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Changxin Memory Technologies Patente

🇨🇳 China

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637
Patente
2018–2024
Anmeldejahre
7
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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2.637 gesamt
Patent
02.04.2020
Power supply system and semiconductor package assembly
WO2020063827
Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.03.2020
Method and apparatus for classification of wafer defect patterns as well as storage medium and electronic device
WO2020057644
Software & Datenverarbeitung
19.03.2020
Method and apparatus for controlling tester, medium and electronic device
WO2020052490
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
19.03.2020
Semiconductor device and methods for manufacturing thereof
WO2020052630
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2020
Chip test device and method
WO2020048381
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.03.2020
Through-silicon via (tsv) test circuit, tsv test method and integrated circuits (ic) chip
WO2020048319
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2020
Semiconductor chip and circuit and method for electrically testing semiconductor chip
WO2020048385
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2020
Memory test circuit apparatus and test method
WO2020048318
Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.03.2020
Memory device, semiconductor device and method for manufacturing the same
WO2020043172
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2020
Wafer structure, die fabrication method and chip
WO2020043169
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2020
Arrangement Of Bond Pads On an Integrated Circuit Chip
WO2020043170
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2020
Memory device, semiconductor device and method for manufacturing the same
WO2020043171
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2020
Boundary test circuit, memory and boundary test method
WO2020043014
Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.03.2020
Test methods, tester, load board and test system
WO2020042906
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.03.2020
Signal skew measurement method, apparatus, medium, and electronic device
WO2020043012
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.03.2020
Through-silicon via (tsv) fault-tolerant circuit, method for tsv fault-tolerance and integrated circuit (ic)
WO2020043089
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2020
Data compression circuit, memory device and ic test device and method
WO2020042879
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2020
System-In-Package (sip) Assembly
WO2020011034
Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.01.2020
Method for fabricating transistor gate, as well as transistor structure
WO2020001549
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.11.2019
Memory circuit device and a method for testing the same
WO2019210860
Akustik, Musik & Datenspeicherung
17.10.2019
Bonding pad structure for memory device and method of manufacturing the same
WO2019196930
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.10.2019
Memory device and test circuit for the same
WO2019184959
Akustik, Musik & Datenspeicherung
12.09.2019
Transistor, forming method thereof, and semiconductor device
WO2019170144
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.09.2019
Electrically programmable fuse structure and semiconductor device
WO2019170143
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2019
Anti-fuse structure and method for fabricating same, as well as semiconductor device
WO2019129257
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2019
Low-voltage electrostatic discharge (esd) protection circuit, integrated circuit and method for esd protection thereof
WO2019110016
Elektrische Energietechnik
13.06.2019
Dynamic random access memory (dram) cell, dram device and storage method
WO2019110015
Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.06.2019
Dynamic random access memory array, semiconductor layout structure and fabrication method thereof
WO2019105398
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2019
Interconnection structure of metal lines, method of fabricating the same and semiconductor device
WO2019091421
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2019
Asymmetric finfet in memory device, method of fabricating same and semiconductor device
WO2019091493
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.05.2019
Dram array, semiconductor layout structure therefor and fabrication method
WO2019085848
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.05.2019
Random Access Memory
WO2019085931
Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.05.2019
Memory transistor, fabrication method thereof and semiconductor device
WO2019080850
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2019
Semiconductor memory device structure
WO2019047886
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2019
Semiconductor storage device and method for forming a profile of a capacitor thereof
WO2019007373
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2019
Semiconductor device structures and fabrication methods thereof
WO2019001584
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.12.2018
Semiconductor device structures and fabrication methods thereof
WO2018223967
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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Technologiefelder

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Software & Datenverarbeitung
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Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
129
Optik & Fototechnik
112
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106
Verfahrens- & Trenntechnik
33
Steuerungs- & Regelungstechnik
31
Elektrische Energietechnik
27
Metallurgie & Oberflächentechnik
23
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
21
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14

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