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Advanced Micro Devices Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

2.407
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.407 gesamt
Patent
08.08.2002
Konfigurierbare Musterungsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung Integrierter Schaltkreise mit Dieser Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.08.2002
Phasenschiebermaske und Verfahren zu Ihrer Herstellung
Optik & Fototechnik
08.08.2002
Dual-Gate Prozess unter Benutzung einer Selbstassemblierten Molekularen Schicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.08.2002
Verwendung Organischen Füllmaterials in Doppel-Damaszener-Prozess
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.08.2002
Teilweise mit Silizid Versehene Diode und Herstellungsverfahren dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.08.2002
Interpolation-Wiederabtastungsschaltung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.08.2002
A pellicle for use in small wavelength lithography and a method for making such a pellicule
Optik & Fototechnik
01.08.2002
Stepper-Belichtungsdosissteuerung auf Basis von Vorrichtungseigenschaftsvariationen über einen Wafer
Optik & Fototechnik
01.08.2002
System und Methode zur Gleichmässigen Verteilung von Last auf die Verbindungen eines Bündels
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.07.2002
Maske für ein Tragteil für eine Laserschneidvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
25.07.2002
Feldeffekttransistor mit Reduzierter Gate-Verschiebung und Diesbezügliches Herstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.07.2002
Vorrichtung und Verfahren zum Zwischenspeichern von Ausrichtungsinformation
Software & Datenverarbeitung
18.07.2002
Verfahren zum Testen eines Halbleiterwafers durch Mechanisches Belasten eines Chips
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.07.2002
Reservoirvolumen eines Leiters für Interkonnekts in einer Intergrierten Schaltung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.07.2002
Testgerät mit Unabhängiger Steuerung der Prüflinge
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.07.2002
Methode und Apparat für Prioritäts-Basierte Datenfluss-Kontrolle
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
11.07.2002
Temperaturmessungssystem und Methode
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2002
Verhinderung von Niederschlag-Verunreinigungen auf Kupferverbindungen Während Cmp durch Verwendung von Lösungen enthaltend Organische Verbindungen mit Kieselsäureadsorption und Korrosionshemmenden Eigenschaften für Kupfer
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
04.07.2002
Verriegelungsmechanismus für eine Anhängerkupplung
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
04.07.2002
System und Verfahren zur Herstellung von Unterbrechungen in einem Rechnerverarbeitungssystem
Software & Datenverarbeitung
03.07.2002
Laterale Bipolaranordnung mit Hoher Geschwindigkeit im Soi-Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.07.2002
Methode und Apparat zur Chargenkontrolle in einem Chargierten Herstellungsablauf
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.06.2002
Methode und System zur Verbesserung Er Stabilität von Photomasken
Optik & Fototechnik
27.06.2002
In Kontrollierter Weise Getemperter Leiter für Zwischenverbindungen Integrierter Schaltungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.06.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Senkung des Zellen- oder Packetensverkehr über Standardisierten Pc Datenbusse
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.06.2002
Verfahren zur Justierung Einstellwerte eines Kurzzeittempernverfahrens Basiert auf Parameter eines Elektrischen Wafertests
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2002
Damaszen Transistor mit Metallischem Gatter aus Nisi und Hoher Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2002
Imaging layer as hard mask for organic low-k materials
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2002
Two Mask Via Pattern To Improve Pattern Definition
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.05.2002
Verfahren und Einrichtung zur Charakterisierung von Halbleiter-Vorrichtungen
Steuerungs- & Regelungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.05.2002
Methode und Apparat zur Chargenweisen Kontrolle der Deckung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.05.2002
Verfahren zur Herstellung Leitender Verbindungen Worin eine Barriereschicht durch einen Ätzprozess Entfernt Wird
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.05.2002
Amorphisierte Barriereschicht für Zwischenverbindungen Integrierter Schaltungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2002
Verfahren zur Herstellung von Schmalen Strukturen mittels eines Doppel-Damaszener Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Adaptiven Datenrahmenverfolgung
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation
15.05.2002
Verfahren zur Weichen Programmierung von Speicherzellen zur Einengung der Schwellwertspannungsverteilung unter Verwendung von Rampenförmigen Gatesignalen
Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.05.2002
Erdschlussprüfungssystem für Delta-Flex-Manipulator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.05.2002
Phasenschieberanordnung zur Beibehaltung einer Konstanten Linienbreite
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.05.2002
Umkehrbeschichtungsverfahren für Photoresist
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2002
Belichtungsverfahren Während des Nachbesserungsverfahrens für eine Verbesserte Resistentfernung
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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