Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
688 gesamt| Patent | |||
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25.09.2019
Optische Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.09.2019
Koordinatenmessmaschine und Koordinatenkorrekturverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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11.09.2019
Verfahren, System und Programm zur Erzeugung eines dreidimensionalen Modells
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 11.09.2013
Erteilt am 11.09.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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04.09.2019
Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2009
Erteilt am 04.09.2019
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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21.08.2019
Berechnung der Höhenkarte eines Körpers aus durchsichtigem Material mit geneigter oder gekrümmter Oberfläche
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.08.2019
Steuerverfahren, Steuerprogramm und Steuerung für numerisch gesteuerte Werkzeugmaschine
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2013
Erteilt am 07.08.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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10.07.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur des Ausgangssignals eines Kodierers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.10.2005
Erteilt am 10.07.2019
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.07.2019
Inspection program editing environment with automatic transparency operations for occluded workpiece features
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Status
Angemeldet am 10.12.2018
Anhängig
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19.06.2019
Prüfverwaltungsverfahren für Vertiefungsprüfer und Vertiefungsprüfer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.08.2008
Erteilt am 19.06.2019
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.06.2019
Tastkopf einer Koordinatenmessmaschine und Betriebsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.12.2017
Erteilt am 12.06.2019
Vertretung
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05.06.2019
Optischer Kodierer mit Fehlausrichtungserkennung und damit assoziiertes Anpassverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.01.2012
Erteilt am 05.06.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
An optical encoder includes a scale (1) having diffraction gratings formed at predetermined pitches in a measurement axis direction, a detection head (2) relatively movable with respect to the scale, the detection head including a light source portion (211) configured to irradiate the scale with light, and a plurality of receiver portions (221) configured to receive light reflected by or transmitted through the diffraction gratings of the scale, at different phases, and a signal processing device (4) configured to perform signal processing to light reception signals output from the receiver portions of the detection head, to produce quadrature differential signals. The signal processing device (4) is configured to calculate alignment adjustment monitor signals corresponding to a Lissajous radius of the quadrature differential signals in order to detect misalignment of the detection head with respect to the scale. |
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05.06.2019
Verfahren zur Messung einer hochgenauen Höhenkarte einer Testoberfläche
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.05.2019
Interferometer mit Gleichzeitigem Phasenschieben und Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2016
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
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08.05.2019
Härtetester und Härtetestverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.07.2012
Erteilt am 08.05.2019
Vertretung
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08.05.2019
Fotoelektrischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2005
Erteilt am 08.05.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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01.05.2019
Verfahren zum Betrieb einer Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.06.2017
Erteilt am 01.05.2019
Vertretung
Zusammenfassung
A method is disclosed for operating a coordinate measuring machine (CMM) including a workpiece scanning probe. The method provides two different measurement sampling period durations in the scanning probe: a first shorter sampling duration provides a faster measurement having a first accuracy, a second longer sampling duration provides a slower measurement having a second (better) accuracy. The shorter sampling duration may be repeatedly interleaved or alternated with the longer sampling duration to provide sufficient accuracy and response time for motion control purposes during ongoing operation of the CMM. The longer sampling duration may provide high accuracy probe measurements to combine with position coordinate values from encoders located on motion axes of the CMM (outside the scanning probe) to provide high accuracy workpiece measurements at a desired frequency, or upon demand. A probe measurement timing subsystem may determine initiation times of the first and second sampling durations. |
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24.04.2019
Korrektur der Chromatischen Aberration in einem Bildgebungssystem mit Objektiv mit Variabler Brennweite
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 12.09.2016
Erteilt am 24.04.2019
Vertretung
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24.04.2019
Skala für einen photoelektrischen Codierer und Herstellungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2012
Erteilt am 24.04.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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24.04.2019
Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2013
Erteilt am 24.04.2019
Vertretung
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17.04.2019
Härtetester und Härtetestverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.06.2012
Erteilt am 17.04.2019
Vertretung
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10.04.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Quellensignals eines Kodierers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2006
Erteilt am 10.04.2019
Vertretung
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03.04.2019
Kontaktlose optische Sonde und Messmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.11.2010
Erteilt am 03.04.2019
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.03.2019
Tastkopf für Koordinatenmessmaschine mit Digitalsignalkommunikation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.12.2017
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
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20.03.2019
Messvorrichtung mit Gemultiplexten Positionssignalen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2016
Erteilt am 20.03.2019
Vertretung
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13.03.2019
Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.09.2012
Erteilt am 13.03.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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13.03.2019
LED-Beleuchtungsanordnung und Vorrichtung für eine Bildmessvorrichtung
Steuerungs- & Regelungstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 19.11.2013
Erteilt am 13.03.2019
Vertretung
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27.02.2019
Interferometersystem mit Luftleitung für feinmechanische Trägerplatte
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.09.2012
Erteilt am 27.02.2019
Vertretung
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20.02.2019
Härtetester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2012
Erteilt am 20.02.2019
Vertretung
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06.02.2019
Rauheitsmessungseinheit und Koordinatenmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2013
Erteilt am 06.02.2019
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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23.01.2019
Messung des Wärmeausdehnungskoeffizienten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
A measurement target (step gauge (10)) and a reference gauge (reference gauge block (2)) are placed in parallel in an inside of a temperature-controlled chamber (30). After an interior temperature of the temperature-controlled chamber (30) is set at a first temperature, a relative measurement of a length from a first surface (11) to a second surface (12) of the measurement target is performed with reference to a length from a first reference surface (2A) to a second reference surface (2B) of the reference gauge. Then, the interior temperature of the temperature-controlled chamber (30) is set at a second temperature and a relative measurement of the length from the first surface (11) to the second surface (12) is similarly performed with reference to the length from the first reference surface (2A) to the second reference surface (2B). A CTE of the measurement target is calculated based on the length of the measurement target at the first temperature and the length of the measurement target at the second temperature. |
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16.01.2019
Ermittlung des Zentrums einer V-Nut
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.08.2014
Erteilt am 16.01.2019
Vertretung
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09.01.2019
Ausrichtungsanpassungsmechanismus und Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.05.2010
Erteilt am 09.01.2019
Vertretung
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03.01.2019
Self-configuring component identification and signal processing system for a coordinate measurement machine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.06.2018
Anhängig
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02.01.2019
Kugelformmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.11.2013
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
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02.01.2019
Optischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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02.01.2019
Autofokusmechanismus
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.04.2013
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
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02.01.2019
Verfahren zur Kalibrieren der Beleuchtung einer Beleuchtungsvorrichtung; Steuerung und Program zur Kalibrieren der Beleuchtungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.01.2004
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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26.12.2018
Berührungslose Messsonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.11.2008
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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26.12.2018
Photoelektrischer Codierer vom Absolutpositionsdetektionstyp
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
There is provided an absolute position detection type photoelectric encoder which improves robustness to dirt while maintaining high resolution. A two-level code pattern according to a pseudo random code sequence is provided on a scale along a length measurement direction. Each code of the two-level code pattern indicates a code "1" or a code "0", and includes two bits. Each of the two bits is L or H. The code "1" is represented by an A pattern which is a combination of L and H, and the code "0" is represented by a B pattern which is a combination of L and L or a C pattern which is a combination of H and H. When the codes "0" are continued, the B pattern and the C pattern are alternately used. |
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26.12.2018
Verfahren zur Bestimmung gesättigter Absorptionslinien und Laserfrequenzstabilisierungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.01.2013
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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