Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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4.287 gesamt| Patent | |||
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13.02.2025
Transmissionsbeugungsgitter und Verfahren zur Herstellung davon
Optik & Fototechnik
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13.02.2025
Automated analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.02.2025
Filtervorrichtung, Filtersystem und Filtrationsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2024
Anhängig
Vertretung
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13.02.2025
Verfahren zur Adressierung von Fehlfunktionen in einem Automatischen Analysesystem und Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.02.2025
Bildverarbeitungsvorrichtung, Bildidentifikationssystem und Bildverarbeitungsverfahren
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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13.02.2025
Liquid chromatograph and liquid chromatograph mass spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.07.2024
Anhängig
Vertretung
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13.02.2025
Fördereinrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 08.07.2024
Anhängig
Vertretung
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13.02.2025
Automatic analysis device and automatic analysis system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2024
Anhängig
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13.02.2025
Automatische Analysevorrichtung und Verfahren zur Reinigung einer Düse in einer Automatischen Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.07.2024
Anhängig
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13.02.2025
Medical information processing device, medical information processing method, and program
Medizintechnik & Gesundheit
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 05.03.2024
Anhängig
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13.02.2025
Verfahren zur Schätzung Defekter Punkte und Flüssigkeitschromatograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.06.2024
Anhängig
Vertretung
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12.02.2025
Massenspektrometer mit einer Steuereinheit zur Detektion Elektrischer Entladung und Zugehöriges Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.12.2020
Erteilt am 12.02.2025
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12.02.2025
Testvorrichtung und Testverfahren
Pharma & Biotechnologie
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 04.03.2019
Erteilt am 12.02.2025
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12.02.2025
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.04.2023
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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06.02.2025
Plasma processing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.07.2023
Anhängig
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06.02.2025
Method and program for operating semiconductor device evaluation device by means of character string
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.07.2023
Anhängig
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06.02.2025
Member for plasma treatment apparatus and method for manufacturing same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.07.2023
Anhängig
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06.02.2025
Automatisierte Analysevorrichtung und Steuerungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An object of the present invention is to reduce a replacement frequency of a probe cleaner in an automatic analysis device using a plurality of probe cleaners and a control method for the same. An automatic analysis device according to the present invention includes a dispensing probe that performs aspiration and discharge of at least one of a reagent and a sample and a liquid delivery mechanism that delivers each of a first probe cleaner and a second probe cleaner for cleaning the dispensing probe, a heterogeneous probe cleaner region in which the first probe cleaner and the second probe cleaner may exist, and a storage unit that stores a type of the probe cleaner existing in the heterogeneous probe cleaner region (see Fig. 5). |
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06.02.2025
Method and program for operating semiconductor device evaluating apparatus using character strings
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2024
Anhängig
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06.02.2025
System for conducting assessment of puncture point for collecting blood
Medizintechnik & Gesundheit
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.07.2024
Anhängig
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06.02.2025
Automatisierte Analysevorrichtung und Steuerungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.02.2025
Beam monitoring method for particle beam therapy system, beam monitoring program, information processing system, and particle beam system
Medizintechnik & Gesundheit
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 05.03.2024
Anhängig
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05.02.2025
Analysegerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.03.2022
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.02.2025
Elektrolytanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.01.2023
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.02.2025
Datenverarbeitungssystem und Verfahren für einen Automatischen Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2023
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.02.2025
Verteiltes System und Verfahren zur Erzeugung eines Kommunikationspfades in einem Verteilten System
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 09.02.2023
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.02.2025
Automatisierte Analysevorrichtung und Verfahren zur Erkennung einer Flüssigkeitsoberfläche
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2023
Anhängig
Vertretung
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05.02.2025
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.02.2023
Anhängig
Vertretung
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05.02.2025
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.03.2023
Anhängig
Vertretung
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30.01.2025
Plasma processing device and plasma processing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2023
Anhängig
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30.01.2025
Behälterlagerungsmagazin, Automatischer Analysator und Behälterlagerungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.01.2025
Elektrodenkörper für einen Ionensensor und Verfahren zur Herstellung eines Ionensensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.01.2025
Behälterlagerung, Automatisierter Analysator und Verfahren zur Lagerung eines Behälters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2024
Anhängig
Vertretung
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30.01.2025
Semiconductor manufacturing device and wafer temperature control method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.07.2023
Anhängig
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30.01.2025
Elektrodenkörper für einen Ionensensor und Verfahren zur Herstellung eines Ionensensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
An object of the present invention is to provide an ion sensor electrode unit with almost no performance failure by improving adhesive strength regardless of materials of an electrode body and an ion-sensitive membrane. According to the present invention, an ion sensor electrode unit includes: an internal electrode that outputs an electrical potential to an ion-sensitive membrane; and an electrode body containing an internal solution that electrically connects the internal electrode and the ion-sensitive membrane. The electrode body includes a flow passage through which liquid containing a sample to be measured flows, and a mounting surface on which the ion-sensitive membrane is mounted. The mounting surface and the ion-sensitive membrane are welded together via a compatibilizer. |
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30.01.2025
Behälterlagerung, Automatische Analysevorrichtung und Behälterlagerungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.01.2025
Behälterlagerung, Automatische Analysevorrichtung und Behälterlagerungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
Provided are a container storage, an automatic analyzer, and a container storage method capable of improving efficiency of cooling a sample in a container and improving reliability compared to a structure in the related art. The container storage includes: a container case 8 that holds a QC specimen container 4 that accommodates a liquid; a circular ring holder 9 that allows a plurality of container cases 8 to be arranged; and a cooling device. The container case 8 includes a first tubular portion 8a having a first diameter d1 and a second tubular portion 8b located below the first tubular portion 8a in a vertical direction and having a second diameter d2 smaller than the first diameter d1, and at least a part of the second tubular portion 8b is held to be exposed from the circular ring holder 9. The cooling device cools at least the second tubular portion 8b exposed from the circular ring holder 9. |
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30.01.2025
Defect inspection device for secondary battery member, defect inspection system, defect inspection program, and defect inspection method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2024
Anhängig
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30.01.2025
Behälterlagerung, Automatisierter Analysator und Verfahren zur Lagerung eines Behälters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2024
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Provided are a container storage in which cylindrical container cases are individually arranged concentrically in the cylindrical container storage, and an optimal arrangement relationship of the container cases is implemented, an automatic analyzer, and a container storage method. A container case 8 includes an opening 8c that is capable of inserting and removing a QC specimen container 4 gripped by a container gripping device 33 and a lid body 36 that is capable of opening and closing the opening 8c. A circular ring holder 9 holds the plurality of container cases 8 concentrically in two or more circles, and when the number of the container cases 8 which can be arranged on a circumference of a first circle among the concentric circles is defined as a first arrangement number and the number of the container cases 8 which can be arranged on a circumference of a second circle which is arranged outside the first circle among the concentric circles is defined as a second arrangement number, the second arrangement number is larger than the first arrangement number. |
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30.01.2025
Plasma processing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.07.2023
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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