Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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770 gesamt| Patent | |||
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21.02.2013
Detektorvorrichtung
WO2013024123
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.08.2012
Anhängig
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23.01.2013
Wechselvorrichtung für ein Mikroskop
EP2549320
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.07.2012
Anhängig
Vertretung
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19.12.2012
Raster-Mikroskop und Verfahren zum Optischen Abtasten einer oder mehrerer Proben
EP2534520
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2011
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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19.12.2012
Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie
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Status
Angemeldet am 23.05.2012
Anhängig
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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05.12.2012
Detektor mit Mikrolinsen-Anordnung
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Status
Angemeldet am 21.01.2006
Erteilt am 05.12.2012
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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31.10.2012
Vorrichtung zur Justage einer Optischen Faser oder eines Optischen Faserbündels
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Status
Angemeldet am 12.09.2005
Erteilt am 31.10.2012
Vertretung
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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17.10.2012
Scan-Mikroskop zum optische Abtasten von Proben mit einer Streuscheibe vor einem Durchlicht-Detektor
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Status
Angemeldet am 27.08.2010
Erteilt am 17.10.2012
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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10.10.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung von Multipoint-FCS
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Status
Angemeldet am 15.03.2011
Anhängig
Vertretung
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30.08.2012
Abtastmikroskop und Verfahren zur Lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
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Status
Angemeldet am 20.02.2012
Anhängig
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04.07.2012
Verfahren zur Automatischen Erzeugung von Laser-Schnittlinien in der Laser-Mikrodissektion
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Status
Angemeldet am 21.10.2004
Erteilt am 04.07.2012
Vertretung
Grunert, Marcus · München
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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13.06.2012
Mikroskoptisch mit verschwenkbarer Objektivhalterung
EP2463703
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
Vertretung
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13.06.2012
Einrichtung und Verfahren zur justierten Anbringung eines Mikroskoptisches an einem Mikroskopstativ
EP2463702
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
Vertretung
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06.06.2012
Mikroskop mit einer Lichtquelle mit mehreren Mikrostrukturierten Optischen Elementen
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Status
Angemeldet am 06.09.2004
Erteilt am 06.06.2012
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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31.05.2012
Konfokales Laser-Scanmikroskop und ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe
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Status
Angemeldet am 22.11.2011
Anhängig
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30.05.2012
Einrichtung zum Fokussieren eines Mikroskopobjektivs auf eine Probe
EP2458421
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2011
Anhängig
Vertretung
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02.05.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Laser-Mikrodissektion mit einer Kontinuierlichen Veränderung der Schnittparameter
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Status
Angemeldet am 14.06.2006
Erteilt am 02.05.2012
Vertretung
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
Hössle Kudlek & Partner · Stuttgart
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11.04.2012
Vorrichtung zur Feinpositionierung eines Bauteils
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Status
Angemeldet am 17.05.2000
Erteilt am 11.04.2012
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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28.03.2012
System und Verfahren zum Computergestützten Durchführen mindestens eines Tests bei einem Scanmikroskop
EP2433170
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.05.2010
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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09.02.2012
Einrichtung zur Lückenlosen Einstellung von Spektrometer-Spaltbreiten
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Status
Angemeldet am 27.06.2011
Anhängig
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02.02.2012
Einrichtung und Verfahren zur Mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
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Status
Angemeldet am 22.07.2011
Anhängig
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05.01.2012
Verfahren und Einrichtung zur Lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur
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Status
Angemeldet am 27.06.2011
Anhängig
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14.12.2011
Mikroskop
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23.11.2011
Mikroskop-Aufbau
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Status
Angemeldet am 27.01.2001
Erteilt am 23.11.2011
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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26.10.2011
Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von einer mit einer fluoreszierenden Substanz markierten Struktur einer Probe
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Status
Angemeldet am 29.08.2007
Erteilt am 26.10.2011
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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26.10.2011
Vorrichtung mit einer breitbandigen Lichtquelle
EP2239616
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2010
Anhängig
Vertretung
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26.10.2011
Verfahren zur Untersuchung eines Objekts mit einem Mikroskop und ein Mikroskop
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Status
Angemeldet am 09.08.2007
Anhängig
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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12.10.2011
Verfahren und Vorrichtung zur Justierung der Beiden Objektive in einer 4PI-Anordnung
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12.10.2011
Fluoreszenzmikroskop und Verfahren zur Durchführung von Multipositionierungen in einer Screening-Applikation
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Status
Angemeldet am 02.03.2011
Anhängig
Vertretung
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28.09.2011
Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Fluoreszenzanregung (2-Wellenlängen-IR)
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Status
Angemeldet am 22.02.2011
Anhängig
Vertretung
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14.09.2011
Verfahren für einen beschleunigten Anregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop
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Status
Angemeldet am 21.02.2011
Anhängig
Vertretung
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09.09.2011
Probenhalterung für ein Mikroskop
WO2011107401
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2011
Anhängig
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18.08.2011
Vorrichtung zum Scannen eines Objekts, Verfahren zum Betreiben der Vorrichtung und Scanmikroskop
WO2011098303
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.01.2011
Anhängig
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18.08.2011
Vorrichtung und Verfahren zum Scannen eines Objekts und Mikroskop
WO2011098557
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2011
Anhängig
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15.06.2011
Mikroskop
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Status
Angemeldet am 25.04.2000
Erteilt am 15.06.2011
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Maisch, Thomas · Heidelberg
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09.06.2011
Phasenfilter für ein Rastermikroskop
WO2011066936
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.11.2010
Anhängig
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18.05.2011
Led-Modul zur Beleuchtung in einem Mikroskop
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Status
Angemeldet am 10.01.2006
Erteilt am 18.05.2011
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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14.04.2011
Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
WO2011042524
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.10.2010
Anhängig
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06.04.2011
Phasenfilter für die Sted-Mikroskopie
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Status
Angemeldet am 21.02.2006
Erteilt am 06.04.2011
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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06.04.2011
Objektivwechsler und ein Mikroskop
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Status
Angemeldet am 05.09.2008
Erteilt am 06.04.2011
Vertretung
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16.02.2011
Rastermikroskop
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Status
Angemeldet am 26.07.2004
Erteilt am 16.02.2011
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
Zusammenfassung
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
555
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
267
Software & Datenverarbeitung
114
Pharma & Biotechnologie
43
Medizintechnik & Gesundheit
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
19
Verfahrens- & Trenntechnik
17
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
4
Akustik, Musik & Datenspeicherung
4
Metallurgie & Oberflächentechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3