Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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949 gesamt| Patent | |||
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13.09.2017
Mikroskopbeleuchtungssystem und -Verfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2012
Erteilt am 13.09.2017
Vertretung
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
m patent group · München
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskopbeleuchtungssystem zur Umschaltung zwischen einer ersten, konfokalen und einer zweiten, nicht-konfokalen Mikroskopbeleuchtungsart mit einer Mikroskopbeleuchtungseinheit (100), die zur Bereitstellung der ersten Mikroskopbeleuchtungsart aufweist: eine Beleuchtungsquelleneinrichtung (10) zur Erzeugung eines parallel zur optischen Achse (9) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengangs (16), eine Scanspiegeleinrichtung (2) zur Ablenkung des Beleuchtungsstrahlengangs (16) in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse (9), ein Scanokular (3) und eine nachgeschaltete Scantubuslinse (5) zur Abbildung der Scanspiegeleinrichtung (2) in die hintere Brennebene (6) eines Mikroskopobjektivs (7) und zur Aufweitung des Beleuchtungsstrahlengangs (16), wobei das Mikroskopobjektiv (7) diesen auf ein zu untersuchendes Präparat (8) fokussiert, wobei diese Mikroskopbeleuchtungseinheit (100) zur Bereitstellung der zweiten Mikroskopiebeleuchtungsart, insbesondere für die Lokalisationsmikroskopie, eine Fokussierlinse (4) aufweist, die in den Beleuchtungsstrahlengang (16) derart einbringbar ist, dass dieser in die hintere Brennebene (6) des Mikroskopobjektivs (7) fokussiert wird. <img class="EMIRef" id="144777719-iaf01" /> |
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16.08.2017
Verfahren und lichtmikroskopische Einrichtung zur bildlichen Darstellung einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.06.2012
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
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20.07.2017
Optisches Gerät mit um eine Achse Drehbarem Komponententräger
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2016
Anhängig
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20.07.2017
Kreuztisch mit Anbringvorrichtung für Koaxialbedieneinheit
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2017
Anhängig
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29.06.2017
Verfahren zum Untersuchen einer Probe mittels Lichtblatt-Mikroskopie und Lichtblatt-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2016
Anhängig
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07.06.2017
Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2015
Anhängig
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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11.05.2017
Mikroskop für die Durchlicht- und Fluoreszenzmikroskopie
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 28.10.2016
Anhängig
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04.05.2017
Interferenzobjektiv nach Mirau
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2016
Anhängig
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13.04.2017
Verfahren und Beleuchtungsanordnung zum Beleuchten einer Probenschicht mit einem Lichtblatt
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2016
Anhängig
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11.01.2017
Verfahren und Einrichtung zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.01.2012
Erteilt am 11.01.2017
Vertretung
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15.12.2016
Mikroskop mit Reibschlüssigen Antrieben
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2016
Anhängig
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07.12.2016
Vorrichtung zum Laserschutz mit einem kraftentkoppelten Laserschutzgehäuse
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2011
Erteilt am 07.12.2016
Vertretung
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16.11.2016
Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fluoreszenzlicht bei der konfokalen Rastermikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2001
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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28.09.2016
Einrichtung zur variablen Umlenkung von Licht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2012
Erteilt am 28.09.2016
Vertretung
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14.09.2016
Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2012
Erteilt am 14.09.2016
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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07.09.2016
Objektivlinsenwechsler
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.10.2014
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Serjeants LLP · Leicester
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13.07.2016
Mikroskop mit einem Element zum Verändern der Form des Beleuchtungslichtfokus
Optik & Fototechnik
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28.04.2016
Detektorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2015
Anhängig
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27.04.2016
Vorrichtung zur Erzeugung eines Mehrere Wellenlängen Umfassenden Lichtstrahls
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2004
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
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31.03.2016
Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2015
Anhängig
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25.02.2016
Mikroskop mit Zwei Zugriffsöffnungen zur Fluoreszenzeinrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.08.2015
Anhängig
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03.02.2016
Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Dämmung von Schall im optischen Strahlengang eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 25.04.2013
Erteilt am 03.02.2016
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Zusammenfassung
Eine Vorrichtung zur Dämmung von Schall im optischen Strahlengang (1) eines Mikroskops, mit einem Schallschutzgehäuse (Gehäuse) (2) zum Kapseln eines Schall emittierenden Bauteils, vorzugsweise eines sich schnell bewegenden bzw. oszillierenden Strahlablenkmittels, insbesondere eines resonant schwingenden Spiegels (3), wobei das Gehäuse (2) mindestens eine optische Ein-/Austrittsöffnung (Öffnung) aufweist, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2), vorzugsweise die Öffnung des Gehäuses, derart ausgebildet und/oder ausgestattet ist, dass der ansonsten aus dem Gehäuse (2) austretende Schall durch destruktive Interferenz weitgehend ausgelöscht ist, ohne dabei den optischen Strahl zu beeinflussen. Des Weiteren ist ein Mikroskop mit einer entsprechenden Vorrichtung beansprucht. |
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28.01.2016
Mikroskop und Verfahren zum Optischen Untersuchen Und/oder Manipulieren einer Mikroskopischen Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2015
Anhängig
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28.01.2016
Mikroskop mit Abdeckungen zum Kombinierten Klemmschutz und Lichtschutz
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2015
Anhängig
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27.01.2016
Verfahren und Vorrichtung zum Mikroskopischen Untersuchen einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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03.09.2015
Lasermikrodissektionssystem und Lasermikrodissektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2015
Anhängig
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03.09.2015
Lasermikrodissektionssystem und Lasermikrodissektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2015
Anhängig
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02.09.2015
Schaltung und Verfahren zum Erzeugen von periodischen Steuersignalen sowie Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.04.2013
Erteilt am 02.09.2015
Vertretung
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
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20.08.2015
Bereitstellen von Probeninformationen mit einem Lasermikrodissektionssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2015
Anhängig
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20.08.2015
Verfahren und Mikroskop zum Abbilden einer Volumenprobe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.02.2015
Anhängig
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13.08.2015
Lasermikrodissektions-Objektträgeranordnung für die Mikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.02.2015
Anhängig
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06.08.2015
Verfahren zur Reduktion Mechanischer Schwingungen bei Elektrooptischen Modulatoren und Anordnung mit einem Elektrooptischen Modulator
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2015
Anhängig
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16.07.2015
Verfahren zum Analysieren einer Probe mit einem Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2015
Anhängig
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15.07.2015
Konfokales Laser-Raster-Mikroskop mit einer Gepulst Angesteuerten Laserlichtquelle
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2013
Anhängig
Vertretung
Bradl, Joachim · Schriesheim
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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24.06.2015
Bedienknopf für ein optisches System
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2004
Erteilt am 24.06.2015
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F. Dr. Dipl.-Phys · Bad Nauheim
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28.05.2015
Raman-Mikroskopische Abbildungseinrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.11.2014
Anhängig
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27.05.2015
Verfahren, Anordnung und System zur Ermittlung von Prozessgrössen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2001
Erteilt am 27.05.2015
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg & Partner Patentanwälte (GbR) · München
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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29.04.2015
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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11.03.2015
Systeme und Verfahren zur Analyse der Biomarker Co-Lokalisierung in einem Biologischen Gewebe
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 26.04.2013
Anhängig
Vertretung
Larsson, Jan Anders · Uppsala
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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11.03.2015
Systeme und Verfahren zur Durchführung einer Korrelationsanalyse Klinischer Ergebnisse und der Eigenschaften von Biologischem Gewebe
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 26.04.2013
Anhängig
Vertretung
Larsson, Jan Anders · Uppsala
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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