Advanced Micro Devices Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
1.708
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.708 gesamt| Patent | |||
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03.09.2003
Flashspeicherarchitektur unter Verwendung von Drei Metalschichtenverbindung
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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27.08.2003
Redundante Doppelbank-Architektur für einen Simultanen Flash-Speicher
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.10.2000
Erteilt am 27.08.2003
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
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27.08.2003
Pegelverschieber für Extrem Niedrige Speisespannungen
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.02.2001
Erteilt am 27.08.2003
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
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27.08.2003
Verringerte Kanaldotierung mit Quellenseiten-Bor-Implantat für eine Tiefe Sub-0,18-Mikrometer-Flash-Speicherzelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.08.2003
Partielle Seitenprogrammierung eines Flash Halbleitermehrpegelspeichers
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 05.02.2003
Anhängig
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20.08.2003
System und Verfahren zur Durchfürung von einem Mehrstufigen Unterbrechungsschema in einem Rechnersystem
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.08.2001
Anhängig
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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20.08.2003
Hellfeld-Bildumkehrung zur Erzeugung eines Kontaktloches
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.08.2003
Asf state determination using chipset-resident watchdog timer
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.12.2002
Anhängig
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13.08.2003
Halbleitervorrichtung mit Reduzierter Kapazität zwischen Leiterbahnen und Reduziertem Übersprechen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2001
Anhängig
Vertretung
Schuster, Thomas · München
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.08.2003
Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Externen Speichers mit einer Eingebautem Selbsttest
Software & Datenverarbeitung
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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31.07.2003
Anordnung und Verfahren zur Programmierung von Ono-Doppelbitspeicherzellen
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 17.12.2002
Anhängig
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31.07.2003
Sourceseitiges Ausleseverfahren für Lesen von Flash-Eprom-Matrix mit Virtueller Masse und mit Benachbarter Bitvorladung
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 17.12.2002
Anhängig
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24.07.2003
Automatisches Herstellungssystem
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.10.2002
Anhängig
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24.07.2003
Advanced process control (apc) of copper thickness for chemical mechanical planarization(cmp) optimization
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.09.2002
Anhängig
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23.07.2003
Fehlerkorrekturschaltung und Verfahren in einer Speichereinrichtung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.05.2000
Erteilt am 23.07.2003
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
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17.07.2003
Herstellung eines Gatestapels aus Dielektrika Hoher Permittivität mit Nitridierten Schichten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.12.2002
Anhängig
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17.07.2003
System for measuring multi-axis pressure gradients in a semiconductor during a polishing process
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2002
Anhängig
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16.07.2003
Siliziumoxidschicht für Reduzierten Brückenfehler von Nickelsilizide
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.07.2003
Vituelle Kanäle und Entsprechende Pufferzuweisungen für einen Blockierungfreien Rechnersystem -Betrieb
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.05.2000
Erteilt am 09.07.2003
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
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03.07.2003
Soi device with different silicon thicknesses
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2002
Anhängig
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03.07.2003
Halbleitervorrichtung mit einer Dünnen Siliziumoxidschicht und Herstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2002
Anhängig
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26.06.2003
Method and apparatus for controlling photolithography overlay registration incorporating feedforward overlay information
Optik & Fototechnik
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26.06.2003
Opferschichteinlageverfahren zur Verbesserten Integration von Porösen Zwischendielektrika
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.12.2002
Anhängig
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26.06.2003
Herstellung einer Verdrahtung mittels eines Porösen Dielektrikums und Resultierende Strukturen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.12.2002
Anhängig
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26.06.2003
Method for improving electromigration performance of metallization features through multiple depositions of binary alloys
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.12.2002
Anhängig
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19.06.2003
System and method for handling device accesses to a memory providing increased memory access security
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.09.2002
Anhängig
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19.06.2003
System und Verfahren zur Verringerung der Photooxidation von Photoresist Material in der 193 Nm Photolithographie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2002
Anhängig
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18.06.2003
Wortleitungssignale einer Flashspeicher Bleiben Überall auf dem Chip Verlustfrei
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 29.09.2000
Erteilt am 18.06.2003
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
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18.06.2003
Ausbesserung von Lochdefekten durch Erweichung des Photoresists
Optik & Fototechnik
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11.06.2003
Herstellung einer Selbstjustierten Passivierung für eine Verbindungsstruktur mit Verminderter Elektromigration
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.06.2003
Cachespeicher zum Bereitstellen von Partiellen Etiketten aus Nicht-Vorhergesagten Wegen um die Suche bei Wegvorhersagefehlgriffen zu Leiten
Software & Datenverarbeitung
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04.06.2003
Verfahren zum Markieren eines Elementes mit einem Grunen Laser
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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30.05.2003
Methode und Vorrichtung zur Verwendung Integrierter Metrologie als Vorkopplungsdaten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.09.2002
Anhängig
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22.05.2003
Bevorzugte Eckenrundung von Grabenstrukturen mittels Oxidation nach Füllung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.09.2002
Anhängig
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21.05.2003
Superkritisches Trocknen von Materialien mit Niedriger Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.06.2001
Anhängig
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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15.05.2003
Spannungsprogrammierbare Leistungssenke
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2002
Anhängig
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15.05.2003
Vorwärtssteuerung der Temperatur eines Testobjektes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2002
Anhängig
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15.05.2003
Zweistufiges Ätzverfahren zur Entfernung einer Hartmaske
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.11.2002
Anhängig
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14.05.2003
Kupfer-Verbindungsleitungen mit Verbessertem Elektromigrations-Verhalten und Geringem Widerstand
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.04.2001
Anhängig
Vertretung
Sanders, Peter Colin Christopher · London
Brookes IP · Tunbridge Wells
Brookes Batchellor LLP · London
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14.05.2003
System und Verfahren zum Synchronisieren eines Sprungmusters und zum Initialisieren einer Taktweiterleitungsschnittstelle in einem Mehrfachtaktsystem
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
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Wer vertritt Advanced Micro Devices?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advanced Micro Devices vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Software & Datenverarbeitung
1.044
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
407
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
149
Akustik, Musik & Datenspeicherung
146
Elektronik & Schaltungstechnik
51
Optik & Fototechnik
41
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30
Steuerungs- & Regelungstechnik
25
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
20
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
7
Metallurgie & Oberflächentechnik
6
Elektrische Energietechnik
5