Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
688 gesamt| Patent | |||
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24.10.2012
Formmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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19.09.2012
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.12.2010
Erteilt am 19.09.2012
Vertretung
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22.08.2012
Kontaktmessvorrichtung für Oberflächenstrukturen umfassend Mitteln für die Schätzung der Aussnutzung des Stiftes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2011
Erteilt am 22.08.2012
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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25.07.2012
Industriemaschine
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.06.2011
Erteilt am 25.07.2012
Vertretung
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18.07.2012
Matrix von optischen Wegen und Richtungsfilter zur Bestimmung von Translation und Ausrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.07.2012
Messsonde mit einem oder mehreren Stützelementen für ein Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2008
Erteilt am 18.07.2012
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.07.2012
Mikrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.04.2011
Erteilt am 18.07.2012
Vertretung
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18.07.2012
Wegmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.04.2011
Erteilt am 18.07.2012
Vertretung
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20.06.2012
Verschiebungsdetektor, Verschiebungsdetektionsverfahren und Computerprogrammprodukt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.07.2010
Erteilt am 20.06.2012
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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30.05.2012
Verfahren zum Vermessen verdeckter Merkmale für hochpräzise Machine-Vision-Messtechnik
Software & Datenverarbeitung
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16.05.2012
Formmessvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.04.2009
Erteilt am 16.05.2012
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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18.04.2012
Steuervorrichtung
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Angemeldet am 01.12.2005
Erteilt am 18.04.2012
Vertretung
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14.03.2012
System und Verfahren zur Programmierung von unterbrechenden Operationen während der Erfassungs von Sequenzen von sich bewegenden Bildern
Software & Datenverarbeitung
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29.02.2012
Schieblehre und Griff
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.01.2002
Erteilt am 29.02.2012
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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29.02.2012
Vorrichtung zur Messung der Oberflächentextur und Vorrichtung zum Messen der Rundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2010
Erteilt am 29.02.2012
Vertretung
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01.02.2012
Laserbearbeitungsvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 14.05.2009
Erteilt am 01.02.2012
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.01.2012
Vakuumabsaugungsbefestigter Werkzeugständer
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2005
Erteilt am 18.01.2012
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.01.2012
Glasfasermagnetfeldsensor und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.01.2011
Erteilt am 18.01.2012
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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11.01.2012
Optischer Verschiebungsfühler mit verringter Empfindlichkeit für Fehlausrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2003
Erteilt am 11.01.2012
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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28.12.2011
Optisches Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2008
Erteilt am 28.12.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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23.11.2011
Konfiguration der Öffnung eines chromatischen Sensors für konfokale Punkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.05.2011
Anhängig
Vertretung
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16.11.2011
Laserreflektor
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.03.2011
Anhängig
Vertretung
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02.11.2011
Anordnung und Verfahren zum Ausschliessen von Fremdmerkmalen aus bildgesteuerten Inspektionsoperationen
Software & Datenverarbeitung
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02.11.2011
Frequenzstabilisierte Laservorrichtung, Laserfrequenzstabilisierungsverfahren und Laserfrequenzstabilisierungsprogramm
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.11.2008
Erteilt am 02.11.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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02.11.2011
Optischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.10.2011
Verfahren zum Finden des Korrelationsmaximums zum Feststellen einer Verschiebung durch Bildkorrelation
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.10.2007
Erteilt am 05.10.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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07.09.2011
Kodierer mit absoluter Positionslängenmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2008
Erteilt am 07.09.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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10.08.2011
Referenzeinrichtung für ein Rundheitmesssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2004
Erteilt am 10.08.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.08.2011
Selbstnachführendes Laserinterferometer und Verfahren zur seiner Rücksetzung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.06.2008
Erteilt am 03.08.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.08.2011
Optisches Verschiebungsmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2009
Erteilt am 03.08.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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27.07.2011
Verfahren und Vorrichtung zum Steuern des Tasters eines Profilmessgeräts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.01.2008
Erteilt am 27.07.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.07.2011
Absolutpositionscodierer vom Längsmessungstyp
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.04.2009
Anhängig
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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06.07.2011
Abtastgerät für Oberflächen und Verfahren zur Bereitstellung einer Kompensationstabelle für Abtastungssonden
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.11.2004
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.07.2011
Taststiftbeobachtungsgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.07.2011
Photoelektrischer Codierer vom Absolutpositionsdetektionstyp
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.07.2011
Digitales Weglängenmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2009
Erteilt am 06.07.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.07.2011
Optisches Messgerät und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.04.2010
Erteilt am 06.07.2011
Vertretung
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29.06.2011
Interferometer mit Polarisationsmodulation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.06.2011
Verfahren und Vorrichtung für berührungslose dreidimensionale Oberflächenmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2004
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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01.06.2011
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Angemeldet am 18.03.2008
Erteilt am 01.06.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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