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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
29.08.2024
System and method for calibrating a device-under-test interface
WO2024175211
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.08.2024
Device under test socket and method for testing a device under test
WO2024170107
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.08.2024
Semiconductor integrated circuit and module thereof
WO2024161595
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.07.2024
Switch device and testing device
WO2024154209
Elektronik & Schaltungstechnik
04.07.2024
Magnetically retained replaceable contact plate for semiconductor handler
WO2024144852
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection apparatus
WO2024142586
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection device
WO2024142583
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection device
WO2024142589
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection device
WO2024142588
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection apparatus
WO2024142585
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection device
WO2024142584
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2024
Fluorescence detection device
WO2024142587
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.06.2024
An Antenna Device And an Automated Test Equipment Comprising an Orthomode Transducer
WO2024132123
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.06.2024
An antenna device and an automated test equipment with a ridged blind mating waveguide flange
WO2024132122
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.06.2024
Planer Antenna
WO2024127681
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2024
Pore tip case, and particulate measuring system
WO2024122589
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.06.2024
Frequency stabilization circuit, frequency stabilization method, and optical comb generator
WO2024121920
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2024
Pin electronics device, testing device, and method
WO2024121938
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.06.2024
Pin electronics device, testing device, and method
WO2024121939
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.04.2024
Magnetically retained replaceable cylinder component for pick-and-place test head unit
WO2024086079
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.04.2024
Magnetically retained replaceable chuck assembly for pick-and-hold test head unit
WO2024086080
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.04.2024
Optical waveguide and method for manufacturing optical waveguide
WO2024084681
Optik & Fototechnik
11.04.2024
Testing apparatus, testing system, testing method, and testing program
WO2024075381
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.04.2024
An Antenna Device And an Automated Test Equipment
WO2024067957
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.03.2024
A pusher for use in an automated test equipment and method for mechanically pushing a device under test into a test socket
WO2024056173
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.03.2024
A pusher and a method for pushing a device under test with a single-linearly polarized antenna into a test socket
WO2024056172
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.03.2024
Amplifier arrangement and method for amplifier arrangement with set current at control input of the amplifier arrangement in dependence on an output current of the amplifier arrangement
WO2024051919
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
15.02.2024
Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using an iterative approach to obtain temperature control instructions
WO2024032917
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.02.2024
Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using a fitting approach to obtain temperature control instructions
WO2024032916
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.02.2024
Test Arrangement For Over-The-Air Testing an Angled Device Under Test in A Device-Under-Test Socket
WO2024022625
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.02.2024
Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test using a carrier structure with an opening
WO2024022626
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.02.2024
Connecting device, testing device, and communication device
WO2024023983
Elektronik & Schaltungstechnik
01.02.2024
Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test that is tilted relative to a surface of a carrier structure
WO2024022627
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.01.2024
Heat exchanger, electronic component handling device, and electronic component testing device
WO2024018536
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.01.2024
Optical circuit and method
WO2024004012
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
21.12.2023
Photoacoustic wave measurement device, method, program, and recording medium
WO2023243075
Medizintechnik & Gesundheit
14.12.2023
Apparatus for testing a device under test separating errors within a received pattern associated with different functional blocks of a device under test or associated with different blocks of one or more bits, method and computer program
WO2023237565
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.12.2023
Bias Circuit
WO2023233530
Elektronik & Schaltungstechnik
30.11.2023
Optical Element
WO2023228248
Optik & Fototechnik
23.11.2023
Light Beam Diameter Measurement Device, Method, Program, Recording Medium
WO2023223613
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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