Nikon Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.320 gesamt| Patent | |||
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07.05.2003
Hydrostatisches Gaslager
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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26.03.2003
Untersuchungsvorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen und Verfahren zur Herstellung eines Bauelements mit Dieser Untersuchungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.06.2001
Anhängig
Vertretung
Wagner, Karl H · München
Wagner, Karl H., Dipl.-Ing · München
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26.03.2003
Polygonreflektor und dessen Verwendung in einem Optischen Beleuchtungssystem und in einer Halbleiterbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
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12.03.2003
Gehäuse für ein Interferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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12.03.2003
Multischicht-Spiegel für das ferne UV, und Hertellungsverfahren für solche Spiegel mit verringerten Aberration
Kunststoff- & Polymertechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.08.2002
Anhängig
Vertretung
Meddle, Alan L · München
Meddle, Alan Leonard · München
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05.02.2003
Therapeutische Laservorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 09.04.2001
Anhängig
Vertretung
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05.02.2003
Mehrschicht beschichtete reflektierende Spiegel für röngtenoptische Systeme und Herstellungsverfahren dafür
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2002
Anhängig
Vertretung
Meddle, Alan L · München
Meddle, Alan Leonard · München
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29.01.2003
Verfahren und Einrichtung zum Halten eines Optischen Gliedes, Optische Einrichtung, Belichtungsvorrichtung und Bauelementeherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2003
Methode und Instrument zur Wafer-Inspektion und Elektronenstrahlgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2001
Anhängig
Vertretung
Wagner, Karl H · München
Wagner, Karl H., Dipl.-Ing · München
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02.01.2003
Elektronenstrahlgerät und Verfahren zur Herstellung von Bauteilen mittels Solchem Gerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2001
Anhängig
Vertretung
Wagner, Karl H · München
Wagner, Karl H., Dipl.-Ing · München
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02.01.2003
Elektronenstrahlgerät und Verfahren zur Herstellung von Halbleiter Vorrichtungen mittels eines Solchen Gerätes.
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2001
Anhängig
Vertretung
Wagner, Karl H · München
Wagner, Karl H., Dipl.-Ing · München
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11.12.2002
Optisches Element für Photolithographie und photolithographischer Apparat
Optik & Fototechnik
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11.12.2002
Elektronische Kamera
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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11.12.2002
Röntgenprojektionsbelichtungssystem, Röntgen-Projektionsbelichtungs-Verfahren und Halbleiterbauelement
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.12.2001
Anhängig
Vertretung
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27.11.2002
Verfahren zur Herstellung eines Films aus Verbundmaterial mit Gasbildendem Element
Metallurgie & Oberflächentechnik
Optik & Fototechnik
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27.11.2002
Elektronenstrahleinrichtung und Diese Verwendendes Halbleiterbausteinherstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2001
Anhängig
Vertretung
Wagner, Karl H · München
Wagner, Karl H., Dipl.-Ing · München
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06.11.2002
Monitor, Überwachungsmethode, Poliermaschine, und Herstellungsmethode für eine Halbleiterscheibe
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2000
Anhängig
Vertretung
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30.10.2002
Formmessungsvorrichtung für eine Halbleiterplakette
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.10.2002
Belichtungsmethode und Belichtungsapparat
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.09.2002
Linsenaufbau für Elektronenstrahlsaüle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.03.2002
Anhängig
Vertretung
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03.07.2002
Positionsdetektierungsverfahren, Positionssensor, Beleuchtungsvorrichtung und -Verfahren, Vorrichtung und Verfahren zu dessen Fabrikation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.05.2002
Synthetisches Quarzglasselement, Photolithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung des Photolithographischen Apparates.
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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02.05.2002
Belichtungsverfahren und Belichtungsapparat
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 31.10.2000
Anhängig
Vertretung
Behm, Sonja Marianne · München
Bergstrand, Mikael Gudmundsson · Stockholm
Harrison, Michael Charles · München
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02.05.2002
Ausbildungs- / Weitrbildungs-Verwaltungssystem, Ausbildungsverwaltungscomputer, Schüler-Terminal, Lehrer-Terminal, Ausbildungs- / Weiterbildungs-Verwaltungsmethode
Software & Datenverarbeitung
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2000
Anhängig
Vertretung
WP Thompson · Liverpool
W.P. Thompson & Co · Liverpool
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10.04.2002
Methode und Apparat für die Detektion von Markierungen, Belichtungsmethode und -Apparat, Produktionsmethode für eine Anordnung und die Anordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.06.2000
Anhängig
Vertretung
WP Thompson · Liverpool
W.P. Thompson & Co · Liverpool
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27.03.2002
Halter und Belichtungsapparat
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.03.2002
Reflektiv-Refraktives Optisches System und dessen Verwendung in einer Projektionsbelichtungsanlage
Optik & Fototechnik
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06.03.2002
Muster Vergleichsmethode und Apparat, Lageerkennungsmethode und Apparat, Lage Justagemethode und Apparat und Apparat und Seine Herstellung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.01.2000
Anhängig
Vertretung
WP Thompson · Liverpool
W.P. Thompson & Co · Liverpool
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05.12.2001
Verfahren und Vorrichtung zur Extrahierung von Bildeigenschaften, Überwachungs-Und Testsystem, Belichtungssystem und Schnittstellensystem
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 22.11.2000
Anhängig
Vertretung
Volpert, Marcus · München
Kern, Wolfgang · München
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28.11.2001
Fotomaske, Verfahren zu deren Herstellung, Projektionsausrichtungsgeraet sowie Belichtungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.11.2001
Leistungsschaltkreis und Elektronisches Gerät
Software & Datenverarbeitung
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04.10.2001
Lichtquelle und Verfahren zur Wellenlängenstabilisation, Belichtungsgerät und -Verfahren, Verfahren zur Herstellung eines Belichtungsgeräts und Vorrichtungsherstellungsverfahren und Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2001
Projektionsbelichtungsverfahren, Vorrichtung und Optisches Projektionssystem
Optik & Fototechnik
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22.08.2001
Belichtungsverfahren und Belichtungsapparat
Optik & Fototechnik
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08.08.2001
Belichtungsverfahren und -vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Belichtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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11.07.2001
Quartzglas-Element, Verfahren zur Herstellung und Projektionsausrichteinrichtung, das Dieses Verwendet
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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14.03.2001
Optisches Bauelement, Verfahren zu seiner Herstellung und ein dieses verwendendes optisches Gerät
Optik & Fototechnik
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07.03.2001
Optisches Element aus Synthetischem Quarzglass für Uv-Licht und Einrichtung zur Verringerung der Belichtung, das Dieses Benutzt
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2000
Anhängig
Vertretung
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17.01.2001
Verfahren und Vorrichtumg zur Herstellung von Quartz-Glas
Anorganische Chemie & Werkstoffe
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27.12.2000
Quartzglasteil
Anorganische Chemie & Werkstoffe
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Wer vertritt Nikon?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Nikon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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