Korea Research Institute of Standards and Science Logo

Korea Research Institute of Standards and Science Patente

🇰🇷 Südkorea

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

452
Patente
2002–2025
Anmeldejahre
23
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

452 gesamt
Patent
28.12.2017
Library primer set for sequencing and method for preparing library
WO2017222164
Pharma & Biotechnologie Software & Datenverarbeitung
21.12.2017
Apparatus and method for measuring thickness and shape of multilayer film structure using image spectrometer
WO2017217590
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
14.12.2017
Hairwear having voice recognition function, and user language and emotion recognition system using same
WO2017213411
Haushalts-, Möbel- & Konsumgüter Akustik, Musik & Datenspeicherung
07.12.2017
Spectroscopic interferometer system for measuring absolute distance without unmeasurable range and directional ambiguity
WO2017209352
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
07.12.2017
Laser exposure method capable of forming dual line, exposure apparatus, and method and apparatus for manufacturing fine pattern having dual line by using laser exposure method
WO2017209330
Optik & Fototechnik
30.11.2017
Method for manufacturing monochromator
WO2017204380
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.11.2017
Temperature measurement wafer sensor and method for manufacturing same
WO2017200267
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.11.2017
Electron beam device having monochrometer
WO2017200124
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
02.11.2017
Method for evaluating sers sensor substrate
WO2017188744
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.10.2017
Magnetfeldsensor und Vorrichtung zur Messung des Magnetfelds
EP3232210
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.10.2017
Ultra-low-field nuclear magnetic resonance device
WO2017176012
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.10.2017
Vorrichtung zur Herstellung einer Grossflächigen Einkristallmonoschicht aus Hexagonalem Bornitrid und Verfahren zur Herstellung davon
EP3225720
Metallurgie & Oberflächentechnik
28.09.2017
Monochromator and charged particle beam apparatus having same
WO2017164439
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.09.2017
Mass spectrometry method
WO2017155363
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
31.08.2017
Laser cleaning device and method for removing pollutant from mass spectrometer electrode
WO2017146385
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.08.2017
Capacitor resistor bank device for evaluating electric capacitance bridge
WO2017146307
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.08.2017
Evaluation device of voltage transformer comparator
WO2017146311
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.08.2017
Dual-Channel Scattering-Type Near-Field Scanning Optical Microscope
WO2017135732
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
03.08.2017
Method and device for manufacturing head molded article according to head type
WO2017131453
Haushalts-, Möbel- & Konsumgüter
27.07.2017
Tactile sensor using molybdenum disulfide and manufacturing method therefor
WO2017126938
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.07.2017
Non-volatile memory device and method for manufacturing same
WO2017119752
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.07.2017
Linear structure for displacement transmission, and one-dimensional and three-dimensional micro movement device using same
WO2017116155
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.05.2017
Verfahren zur Steuerung der Wand einer Magnetischen Domäne einer Magnetischen Struktur und Magnetspeichervorrichtung dafür
EP3171364
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2017
High-Resolution Correlative Light-Electron Microscope
WO2017082561
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.05.2017
Process gas analyzing device
WO2017078504
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.04.2017
Electron microscope electron gun for facilitating position adjustment and electron microscope including same
WO2017069343
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.04.2017
Hochgeschwindigkeits-3D-Bildgebungssystem unter Verwendung von Dauerstrich-Thz-Strahlabtastmustern
EP3156762
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.03.2017
Tactile presentation module using beat electric field, tactile presentation device, vibrating mouse pad, and method for presenting tactile sensation
WO2017051973
Software & Datenverarbeitung
30.03.2017
Method for manufacturing transparent substrate and method for manufacturing surface enhanced raman scattering substrate using same
WO2017051957
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.03.2017
Quadrupole mass filter for mass spectrometer and quadrupole mass spectrometer including same
WO2017039133
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2017
Sample chamber device for electron microscope, and electron microscope comprising same
WO2017034190
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.02.2017
Completely sealed sample container for gamma spectrometer
WO2017022955
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.02.2017
Method for manufacturing two-dimensional transition metal dichalcogenide thin film
WO2017018834
Anorganische Chemie & Werkstoffe
26.01.2017
Scanning electron microscope capable of obtaining optical image of sample
WO2017014442
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
05.01.2017
Radiosonde having plurality of temperature sensors, temperature measurement method using same, and correction system and correction method therefor
WO2017002999
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.01.2017
Oblique incidence, prism-incident, silicon-based, immersion microchannel-based measurement device and measurement method
WO2017003079
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.12.2016
Uv irradiator equipped with automatic opening and closing apparatus
WO2016209003
Pharma & Biotechnologie Steuerungs- & Regelungstechnik
01.12.2016
Method for preparing black phosphorus thin film and black phosphorus thin film prepared thereby
WO2016190531
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.11.2016
Substrate dipping device
WO2016182107
Verfahrens- & Trenntechnik
03.11.2016
Corrugated-tube constant-pressure cylinder apparatus having no microleakage and method for using same
WO2016175371
Maschinenelemente & Fluidtechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Wer vertritt Korea Research Institute of Standards and Science?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Korea Research Institute of Standards and Science vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
240
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
108
Software & Datenverarbeitung
37
Optik & Fototechnik
36
Medizintechnik & Gesundheit
35
Pharma & Biotechnologie
32
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17
Metallurgie & Oberflächentechnik
11
Verfahrens- & Trenntechnik
10
Elektronik & Schaltungstechnik
10
Anorganische Chemie & Werkstoffe
9
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
7

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen