Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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610 gesamt| Patent | |||
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24.08.2022
Photoakustische Wellenmessvorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.09.2020
Vorrichtung zum Dreidimensionalen Laminieren und Formen und Laminier- und Formverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2018
Erteilt am 02.09.2020
Vertretung
Zusammenfassung
Provided is a three-dimensional laminating and shaping apparatus 100 including a column unit 200 that is configured to output an electron beam EB and deflect the electron beam EB toward the front surface of a powder layer 32, an electron detector 72 that is configured to detect electrons that may be emitted in a predetermined direction from the front surface of the powder layer 32 when the powder layer 32 is irradiated with the electron beam EB, a melting judging unit 410 that is configured to generate a melting signal based on the strength of the detection signal from the electron detector 72, and a deflection controller 420 that is configured to receive the melting signal to determine the condition of the irradiation the electron beam. |
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05.08.2020
Vorrichtung zum Dreidimensionalen Laminieren und Formen und Laminier- und Formverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2018
Erteilt am 05.08.2020
Vertretung
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22.07.2020
Vorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium zur Messung Photoakustischer Wellen
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.06.2019
Light ultrasound measurement device, method, program, and storage medium
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 24.10.2018
Anhängig
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13.06.2019
Temperature measuring device, reactor, and device and method for evaluating degree of activity of enzyme
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2018
Anhängig
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01.05.2019
Vorrichtung zur Elektronenstrahlaufzeichnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.02.2003
Erteilt am 01.05.2019
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
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29.11.2018
Dut testing with configurable cooling control using dut internal temperature data
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.05.2018
Anhängig
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01.11.2018
Amplifier, circuit for trimming a bias voltage, method for amplifying an input signal and method for trimming a bias voltage
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.04.2017
Anhängig
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18.10.2018
3d additive manufacturing device and additive manufacturing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
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18.10.2018
Exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
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18.10.2018
Exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
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04.10.2018
Apparatus and method for providing a supply voltage to a device under test using a capacitor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2017
Anhängig
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04.10.2018
Apparatus and method for providing a supply voltage to a device under test using a compensation signal injection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test system and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2018
Anhängig
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13.09.2018
Device testing using dual-fan cooling with ambient air
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2018
Anhängig
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13.09.2018
Tester and method for testing a device under test using relevance scores
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test apparatus for performing a test on a device under test and data set filter for filtering a data set to obtain a best setting of a device under test
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Tester and method for testing a device under test and tester and method for determining a single decision function
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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13.09.2018
Test apparatus and method for characterizing a device under test
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 07.03.2017
Anhängig
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16.08.2018
Real-time capture of traffic upon failure for protocol debug
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.02.2018
Anhängig
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08.08.2018
Bestimmung der Härte und Porosität aus der Messung von innerhalb des Messobjekts propagierter THz-Strahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2013
Erteilt am 08.08.2018
Vertretung
Smee, Anthony James Michael · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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19.07.2018
Electron beam column for three-dimensional printing device, three-dimensional printing device, and three-dimensional printing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2017
Anhängig
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11.04.2018
Belichtungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2016
Erteilt am 11.04.2018
Vertretung
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15.03.2018
Belichtungsvorrichtung und Belichtungsdatenstruktur
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.01.2018
Vorrichtung zum Aussenden elektromagnetischer Wellen
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
According to the present invention, an electromagnetic wave emission device includes a nonlinear crystal having an optical waveguide; and a prism including an electromagnetic wave input surface and an electromagnetic wave transmission surface. The electromagnetic wave transmission surface includes a rotation surface which is a trajectory of a tilted line segment rotated about a central axis of the electromagnetic wave input surface, the tilted line segment being tilted with respect to the central axis. The tilted line segment and the central axis are on the same plane. The central axis is in parallel to an extending direction of the optical waveguide. The central axis passes through a projection of the optical waveguide into the electromagnetic wave input surface. |
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08.09.2017
Semiconductor device and method for manufacturing same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.02.2017
Anhängig
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31.08.2017
Power supply for providing an electrical pulse to an electrical consumer and a tester comprising the power supply
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2016
Anhängig
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31.08.2017
Method and device for calibrating an automated test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2016
Anhängig
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03.08.2017
Deterministic Concurrent Test Program Executor For an Automated Test Equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2016
Anhängig
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12.07.2017
Objekttischvorrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2010
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
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14.06.2017
Mehrspalten-Elektronenstrahlbelichtungsanordnungen und -Verfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2007
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
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13.04.2017
Jig for evaluating characteristics, device for evaluating characteristics, and evaluation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.10.2015
Anhängig
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02.03.2017
Contact device and production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.08.2015
Anhängig
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01.03.2017
Elektronenstrahlbelichtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.08.2002
Erteilt am 01.03.2017
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner Patentanwälte · München
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22.02.2017
Infrarotoptische Biosensorvorrichtung und Sonde dafür
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.07.2016
Anhängig
Vertretung
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09.02.2017
Addressing scheme for distributed hardware structures
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 04.08.2015
Anhängig
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21.12.2016
Elektronenstrahlexpositionsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.04.2012
Erteilt am 21.12.2016
Vertretung
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15.12.2016
High frequency integrated circuit and emitting device for irradiating the integrated circuit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2015
Anhängig
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08.12.2016
Semiconductor device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.04.2016
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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