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Advanced Micro Devices Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

2.407
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.407 gesamt
Patent
24.10.2002
Schaltung und Verfahren für einen Löschtest von Nichtflüchtigen Flash-Speichern mit Ungleich Grossen Sektoren
Akustik, Musik & Datenspeicherung
24.10.2002
Energiesparschaltung für eine Netzwerkvorrichtung
Software & Datenverarbeitung
23.10.2002
Verfahren zur Herstellung von Kupfer-Verbindungen in Halbleitervorrichtungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.10.2002
Verfahren zur Herstellung von Kupfer-Verbindungen mittels einer Dielektrischen Hilfsschicht
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.10.2002
Barrieren gegen Nitrierung bei Nitriertem Tunneloxid in der Flash-Speicherschaltungstechnologie und in der Locos/sti Isolation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.10.2002
Silizid-Bauelement mit mehreren Dicken
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.10.2002
In-Situ-Dickenmessung für die Halbleiterherstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.10.2002
Methode und Apparat mit In-Situ-Sensoren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.10.2002
Organisches Flip-Chip-Gehäuse mit Matrix von Durchkontaktierungsstiften
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.10.2002
Dielektrikum-Herstellungsverfahren zum Dichten der Porosität von Geätzten Materialen mit Niedriger Dielektrizitätskonstante
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2002
Eingang/ausgang Unterteilungssystem und Verfahren zur Reduzierung des Band-Zu-Band Tunnelstroms Während des Löschens
Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.10.2002
Verfahren und Einrichtung zum Kontrollieren von Kritischen Groessenordnungen mittels Verteilungsmetrik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2002
Verfahren zur Modulation des Oberflächenmontagetechnologie-Lötpastenvolumens zur Optimierung der Zuverlässigkeit und des Ergebnisses Feines Kontaktabstandes
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektronik & Schaltungstechnik
10.10.2002
Opferschichten für die Strukturelle Integrität von Strukturen mit Kritischer Dimension
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.10.2002
Eine Ta-Schutzaufschlämmung mit Organischen Zusatzstoffen
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
03.10.2002
Methode zur Verkleinerung eines Ic-Gates
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2002
Methode und Apparat für Bestimmung der Messfrequenz Basiert auf Hardwarealter und Gebrauch
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2002
Automatisierte Werkstückstemperaturregelung für einen Plasma Hoher Dichte (hdp)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2002
Quelldatenbericht-Abfragemethode in Fehlersuchgesteuerten Halbleiterherstellungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2002
In-Situ Steuerung einer Trockenätzanlage
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2002
Prozesskontrollsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.09.2002
Prüfkontaktvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.09.2002
Verfahren zur Herstellung von Silizidkonktakten und damit Versehenes Baulelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.09.2002
Organische Gehäuse mit Lot zur Zuverlässligen Flip-Chip-Verbindung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.09.2002
Schutznetzwerk gegen Elektrostatische Entladung mit Verteilten Bauelementen, die mit Induktoren Angeschlossen Werden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.09.2002
Methode zur Kontrolle der Schichtdicke von Fotoresists
Optik & Fototechnik
12.09.2002
Verfahren zur Herstellung Leitender Zwischenverbindungen in Porösen Isolierenden Schichten und Entsprechende Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.09.2002
Verfahren zur Herstellung einer Ultradünnen Oxidschicht durch einen Ammoniaktemperprozess
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2002
Reduction of metal silicide/silicon interface roughness by dopant implantation processing
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2002
Chargenweise-Steuerungs-Verfahren für die Abstimmung eines Pid Reglers für Kurzzeittempernverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2002
Arsenfreie N-Typ-Dotierstoffimplantation für Verbesserte Source/drain-Grenzflächen mit Nickelsiliziden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.08.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Anpassung des Sendeleistungspegels
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.08.2002
Dosissteuerung in Abhängigkeit von Optischen Parametern eines Steppers
Optik & Fototechnik
22.08.2002
Silicide Stop Layer in A Damascene Gate Semiconductor Structure
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.08.2002
Gate Electrode Silicidation Layer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.08.2002
Verfahren und Einrichtung zum Kontrollieren von Ätzselektivität
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2002
Programming method using voltage pulse with stepped portions for multi-level cell flash memories
Akustik, Musik & Datenspeicherung
15.08.2002
Doppeldamaszenstruktur mit Gefülltem Schlitz-Durchkontakt ohne Mittlere Ätzstopschicht und Verfahren zur Herstellung Derselben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2002
Verfahren zum Entfernen von Kupfer von Halbleiterscheibenrändern
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2002
Stepper-Belichtungsdosissteuerung auf Basis von Photoresistdickenvariationen über einen Wafer
Optik & Fototechnik

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