Hamamatsu Photonics Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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2.899 gesamt| Patent | |||
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05.03.2025
Verfahren zur Herstellung einer Optischen Detektionseinheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.03.2025
Optischer Differenzdetektor und Inspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.03.2025
Optische Detektionseinheit und Optische Detektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.03.2025
Optische Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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05.03.2025
Festkörperabbildungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.02.2025
Charged Particle Detector
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.05.2024
Anhängig
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26.02.2025
Optisches Modul, Signalverarbeitungssystem und Signalverarbeitungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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26.02.2025
Szintillatortafel und Strahlungsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 03.07.2018
Erteilt am 26.02.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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26.02.2025
Szintillatortafel und Strahlungsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 03.07.2018
Erteilt am 26.02.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.02.2025
Szintillator
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.04.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.02.2025
Optical modulation device, optical observation device, and light irradiation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.02.2024
Anhängig
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20.02.2025
Szintillator
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Status
Angemeldet am 17.04.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
A scintillator includes a support substrate; and an emission layer that is formed of ZnO, is disposed on the support substrate, and emits light in response to an incidence of charged particles or photons. The emission layer includes a plurality of first layers having a first impurity concentration, and a plurality of second layers alternately stacked with the plurality of first layers and having a second impurity concentration lower than the first impurity concentration. |
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19.02.2025
Probenbeobachtungsvorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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19.02.2025
Lichtdetektionsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.02.2025
Optische Messvorrichtung und Optisches Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.04.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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13.02.2025
Light-projecting/receiving module for ranging and ranging device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.03.2024
Anhängig
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12.02.2025
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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12.02.2025
Strahlungsdetektionsvorrichtung, Strahlungsdetektionssystem und Strahlungsdetektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.02.2025
Light detection device, film thickness measurement device, semiconductor process monitoring device, and noise detection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 14.03.2024
Anhängig
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06.02.2025
Light detection device, film thickness measurement device, semiconductor process monitoring device, and noise detection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 14.03.2024
Anhängig
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06.02.2025
Light-emitting device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.07.2024
Anhängig
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05.02.2025
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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30.01.2025
Light-emitting device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.07.2024
Anhängig
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29.01.2025
Zellbeobachtungssystem und Zellbeobachtungsverfahren
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.01.2025
Fabry-Perot-Interferenzfilter
Optik & Fototechnik
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23.01.2025
Fabry-Perot-Interferenzfilter
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
A Fabry-Perot interference filter includes a first laminated body having a first mirror portion, and a second laminated body having a second mirror portion that faces the first mirror portion with a gap interposed therebetween. A reference laminated body, which is one of the first laminated body and the second laminated body, includes a first low-resistance layer, a second low-resistance layer, and a first insulating layer disposed between the first low-resistance layer and the second low-resistance layer. The resistivity of the material constituting the first low-resistance layer and the second low-resistance layer is lower than the resistivity of the material constituting the first insulating layer. The first insulating layer includes a first main body portion located on the first low-resistance layer, a first covering portion covering an outer edge of the first low-resistance layer, and a first peripheral portion located outside the first low-resistance layer. The first main body portion, the first covering portion, and the first peripheral portion are integrally formed. |
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22.01.2025
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.01.2025
Zellbeurteilungsverfahren und Zellbeurteilungsvorrichtung
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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15.01.2025
Lichtbestrahlungsvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2023
Erteilt am 15.01.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.01.2025
Strahlungsdetektor und Strahlungsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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15.01.2025
Strahlungsdetektionsvorrichtung, Strahlungsdetektionssystem und Strahlungsdetektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.01.2025
Lichtquellenvorrichtung und Steuerungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.03.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.01.2025
Photovervielfacherröhre
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.01.2025
Vorrichtung zur Bestrahlung mit Energiestrahlen
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.01.2021
Erteilt am 08.01.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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01.01.2025
Optische Detektionsschaltung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An observation apparatus 1A is an apparatus for observing a moving observation object S, and includes a light source 11, a beam splitter 12, mirrors 13 and 14, a beam splitter 15, a modulation unit 21, lenses 31 to 34, an imaging unit 41, and a processing unit 42. The modulation unit 21 inputs first split light L1 arriving from the mirror 13, spatially amplitude modulates the input first split light L1 based on a modulation pattern, and causes the first split light to include a plurality of light components having wavenumber components in a moving direction of the observation object S different from each other. The processing unit 42 generates a complex amplitude image when the observation object S is irradiated with each of the plurality of light components based on a detection signal repeatedly output from the imaging unit 41. Thus, an apparatus capable of easily observing a moving observation object is realized. |
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.12.2024
Vorbehandlungsverfahren für Fluoreszenzbilddiagnose
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.12.2024
Bildgebungseinheit und Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt Hamamatsu Photonics?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hamamatsu Photonics vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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