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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
12.08.2010
Charged particle radiation device
WO2010089958
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.08.2010
Semiconductor defect integrated projection method and defect inspection support apparatus equipped with semiconductor defect integrated projection function
WO2010090152
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.08.2010
Automatic Analyzer
WO2010086942
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Fluorescence analyzing device and fluorescence analyzing method
WO2010086935
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
WO2010086940
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Method for evaluating superimposition of pattern
WO2010086939
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.08.2010
Device for pretreating biological sample and mass spectrometer equipped with same
WO2010087109
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Automatic analysis apparatus
WO2010087108
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Automated analysis device and specimen processing device
WO2010087120
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Autoanalyzer
WO2010087119
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Autoanalyzer
WO2010087137
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Device for analyzing nucleic acids and apparatus for analyzing nucleic acids
WO2010087121
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Charged particle beam device
WO2010087149
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.08.2010
Automated analyzer and automatic analysis method
WO2010087303
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.08.2010
Device for pretreating sample and mass spectrometer equipped with same
WO2010087387
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2010
Automatischer Analysator
EP1376137
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2010
Verfahren und Gerät zur Analyse von Nukleinsäure-Amplifikation
EP1640460
Pharma & Biotechnologie
29.07.2010
Electron Microscope
WO2010084860
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.07.2010
Dark-field defect inspection method, dark-field defect inspection device, aberration analysis method and aberration analysis device
WO2010084884
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.07.2010
Ion beam device
WO2010082466
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.07.2010
Charged particle radiation device provided with aberration corrector
WO2010082489
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.07.2010
Charged beam device
WO2010082477
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.07.2010
Charged particle beam applied apparatus
WO2010082451
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.07.2010
Defect observation method and device using sem
WO2010079657
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.07.2010
Image classification standard update method, program, and image classification device
WO2010076882
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
07.07.2010
Automatisches Analysegerät
EP1965214
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Defect inspection method and device thereof
WO2010073453
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2010
Automatic analysis device
WO2010073502
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Automatic analyzer and system for aiding same
WO2010073503
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Accuracy management method
WO2010073479
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Inspection method and inspection apparatus
WO2010073527
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2010
Automatic Analyzer
WO2010073504
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Charged particle radiation device and image capturing condition determining method using charged particle radiation device
WO2010073478
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2010
Fluorescence Detector
WO2010073605
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.07.2010
Photometer and analyzing system provided with photometer
WO2010073604
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.06.2010
Laserverarbeitungsvorrichtung und Verfahren zum Strukturieren von Dünnschichtsolarmodulen
EP2202026
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
24.06.2010
Scanning Electron Microscope
WO2010070815
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2010
Electron beam device and electron beam application device using the same
WO2010070837
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2010
Mixed-Mode Adsorbent Material
WO2010071080
Verfahrens- & Trenntechnik Kunststoff- & Polymertechnik
23.06.2010
Elektronenstrahlbelichtungs-Vorrichtung und Verfahren
EP1432009
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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97
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78
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78
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49
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