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Advanced Micro Devices Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

1.708
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.708 gesamt
Patent
07.05.2003
System und Verfahren zur Initialisierung von Serieller Datenübertragung zwischen Zwei Taktbereichen
Software & Datenverarbeitung
07.05.2003
Vorsätzliche Lücke in Füllender Dielektrischer Zwischenschicht zur Reduzierung der Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2003
Kapazitiv Gekoppelter Dtmos auf Soi für Mehrere Bauelemente
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2003
Ein neuartiger kapazitif gekoppelter DTMOS auf SOI-Substrat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2003
Verfahren für ein Entfernbares Zwischenschichtdielektrikum mit Niedriger Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2003
Verfahren und System zum Entfernen von Staub und Rauch in Lasermarkiermaschinen
Verfahrens- & Trenntechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
07.05.2003
Automatisierte Bestimmung und Anzeige der Physischen Lage einer Fehlerhaften Zelle in einer Speicherzellenmatrix
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.05.2003
Schnellschaltender Eingangspuffer
Elektronik & Schaltungstechnik
24.04.2003
Gerät und Verfahren zum Zuteiln von Pufferraum
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.04.2003
Diodenschaltelemente Verwendender Silizium-Auf-Isolator Logikschaltkreis
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
23.04.2003
Thermische Schutzschaltung für Hochleistungsstromversorgungen
Elektrische Energietechnik
23.04.2003
Reduzierung der Abweichungen der Kritischen Grösse in der Herstellung von der Gate-Elektrode eines Transistors durch Rückkopplungskontrolle der Ätzzeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.04.2003
Methode und Apparat zur Endkontrolle der Kritischen Dimensionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2003
Methode zur Erkennung von Anomalien in Halbleiterfertigungsprozessen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2003
System und Verfahren für die Prozessüberwachung eines Ätzprozesses für Polysilizium
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2003
Halbleiterbauelement mit Entfernbarem Spacer und Liner unter Verwendung von Material mit Hohem K-Wert und Herstellungsmethode
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2003
Methode und Apparat zur Modellierung des Dickenprofiles und Kontrolle Nachfolgender Ätzverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.04.2003
Verfahren und Gerät zur Routenwahl von Paketen mit mehreren Zieladressen
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
10.04.2003
Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit einem Schmäleren Abstand als der Lithographischer Auflösung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.04.2003
Non volatile memory cell structure using multilevel trapping dielectric
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.04.2003
Minimierung der Verwendung von Busbefehlcodezeichen zur Anforderung des Startens und des Endes einer Verriegelung
Software & Datenverarbeitung
09.04.2003
Lastplattenführungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2003
Thermal head for maintaining a constant temperature of a dut
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.04.2003
Methode und Apparat zur Rück- und Vorwärtskopplkontrolle mittels Verteilungsmetrik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2003
Wafer based temperature sensors for characterizing chemical mechanical polishing processes
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
26.03.2003
Entwurf einer Ic-Prüfvorrichtung mit Temperaturregelung für Minimierten Unterhalt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.03.2003
Mit O-Ring Abgedichteter Ofentauglicher Träger
Verpackungs- & Fördertechnik
26.03.2003
Automatischer Schutz Integrierter Schaltungen vor Überspannungsschäden durch Unerwünschte Gleichstrom-Transienten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.03.2003
Verfahren zur Kontrolle einer Wannenleckage bei Grabenisolationen Verschiedener Tiefen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2003
System zum Gleichmässigen Erwärmen einer Photoresistschicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.03.2003
Mechanische Spannvorrichtung für ein Erwärmtes Substrat an der Chipbefestigungsstelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.03.2003
Träger für Kugelbefestigung in einem Herstellungsverfahren und Verfahren zur Herstellung von einer Sicheren Flip-Chip Anordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.03.2003
Vorrichtung mit Phasenschieber zur Fokusüberwachung unter Verwendung des Moire-Effekts
Optik & Fototechnik
13.03.2003
Verbessertes Verfahren zur Herstellung eines Dielektrikums mit Hohen K-Wert durch Nickelsilizid
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2003
Lotkugel und Drahtbonden mittels Infrarotheizung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2003
Abscheideparameter-Kontrollmethode und Apparat basierend auf Polysiliziumkorngrössen-Rückkopplung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2003
Verfahren und Gerät zur Verbindung eines Statistischen Prozesssteuerungsystems mit einem Herstellungsprozesssteuerungsystem
Steuerungs- & Regelungstechnik
05.03.2003
Schaltungsausführung zur Reduzierung des Bitleitungslekcstroms bei Programmierungs-Und Überlöschungskorrekturmodus in einem Flash-Eeprom
Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.02.2003
Rampenförmige oder Stufenweise Gate-Kanal Löschung für Flash-Speicher
Akustik, Musik & Datenspeicherung
19.02.2003
Verfahren zur Ausbildung Qualitativ Hochwertiger Oxidschichten mehrerer Dicken durch Verringerung von Descuminduzierten Defekten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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