Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
949
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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949 gesamt| Patent | |||
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22.04.2020
Beleuchtungsanordnung für ein Lichtblatt-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.08.2016
Erteilt am 22.04.2020
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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15.04.2020
Einrichtung und Verfahren zum Beleuchten einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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08.04.2020
Verstellbarer Mechanischer Halter zur Feinjustage der Position eines Elements Wie einer Linse
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2019
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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01.04.2020
Verfahren und Anordnung zur Beleuchtung einer Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2012
Erteilt am 01.04.2020
Vertretung
Müller, Eckhard · Hünfelden-Dauborn
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01.04.2020
Verfahren zur Auswertung eines Einzelphotonen-Detektorsignals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.09.2019
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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19.03.2020
Deconvolution apparatus and method using a local signal-to-noise ratio
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.01.2019
Anhängig
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18.03.2020
Fluoreszenzlebensdauer-Mikroskopieverfahren mit Zeitkorrelierter Einzelphotonenzählung Welches Höhere Lichtintensitäten Zulässt, und Entsprechende Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2017
Erteilt am 18.03.2020
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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04.03.2020
Mikroskop und Mikroskopbeleuchtungsverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2018
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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19.02.2020
Lichtblattmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2018
Anhängig
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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13.02.2020
Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.07.2019
Anhängig
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05.02.2020
Programmierbare Mikroskopsteuerungseinheit mit Frei Verwendbaren Anschlüssen, Mikroskopsystem mit einer Mikroskopsteuerungseinheit und Verfahren zum Betrieb einer Mikroskopsteuerungseinheit
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.04.2018
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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15.01.2020
Optische Anordnung und ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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01.01.2020
Bildverarbeitungsvorrichtung und Verfahren zur Verbesserung einer Phasenverteilung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.06.2019
Anhängig
Vertretung
Maiwald GmbH · München
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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11.12.2019
Weitfeld-Mikroskop-Beleuchtungssystem und Weitfeld-Beleuchtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2012
Erteilt am 11.12.2019
Vertretung
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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27.11.2019
Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Licht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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20.11.2019
Vorrichtung, Mikroskop mit Vorrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Photosensor-Chips
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 03.01.2007
Erteilt am 20.11.2019
Vertretung
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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06.11.2019
Strahlvereiniger und eine Lichtquelle mit einem Derartigen Strahlvereiniger
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2008
Erteilt am 06.11.2019
Vertretung
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30.10.2019
Halterung für einen Objektträger, Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2017
Anhängig
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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16.10.2019
Verfahren zum Einstellen der Intensität eines Lichtstrahls in einer Optischen Anordnung und Zugehörige Optische Anordnung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.05.2017
Erteilt am 16.10.2019
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03.10.2019
Optisches System mit Verkippter Beleuchtungsebene und Verfahren zum Beleuchten eines Probenvolumens in einem Optischen System mit Verkippter Beleuchtungsebene
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.03.2019
Anhängig
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18.09.2019
Beleuchtungsanordnung und Verfahren für die Beleuchtung in einem Mikroskop und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.11.2017
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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04.09.2019
Vorrichtung zur Lichtdetektion in einem Scanmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2008
Erteilt am 04.09.2019
Vertretung
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04.09.2019
Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2012
Erteilt am 04.09.2019
Vertretung
Grunert, Marcus · München
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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28.08.2019
Mikroskop mit Autofokuseinrichtung und Verfahren zur Autofokussierung bei Mikroskopen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.02.2012
Erteilt am 28.08.2019
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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21.08.2019
SPIM-Mikroskop mit sequenziellem Lightsheet
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.10.2011
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
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14.08.2019
Verfahren zum Trennen von Detektionssignalen im Strahlengang einer optischen Einrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2011
Erteilt am 14.08.2019
Vertretung
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Zusammenfassung
Ein Verfahren zum Trennen von Detektionssignalen im Strahlengang einer optischen Einrichtung, wobei unterschiedliche Signale in definierter zeitlicher Folge entstehen, ist dadurch gekennzeichnet, dass auf Grundlage der bekannten oder ermittelbaren/feststellbaren zeitlichen Folge eine Unterdrückung oder Separierung von Signalen erfolgt. |
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07.08.2019
Modellaugenentwurf zur Kalibrierung von Abbildungssystemen sowie Zugehörige Verfahren, Systeme und Vorrichtungen
Medizintechnik & Gesundheit
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 28.12.2018
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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17.07.2019
Scanmikroskop und Akustooptischer Hauptstrahlteiler für ein Scanmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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03.07.2019
Verfahren zur Bildgebung in einem Mikroskop mit Schiefer Beleuchtung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 17.08.2017
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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27.06.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Fokusjustage Bzw. zur Bestimmung der Brechzahl eines Probenmediums, Nichtflüchtiges Computerlesbares Speichermedium und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2018
Anhängig
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13.06.2019
Mikroskopsystem, Detektionseinheit für Mikroskopsystem und Verfahren zur Mikroskopischen Abbildung einer Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.11.2018
Anhängig
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13.06.2019
Farbstrahlteileranordnung, Mikroskopsystem und Verfahren zur Mikroskopischen Abbildung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.11.2018
Anhängig
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13.06.2019
Detektoranordnung für die Mikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2018
Anhängig
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12.06.2019
Mikroskop, insbesondere Lichtscheiben- oder Konfokalmikroskop und Nachrüstsatz für ein Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2017
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.06.2019
Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung einer Zellsuspension
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.11.2018
Anhängig
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01.05.2019
Beschichtungsanlage mit einer Funkvorrichtung und einem Messgerät
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 26.11.2007
Erteilt am 01.05.2019
Vertretung
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01.05.2019
Mikroskopbeleuchtungseinrichtung sowie Mikroskop mit einer Derartigen Mikroskopbeleuchtungseinrichtung
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.06.2017
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
m patent group · München
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25.04.2019
Mikroskopieverfahren mit Fokusstabilisierung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.10.2018
Anhängig
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17.04.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.06.2001
Erteilt am 17.04.2019
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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17.04.2019
Verfahren zur räumlich hochauflösenden stochastischen Untersuchung einer mit einer Substanz markierten Struktur einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.12.2009
Erteilt am 17.04.2019
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
648
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
314
Software & Datenverarbeitung
159
Medizintechnik & Gesundheit
93
Pharma & Biotechnologie
56
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
26
Verfahrens- & Trenntechnik
19
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14
Maschinenelemente & Fluidtechnik
9
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
5
Steuerungs- & Regelungstechnik
4
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
4