Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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770 gesamt| Patent | |||
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26.01.2011
Konfokalmikroskop und Verfahren zur Detektion mit einem Konfokalmikroskop
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Status
Angemeldet am 25.08.2006
Erteilt am 26.01.2011
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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05.01.2011
Vorrichtung zum Positionieren eines optischen Bauteils in einem Strahlengang
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Status
Angemeldet am 24.01.2001
Erteilt am 05.01.2011
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Naumann, Ulrich, Dr.-Ing · Heidelberg
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05.01.2011
Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
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Status
Angemeldet am 18.09.2006
Erteilt am 05.01.2011
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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15.12.2010
Durchlichtbeleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
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Status
Angemeldet am 14.10.2003
Erteilt am 15.12.2010
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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17.11.2010
Vorrichtung und ein Verfahren zur Bereitstellung einer vergebbaren Konzentration mindestens einer Komponente in einem flüssigen Medium
EP2187195
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.11.2009
Anhängig
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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06.10.2010
Vorrichtung zum Nachweis von Photonen eines Lichtstrahls
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Status
Angemeldet am 02.04.2004
Erteilt am 06.10.2010
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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21.07.2010
Laser-Mikrodissektionsgerät
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07.07.2010
Anordnung zum Untersuchen von Mikroskopischen und Makroskopischen Präparaten
EP2203774
Optik & Fototechnik
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19.05.2010
Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung einer mit einer Substanz markierten Struktur einer Probe
EP2187212
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.11.2009
Anhängig
Vertretung
Maisch, Thomas · Heidelberg
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
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05.05.2010
Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe in einem Lasermikroskop
EP2181350
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.08.2008
Anhängig
Vertretung
Müller, Eckhard · Hünfelden-Dauborn
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
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28.04.2010
Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung
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Status
Angemeldet am 01.06.2001
Erteilt am 28.04.2010
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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10.02.2010
Hubtisch
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28.10.2009
Beleuchtungseinrichtung
EP2045641
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2001
Anhängig
Vertretung
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30.09.2009
Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop
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Status
Angemeldet am 08.06.2001
Erteilt am 30.09.2009
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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12.08.2009
Optische Anordnung und Verfahren zum Steuern und Beeinflussen eines Lichtstrahls
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01.07.2009
Verfahren und Anordnung zur Optischen Vermessung des Oberflächenprofils von Objekten
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03.06.2009
Verfahren zur Untersuchung eines Objekts mit einem Mikroskop und ein Mikroskop
EP2064578
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.08.2007
Anhängig
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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27.05.2009
Verfahren und Mikroskopiersystem zum Scannen einer Probe
EP2062084
Optik & Fototechnik
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08.04.2009
Scanmikroskop
EP2045642
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2001
Anhängig
Vertretung
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01.04.2009
Mikroskop mit Evaneszenter Probenbeleuchtung
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Status
Angemeldet am 23.09.2004
Erteilt am 01.04.2009
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Stamer, Harald · Wetzlar
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18.02.2009
Beleuchtungsmodul zur Evaneszenten Beleuchtung und Mikroskop
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Status
Angemeldet am 22.09.2004
Erteilt am 18.02.2009
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Stamer, Harald · Wetzlar
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18.02.2009
Verfahren zum Speichern der Koordinaten zu beleuchtender Bereiche einer Probe in der Mikroskopie
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04.02.2009
Mikroskop mit Evaneszenter Beleuchtung
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Status
Angemeldet am 23.09.2004
Erteilt am 04.02.2009
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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03.12.2008
Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von durchsichtigen Filmen
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Status
Angemeldet am 17.10.2000
Erteilt am 03.12.2008
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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26.11.2008
Rastermikroskop mit Evaneszenter Beleuchtung
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Status
Angemeldet am 23.09.2004
Erteilt am 26.11.2008
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Naumann, Ulrich · Heidelberg
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05.11.2008
Beleuchtungseinrichtung und Koordinaten-Messgerät mit einer Beleuchtungseinrichtung
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Status
Angemeldet am 20.06.2001
Erteilt am 05.11.2008
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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29.10.2008
Mikroskopobjektiv mit motorisch verschiebbaren Linsen, Mikroskop und Verfahren zum Abbilden einer Probe
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Status
Angemeldet am 06.11.2002
Erteilt am 29.10.2008
Vertretung
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10.09.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Strahljustage in einem optischen Strahlengang
EP1967887
Optik & Fototechnik
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03.09.2008
Anordnung zum Untersuchen mikroskopischer Präparate mit einem Scanmikroskop und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
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Status
Angemeldet am 01.06.2001
Erteilt am 03.09.2008
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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03.09.2008
Scanmikroskop
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Status
Angemeldet am 09.06.2001
Erteilt am 03.09.2008
Vertretung
Schaumburg, Karl-Heinz · München
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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03.09.2008
Beleuchtungseinrichtung
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Status
Angemeldet am 15.06.2001
Erteilt am 03.09.2008
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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21.08.2008
Mikroskop zur Herkömmlichen Fluoreszenzmikroskopie und zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie
WO2008098875
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.02.2008
Anhängig
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30.07.2008
Objektiv und Mikroskop
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18.06.2008
Vorrichtung zur Strahlablenkung
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Status
Angemeldet am 09.11.2000
Erteilt am 18.06.2008
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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18.06.2008
Sicherheitsvorrichtung für Mikroskope mit einem Laserstrahl als Beleuchtungsquelle
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Status
Angemeldet am 06.12.2001
Erteilt am 18.06.2008
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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18.06.2008
Verfahren und Vorrichtung zur Optischen Untersuchung eines Objektes
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Status
Angemeldet am 10.09.2002
Erteilt am 18.06.2008
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Hössle Patentanwälte Partnerschaft · Stuttgart
Hössle Kudlek & Partner · Stuttgart
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11.06.2008
Photosensor-Chip, Laser-Mikroskop mit Photosensor-Chip und Verfahren zum Auslesen eines Photosensor-Chips
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11.06.2008
Detektor mit Mikrolinsen-Anordnung
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Status
Angemeldet am 21.01.2006
Anhängig
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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02.05.2008
Mikroskop, insbesondere ein Polarisations- Und/oder ein Fluoreszenzmikroskop
WO2008049697
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.09.2007
Anhängig
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13.02.2008
Verfahren zur Verzerrungskorrektur von Multifokus-Bilderstapeln
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Status
Angemeldet am 10.11.2003
Erteilt am 13.02.2008
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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