Hamamatsu Photonics Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
2.892 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
11.12.2024
Photodetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.12.2024
Vorrichtung zur Photoelektrischen Umwandlung, Vorrichtung zur Detektion Elektromagnetischer Wellen, Verfahren zur Photoelektrischen Umwandlung und Verfahren zur Detektion Elektromagnetischer Wellen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.08.2021
Erteilt am 04.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.12.2024
Probenbeobachtungsvorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.12.2024
Festkörperbildgebungselement und Verfahren zur Herstellung eines Festkörperbildgebungselements
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.12.2024
Photoelektrische Umwandlungsvorrichtung und Photoelektrisches Umwandlungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.08.2021
Erteilt am 04.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
04.12.2024
Zeitmessvorrichtung, Fluoreszenzlebensdauermessvorrichtung und Zeitmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Planar, Self-Calibrated Broadband Waveguide Spectrometer On Photonic Integrated Circuit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2023
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
|
|||
|
Zusammenfassung
An inspection apparatus 1 includes a stage 10 configured to hold a PIC 100, a PIC controller 20 configured to control an operation of the PIC 100, an LRG dichroic mirror 61 having a transmission characteristic in which transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit and reflect light guided by a waveguide 108 and output from at least one optical output unit 102 on the basis of the transmission characteristic, a first camera 62 configured to capture the light transmitted through the LRG dichroic mirror 61 to output a transmission image, a second camera 63 configured to capture the light reflected by the LRG dichroic mirror 61 to output a reflection image, and a computer 70 configured to execute a first process for deriving wavelength information about light output from the optical output unit 102 on the basis of the transmission image and the reflection image. |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
An inspection apparatus for inspecting a semiconductor apparatus includes a stage configured to hold the semiconductor apparatus, an LRG filter having a transmission characteristic in which transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit or reflect emitted light generated from the semiconductor apparatus on the basis of the transmission characteristic, an infrared camera configured to capture the light transmitted through the LRG filter to output a transmission image and capture light as emitted light that has arrived without passing through the LRG filter to output a total light amount image, and a computer configured to derive wavelength information about the emitted light on the basis of the transmission image and the total light amount image. |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
|
|||
|
Zusammenfassung
An inspection apparatus 1 includes a stage 10 holding a PIC 100, a PIC controller 20 controlling an operation of the PIC 100, an LRG filter 61 having a transmission characteristic in which a transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit or reflect light that has been guided by a waveguide 108 and output from at least one optical output unit 102 on the basis of the transmission characteristic, a camera 62 capturing light transmitted through the LRG filter 61 to output a transmission image and capturing light, which has arrived without passing through the LRG filter 61, to output a total light quantity image, and a computer 70 performing a first processing to derive wavelength information of the light output from the optical output unit 102 on the basis of the transmission image and the total light quantity image. |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Optical heterodyne interference measurement device and optical heterodyne interference measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.03.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Laser processing device, microscope device, and laser processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.05.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Microscope device
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.05.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.11.2024
Method for using microscope device
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.05.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.11.2024
Verfahren zum Herstellen einer Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.11.2024
Optische Detektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.11.2024
Festkörper-Bildaufnahmeelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.11.2024
System zur Erzeugung von Hologrammdaten und Verfahren zur Erzeugung von Hologrammdaten
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.11.2024
Szintillatortafel, Strahlungsdetektor, Verfahren zur Herstellung einer Szintillatortafel und Verfahren zur Herstellung eines Strahlungsdetektors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.10.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.11.2024
Ultraviolet detection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 04.01.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.11.2024
Discharge Tube
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.12.2023
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.11.2024
Verfahren zur Herstellung einer Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.11.2024
System zur Detektion eines Energiestrahls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.11.2024
Halbleiterinspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.11.2024
Verfahren zur Laserdesorption/ionisierung und Massenspektrometrieverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 31.07.2018
Erteilt am 06.11.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.11.2024
Strahlungsdetektor und Strahlungsdetektoranordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.11.2024
Strahlungsdetektor und Strahlungsdetektoranordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.10.2024
Image processing device and image processing method
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.04.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.10.2024
Interference observation device and interference observation method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.04.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.10.2024
Light detecting device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.03.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.10.2024
Image processing device and image processing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 18.03.2024
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.10.2024
Optisches Halbleitergehäuse und Verfahren zur Herstellung eines Optischen Halbleitergehäuses
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.10.2024
Probenträgerkörper und Herstellungsverfahren für einen Probenträgerkörper
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 08.01.2019
Erteilt am 30.10.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.10.2024
Bildgebungseinheit und Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Hamamatsu Photonics?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hamamatsu Photonics vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil