005
Mach-Zehnder Interferometer, optischer Koppler und Verfahren zu seiner Herstellung
EP1544646
Optik & Fototechnik
15.06.2005
Teilchenstrahl-Raster-Spiegelmikroskop
EP1255278
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.06.2005
Performance-Bord und Testsystem
EP1542028
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.06.2005
Digital qp detecting apparatus, spectrum analyzer having the same, and digital qp detecting method
WO2005052606
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
09.06.2005
Oscillator, frequency multiplier, and testing apparatus
WO2005053160
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
09.06.2005
High frequency delay circuit, and testing device
WO2005053158
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
02.06.2005
Clock recovery circuit and communication device
WO2005050904
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.05.2005
Symbol point estimating apparatus, method and program, and recording medium
WO2005041513
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
31.03.2005
Semiconductor Switch Circuit
WO2005029702
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
31.03.2005
Error factor acquisition device, method, program, and recording medium
WO2005029102
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.03.2005
Current measurement device, test device, and coaxial cable and assembled cable used for them
WO2005029099
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2005
Error correction signal generating device and orthogonal modulator equipped with the error correction signal generating device
WO2005027449
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.03.2005
Magnetic garnet single crystal and yig device
WO2005019507
Metallurgie & Oberflächentechnik
24.02.2005
Optical amplifier apparatus
WO2005018065
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.02.2005
Contact and connector
WO2005015692
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.02.2005
Photometer
WO2005015139
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.02.2005
Clock transfer unit and test equipment
WO2005013546
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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