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Advanced Micro Devices Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

2.407
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.407 gesamt
Patent
25.04.2002
Automatische Transferverhinderung von einer nicht Weichend Ic-Packung
WO0233432
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2002
Neue Methode zur Herstellung des Auswahl-Gates für Erhöhte Zuverlässigkeit und Leistungsfähigkeit in Flash-Speichern vom Nand-Typ
EP1198834
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.04.2002
Virtuell Geerdete Festwertspeicherzellenmatrix
WO0231879
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.04.2002
Vorrichtungen und Verfahren zur Lösung von Integrierten Schaltkreisen aus einem Behälter
WO0232206
Elektronik & Schaltungstechnik
18.04.2002
Umwandlungsplatine für Doppel-Manipulator und Einzelplatz-Gerätschnittstellenplatine
WO0231518
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2002
Phasenschieber - Fotomasken für Dichte Musteranordnungen
EP1194813
Optik & Fototechnik
04.04.2002
Fehlererkennungsmethode und Apparat mit Mehrfachdimensionsmessung
WO0227782
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2002
Verfahren zum Vertiefen von Zwischenverbindungen bei einer Damaszenstrukturierung
WO0225726
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2002
Verfahren zur Herstellung von Leitenden Strukturen unter Vermeidung von Brückenbildung durch Metallkämme
WO0225715
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2002
Verfahren zur Herstellung Leitender Zwischenverbindungen in einer Integrierten Schaltung
WO0225727
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.03.2002
Schleifanordnung und Verfahren zur Echt-Zeit Beobachtung des Schleifprozesses eines Probenquerschnitts
WO0224412
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.03.2002
Integriertes-Schaltungs-Gehäuse mit Versteckten Programmierbaren Elementen
WO0219427
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2002
Selektive Flussmittelsabscheidung
WO0217380
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2002
Gesteuerte und Programierte Flussmittelabscheidung auf einem Flip-Chip durch Spritzen
WO0216068
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
27.02.2002
Herstellungsverfahren eines Niederohmigen Mosfet Gatters mittels Dickem Metallsilizids auf Polysilizium
EP1181711
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2002
Herstellungsverfahren von Hochintegrierten Speicherzellen und Kleinen Abständen durch Anwendung von Nitridspacern
EP1181714
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.02.2002
Burstlesebetrieb mit Wortleitungsspannungserhöhung
WO0215193
Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.02.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Lagedetektion eines Ic-Gehäuses in ein Band-Und-Spule-System
WO0213591
Elektronik & Schaltungstechnik
14.02.2002
Galvanisieren von Mehrfachleitungsplatinen mit einem Steg
WO0213254
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
07.02.2002
Wechseleinheits- und Buchsenanordnungen für Integrierte Schaltungspackungen
WO0211186
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2002
Dynamische Pulsweiten-Programmierung von Programmierbaren Logischen Geräten
WO0209121
Akustik, Musik & Datenspeicherung
23.01.2002
Herstellungsmethode eines Dielektrik-Stapels mit Hoher Permitivität und Kleinem Pufferoxid
EP1173886
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.01.2002
Feldeffekttransistor mit Nicht-Schwebendem Körper und Sein Herstellungsverfahren Of einem Silizium Wafer
EP1173892
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.01.2002
Universeller Einbrenn-Sockel zum Testen Integrierter Halbleiterchips
WO0204968
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.01.2002
Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung eines Sockels auf einer Burn-In-Platine mittels eines Flexiblen Streifenfühlers
WO0204966
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.01.2002
Sägeblatt zum Trennen von Platten für Integrierte Schaltung
WO0202265
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
10.01.2002
Halbleitergehäuse mit Stapelflipchip und Oberen, Drahtgebondeten Chip
WO0203465
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2002
Verfahren und Niedrigspannungs-Schaltung zur Erzeugung einer Hochgenauen Erhöhten Wortleitungsspannung für Speicherzellen im Lesebetrieb
WO0203391
Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.01.2002
Verfahren und Niedrigspannungs-Schaltkreis zur Erzeugung einer Hochgenauen Drain-Spannung für Flash-Speicherzellen im Lesebetrieb
WO0203392
Akustik, Musik & Datenspeicherung
03.01.2002
Zuweisen von Fft-Datenabtastwerten zu Verschiedenen Speicherbänken
WO0201399
Software & Datenverarbeitung
03.01.2002
Automatisches Drucken von Etiketten
WO0200505
Verpackungs- & Fördertechnik
02.01.2002
Verfahren zur In-Situ Ätzung einer Hartmaske und einer Metallschicht in Derselben Ätzvorrichtung
EP1166344
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2001
Feldeffekttransistor mit Vergrabenem Invertierten Gate (bigfet)
WO0197290
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.12.2001
Verfahren und Apparat zur Spezifizierung von Globalen Anstoss-Punkten in einer Halbleitervorrichtung mit Zweideutigen Submodul-Grenzflächen
WO0197077
Software & Datenverarbeitung
13.12.2001
Sub-Mikrometer Halbleiterbauelement mit Selbstausgerichteter Kanalunterbrechungszone und Zugehöriges Herstellungsverfahren unter Verwendung eines Trimm- und Ätzverfahrens
WO0195371
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.12.2001
Stromsparen Beim Lesen von Daten aus einer Speicheranordnung
WO0195333
Akustik, Musik & Datenspeicherung
13.12.2001
Stromsparverfahren im 'burst' Modus Während des Lesen S von Daten aus einer Speichervorrichtung
WO0195334
Akustik, Musik & Datenspeicherung
12.12.2001
Verringerung der Einflüsse von Vergrösserungs- und Retikelrotationsfehlern auf Überdeckungsfehler
EP1161707
Optik & Fototechnik
22.11.2001
Polysilizium-Seitenwand mit Silizidbildung zur Herstellung von Hochleistungs-Mosfets
WO0188991
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.11.2001
Versetztes Bitleitungsband einer Festwertspeicherzelle
WO0188986
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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Technologiefelder

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688
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
202
Akustik, Musik & Datenspeicherung
199
Elektronik & Schaltungstechnik
76
Optik & Fototechnik
71
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
48
Steuerungs- & Regelungstechnik
40
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
23
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
16
Metallurgie & Oberflächentechnik
12
Elektrische Energietechnik
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