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Changxin Memory Technologies Patente

🇨🇳 China

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637
Patente
2018–2024
Anmeldejahre
7
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.637 gesamt
Patent
26.01.2023
Semiconductor structure and manufacturing method therefor
WO2023000466
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Method and apparatus for configuring test flow, and storage medium and device
WO2023000359
Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung
26.01.2023
Method and apparatus for controlling semiconductor process, device and storage medium
WO2023000411
Steuerungs- & Regelungstechnik
26.01.2023
Memory device and forming method therefor
WO2023000461
26.01.2023
Preparation method for semiconductor structure, semiconductor structure, and capacitor structure
WO2023000373
26.01.2023
Method for adjusting deformation of wafer, and semiconductor structure
WO2023000377
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Via hole structure and preparation method therefor, and method for adjusting impedance of via hole structure
WO2023000392
Elektronik & Schaltungstechnik
26.01.2023
Heat conduction structure and forming method therefor, chip, and chip stacking structure
WO2023000378
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Method for manufacturing semiconductor structure, and semiconductor structure
WO2023000480
26.01.2023
Memory repair line determination method and apparatus, storage medium, and electronic device
WO2023000499
Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.01.2023
Photomask package and semiconductor apparatus
WO2023000470
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Manufacturing method for semiconductor structure, and semiconductor structure
WO2023000468
26.01.2023
Semiconductor wafer and test method therefor
WO2023000488
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Semiconductor structure and method for forming same, and memory
WO2023000481
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Semiconductor structure and manufacturing method for semiconductor structure
WO2023000472
26.01.2023
Latch circuit and method and electronic device
WO2023000485
Elektronik & Schaltungstechnik
26.01.2023
Scheduling path determination method and apparatus, wafer scheduling method and apparatus, device, and storage medium
WO2023000556
Steuerungs- & Regelungstechnik
26.01.2023
Electrostatic protection circuit and chip
WO2023000489
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Semiconductor structure and method for manufacturing semiconductor structure
WO2023000471
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Test method for connectivity of semiconductor structure and test system therefor
WO2023000498
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.01.2023
Semiconductor structure and preparation method therefor
WO2023000658
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Semiconductor structure and method for forming same
WO2023000655
26.01.2023
Semiconductor structure and preparation method therefor
WO2023000657
26.01.2023
Method for fabricating semiconductor structure and semiconductor structure
WO2023000656
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.01.2023
Command decoding circuit, memory and electronic device
WO2023000743
Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.01.2023
Semiconductor structure and preparation method therefor
WO2023000800
19.01.2023
Semiconductor device layout structure and semiconductor device forming method
WO2023283879
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Manufacturing method for semiconductor structure and semiconductor device etching apparatus
WO2023284017
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Gate valve device, cleaning method, and mechanical equipment
WO2023284018
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Method for preparing semiconductor structure
WO2023283973
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Plasma treatment apparatus
WO2023284023
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Capacitor structure and forming method therefor, and memory
WO2023284011
19.01.2023
Measurement mark, semiconductor structure, measurement method, device, and storage medium
WO2023283979
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
19.01.2023
Semiconductor device preparation method and semiconductor device
WO2023283989
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Method for measuring resistance value of contact plug, and test structure
WO2023283991
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Control method and control system for deposition device
WO2023283983
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Semiconductor structure manufacturing method, semiconductor structure, and memory
WO2023284010
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Semiconductor structure and forming method therefor
WO2023283972
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2023
Interleaved signal generating circuit and integrated chip
WO2023284008
Elektronik & Schaltungstechnik
19.01.2023
Photomask and photomask fixing apparatus
WO2023283930
Optik & Fototechnik

Wer vertritt Changxin Memory Technologies?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Changxin Memory Technologies vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.491
Akustik, Musik & Datenspeicherung
572
Software & Datenverarbeitung
189
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
129
Optik & Fototechnik
112
Elektronik & Schaltungstechnik
106
Verfahrens- & Trenntechnik
33
Steuerungs- & Regelungstechnik
31
Elektrische Energietechnik
27
Metallurgie & Oberflächentechnik
23
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
21
Verpackungs- & Fördertechnik
14

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