Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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770 gesamt| Patent | |||
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22.11.2017
Verfahren zur Untersuchung einer Probe durch Cars-Mikroskopie
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16.11.2017
Vorrichtung und Verfahren zur Vereinigung von Lichtstrahlen
WO2017194542
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.05.2017
Anhängig
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09.11.2017
Vorrichtung und Verfahren zur Lichtblattartigen Beleuchtung einer Probe
WO2017191193
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.05.2017
Anhängig
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25.10.2017
Rastermikroskop
EP3234680
Optik & Fototechnik
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13.09.2017
Mikroskopbeleuchtungssystem und -Verfahren
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Status
Angemeldet am 28.11.2012
Erteilt am 13.09.2017
Vertretung
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
m patent group · München
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskopbeleuchtungssystem zur Umschaltung zwischen einer ersten, konfokalen und einer zweiten, nicht-konfokalen Mikroskopbeleuchtungsart mit einer Mikroskopbeleuchtungseinheit (100), die zur Bereitstellung der ersten Mikroskopbeleuchtungsart aufweist: eine Beleuchtungsquelleneinrichtung (10) zur Erzeugung eines parallel zur optischen Achse (9) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengangs (16), eine Scanspiegeleinrichtung (2) zur Ablenkung des Beleuchtungsstrahlengangs (16) in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse (9), ein Scanokular (3) und eine nachgeschaltete Scantubuslinse (5) zur Abbildung der Scanspiegeleinrichtung (2) in die hintere Brennebene (6) eines Mikroskopobjektivs (7) und zur Aufweitung des Beleuchtungsstrahlengangs (16), wobei das Mikroskopobjektiv (7) diesen auf ein zu untersuchendes Präparat (8) fokussiert, wobei diese Mikroskopbeleuchtungseinheit (100) zur Bereitstellung der zweiten Mikroskopiebeleuchtungsart, insbesondere für die Lokalisationsmikroskopie, eine Fokussierlinse (4) aufweist, die in den Beleuchtungsstrahlengang (16) derart einbringbar ist, dass dieser in die hintere Brennebene (6) des Mikroskopobjektivs (7) fokussiert wird. <img class="EMIRef" id="144777719-iaf01" /> |
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16.08.2017
Verfahren und lichtmikroskopische Einrichtung zur bildlichen Darstellung einer Probe
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Status
Angemeldet am 22.06.2012
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
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20.07.2017
Optisches Gerät mit um eine Achse Drehbarem Komponententräger
WO2017121612
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2016
Anhängig
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20.07.2017
Kreuztisch mit Anbringvorrichtung für Koaxialbedieneinheit
WO2017121734
Elektrische Energietechnik
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Angemeldet am 10.01.2017
Anhängig
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29.06.2017
Verfahren zum Untersuchen einer Probe mittels Lichtblatt-Mikroskopie und Lichtblatt-Mikroskop
WO2017109156
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.12.2016
Anhängig
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07.06.2017
Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
EP3175277
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2015
Anhängig
Vertretung
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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11.05.2017
Mikroskop für die Durchlicht- und Fluoreszenzmikroskopie
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Angemeldet am 28.10.2016
Anhängig
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04.05.2017
Interferenzobjektiv nach Mirau
WO2017072315
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2016
Anhängig
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13.04.2017
Verfahren und Beleuchtungsanordnung zum Beleuchten einer Probenschicht mit einem Lichtblatt
WO2017060520
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2016
Anhängig
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11.01.2017
Verfahren und Einrichtung zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes
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Status
Angemeldet am 11.01.2012
Erteilt am 11.01.2017
Vertretung
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15.12.2016
Mikroskop mit Reibschlüssigen Antrieben
WO2016198416
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2016
Anhängig
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07.12.2016
Vorrichtung zum Laserschutz mit einem kraftentkoppelten Laserschutzgehäuse
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Status
Angemeldet am 24.01.2011
Erteilt am 07.12.2016
Vertretung
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16.11.2016
Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fluoreszenzlicht bei der konfokalen Rastermikroskopie
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Status
Angemeldet am 03.09.2001
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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28.09.2016
Einrichtung zur variablen Umlenkung von Licht
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Status
Angemeldet am 01.08.2012
Erteilt am 28.09.2016
Vertretung
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14.09.2016
Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop
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Status
Angemeldet am 05.07.2012
Erteilt am 14.09.2016
Vertretung
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
m patent group · München
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07.09.2016
Objektivlinsenwechsler
EP3063582
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.10.2014
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Serjeants LLP · Leicester
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13.07.2016
Mikroskop mit einem Element zum Verändern der Form des Beleuchtungslichtfokus
EP3042234
Optik & Fototechnik
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28.04.2016
Detektorvorrichtung
WO2016062798
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2015
Anhängig
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27.04.2016
Vorrichtung zur Erzeugung eines Mehrere Wellenlängen Umfassenden Lichtstrahls
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Status
Angemeldet am 03.09.2004
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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31.03.2016
Spiegelvorrichtung
WO2016046384
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2015
Anhängig
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25.02.2016
Mikroskop mit Zwei Zugriffsöffnungen zur Fluoreszenzeinrichtung
WO2016026926
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.08.2015
Anhängig
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03.02.2016
Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Dämmung von Schall im optischen Strahlengang eines Mikroskops
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Status
Angemeldet am 25.04.2013
Erteilt am 03.02.2016
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
Zusammenfassung
Eine Vorrichtung zur Dämmung von Schall im optischen Strahlengang (1) eines Mikroskops, mit einem Schallschutzgehäuse (Gehäuse) (2) zum Kapseln eines Schall emittierenden Bauteils, vorzugsweise eines sich schnell bewegenden bzw. oszillierenden Strahlablenkmittels, insbesondere eines resonant schwingenden Spiegels (3), wobei das Gehäuse (2) mindestens eine optische Ein-/Austrittsöffnung (Öffnung) aufweist, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2), vorzugsweise die Öffnung des Gehäuses, derart ausgebildet und/oder ausgestattet ist, dass der ansonsten aus dem Gehäuse (2) austretende Schall durch destruktive Interferenz weitgehend ausgelöscht ist, ohne dabei den optischen Strahl zu beeinflussen. Des Weiteren ist ein Mikroskop mit einer entsprechenden Vorrichtung beansprucht. |
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28.01.2016
Mikroskop und Verfahren zum Optischen Untersuchen Und/oder Manipulieren einer Mikroskopischen Probe
WO2016012606
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2015
Anhängig
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28.01.2016
Mikroskop mit Abdeckungen zum Kombinierten Klemmschutz und Lichtschutz
WO2016012603
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2015
Anhängig
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27.01.2016
Verfahren und Vorrichtung zum Mikroskopischen Untersuchen einer Probe
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03.09.2015
Lasermikrodissektionssystem und Lasermikrodissektionsverfahren
WO2015128447
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2015
Anhängig
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03.09.2015
Lasermikrodissektionssystem und Lasermikrodissektionsverfahren
WO2015128448
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2015
Anhängig
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02.09.2015
Schaltung und Verfahren zum Erzeugen von periodischen Steuersignalen sowie Mikroskop und Verfahren zum Steuern eines Mikroskops
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Status
Angemeldet am 18.04.2013
Erteilt am 02.09.2015
Vertretung
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann · Heidelberg
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20.08.2015
Bereitstellen von Probeninformationen mit einem Lasermikrodissektionssystem
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Angemeldet am 11.02.2015
Anhängig
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20.08.2015
Verfahren und Mikroskop zum Abbilden einer Volumenprobe
WO2015121190
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.02.2015
Anhängig
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13.08.2015
Lasermikrodissektions-Objektträgeranordnung für die Mikroskopie
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Status
Angemeldet am 04.02.2015
Anhängig
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06.08.2015
Verfahren zur Reduktion Mechanischer Schwingungen bei Elektrooptischen Modulatoren und Anordnung mit einem Elektrooptischen Modulator
WO2015114000
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2015
Anhängig
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16.07.2015
Verfahren zum Analysieren einer Probe mit einem Mikroskop
WO2015104419
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2015
Anhängig
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15.07.2015
Konfokales Laser-Raster-Mikroskop mit einer Gepulst Angesteuerten Laserlichtquelle
EP2893385
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2013
Anhängig
Vertretung
Bradl, Joachim · Schriesheim
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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24.06.2015
Bedienknopf für ein optisches System
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Angemeldet am 27.02.2004
Erteilt am 24.06.2015
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F. Dr. Dipl.-Phys · Bad Nauheim
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28.05.2015
Raman-Mikroskopische Abbildungseinrichtung
WO2015075084
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.11.2014
Anhängig
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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