Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
688 gesamt| Patent | |||
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25.09.2013
Optisches Wegmesssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2010
Erteilt am 25.09.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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04.09.2013
Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.07.2006
Erteilt am 04.09.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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29.08.2013
Method for identifying abnormal spectral profiles measured by a chromatic confocal range sensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2013
Anhängig
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21.08.2013
Interferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.11.2008
Erteilt am 21.08.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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21.08.2013
Verfahren zur Schätzung der Entfernung zwischen einem selbstnachführenden Laserinteferometer und dem Ziel, und selbstnachführendes Laserinterferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.02.2009
Erteilt am 21.08.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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21.08.2013
Optischer Stift mit chromatischem konfokalem Punktsensor mit erweitertem Messbereich
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2012
Erteilt am 21.08.2013
Vertretung
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31.07.2013
Verschiebungsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2005
Erteilt am 31.07.2013
Vertretung
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31.07.2013
Einrichtung zum Nachführen eines Laserstrahl-Interferometers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2006
Erteilt am 31.07.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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10.07.2013
Bildmessvorrichtung, Bildmessverfahren und Bildmessprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 19.05.2006
Erteilt am 10.07.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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10.07.2013
Formmessinstrument sowie Kalibrierverfahren und Kalibrierprogramm dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.05.2010
Erteilt am 10.07.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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27.06.2013
Points from focus operations using multiple light settings in a machine vision system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.12.2012
Anhängig
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19.06.2013
Fiberoptisch-gekoppelter interferometrischer Verschiebungssensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2004
Erteilt am 19.06.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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19.06.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Versatzes mittels Interferometrie mit mehreren Wellenlängen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2009
Erteilt am 19.06.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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19.06.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Abstands mittels Lichtwelleninterferometrie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2009
Erteilt am 19.06.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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19.06.2013
Vorrichtung und Methode zur Bestimmung des Höhenprofils einer Oberfläche anhand interferometrischer und nicht-interferometrischer Messungen.
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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12.06.2013
Fotoelektrischer Drehkodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.06.2013
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.07.2010
Erteilt am 05.06.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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29.05.2013
Laserinterferometer mit Nachverfolgung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.04.2010
Erteilt am 29.05.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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15.05.2013
Phasenverschiebungsinterferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2006
Erteilt am 15.05.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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08.05.2013
Verfahren zur Messung der Sondengeradheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2009
Erteilt am 08.05.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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01.05.2013
Optischer Kodierer und Kollimatorlinse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2007
Erteilt am 01.05.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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24.04.2013
Monolitischer Quadraturdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2005
Erteilt am 24.04.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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24.04.2013
Optisches Linsensystem und Verfahren zur Unterdrückung der Brennweitenschwankungen eines optischen Linsensystems
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.06.2007
Erteilt am 24.04.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.04.2013
Profilmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.07.2011
Erteilt am 03.04.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Zusammenfassung
A coordinate measuring machine includes a probe having a measurement unit, a movement mechanism for moving the probe and a host computer (5) for controlling the movement mechanism. The host computer (5) includes: a compensation-amount calculating unit (532) for calculating a compensation amount for compensating an error in the position of the measurement unit caused by the movement of the probe; and a compensator (533) for compensating the error in the position of the measurement unit based on the compensation amount calculated by the compensation-amount calculating unit (532). The compensation-amount calculating unit (532) calculates a translation-compensation amount for compensating a translation error of the probe and a rotation-compensation amount for compensating a rotation error of the probe based on a rotation frequency of the movement of the probe. |
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03.04.2013
Profilmessvorrichtung, Verfahren zur Profilmessung und Profilmessprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.05.2009
Erteilt am 03.04.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.03.2013
Absolute Entfernung messendes Interferometer mit fester Wellenlänge
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.08.2011
Erteilt am 27.03.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Zusammenfassung
A fixed wavelength absolute distance interferometer including a first interferometer comprising a first light source transmitting a first light beam having a wavelength W toward a measurement target, a wavefront radius detector configured to provide a first measurement responsive to the wavefront radius at the wavefront radius detector, and a first path length calculating portion calculating a coarse resolution absolute path length measurement R; and a second interferometer comprising a beam transmitting device transmitting a second-interferometer light beam having a wavelength A, a beam splitting/combining device separating the second-interferometer light beam into reference and measurement beams and combining the returning reference and measurement beams into a combined beam, a second-interferometer detector configured to receive the combined beam and provide signals of a phase Õ of the combined beam, and a second path length calculating portion configured to determine a medium resolution absolute path length measurement Z M . |
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27.03.2013
Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2004
Erteilt am 27.03.2013
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.03.2013
Formmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.08.2011
Erteilt am 27.03.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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06.03.2013
Lasermessgerätinterferometer mit Nachverfolgung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2010
Erteilt am 06.03.2013
Vertretung
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27.02.2013
Bildmessungsgerät und Bildmessungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.08.2012
Anhängig
Vertretung
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20.02.2013
Hebeldetektor, Stift und automatische Stiftauswechselung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.12.2010
Erteilt am 20.02.2013
Vertretung
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13.02.2013
Stromkreis und Verfahren zum Betreiben eines Messinstruments
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.12.2008
Erteilt am 13.02.2013
Vertretung
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23.01.2013
Konfiguration zur Erzeugung eines Referenzsignals für ein interferometrisches Miniatur-Rasterungskodiergerät mithilfe von Glasfaserempfangskanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.12.2010
Erteilt am 23.01.2013
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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23.01.2013
Stiftabriebserkennungsverfahren und Vorrichtung zur Messung der Oberflächeneigenschaft
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.07.2011
Erteilt am 23.01.2013
Vertretung
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09.01.2013
Bildmessvorrichtung, Programm und Lehrmethode der Bildmessvorrichtung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.05.2011
Erteilt am 09.01.2013
Vertretung
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26.12.2012
Absoluter Positionscodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2008
Erteilt am 26.12.2012
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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26.12.2012
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2011
Erteilt am 26.12.2012
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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05.12.2012
Laser-Interferometer mit optischer Achsenpolarisierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.02.2008
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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31.10.2012
Kreisförmigkeitsmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2010
Erteilt am 31.10.2012
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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24.10.2012
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2011
Erteilt am 24.10.2012
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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