Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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19.12.2018
Konfiguration mit mehreren Wellenlänge für einen optischen Codierlesekopf
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2013
Erteilt am 19.12.2018
Vertretung
Zusammenfassung
A readhead and scale arrangement 1000 comprises: a readhead 100 comprising a light source 180 configured to output diverging source light 150 comprising a plurality of individually detected wavelengths and at least a first optical signal receiver channel configured to provide a first set of position signals; and a scale track 86 extending along the measuring axis 82 direction on a scale member 81 comprising a scale grating 80, the scale track 86 configured to diffract the first diverging source light to provide first and second diffracted scale light portions of each of the individually detected wavelengths to the first optical signal receiver channel which provide interference fringes. The readhead 100 comprises an optical path difference element 365, arranged such that respective wavelengths undergo different phase shifts. Such an encoder is robust to scale track contamination and other signal degradation. |
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19.12.2018
Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.07.2012
Erteilt am 19.12.2018
Vertretung
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12.12.2018
Laserinterferometer, Messverfahren und Messprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.04.2009
Erteilt am 12.12.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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05.12.2018
Optische Konfiguration für eine Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2016
Erteilt am 05.12.2018
Vertretung
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05.12.2018
Interferenzobjektivlinseneinheit und Lichtinterferenzmessungsvorrichtung damit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.10.2011
Erteilt am 05.12.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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21.11.2018
Kantenpositionsmesskorrektur für koaxiale Lichtbilder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 22.03.2012
Erteilt am 21.11.2018
Vertretung
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07.11.2018
Organisches elektrolumineszierendes Dot-Matrix Display für ein Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.09.2012
Erteilt am 07.11.2018
Vertretung
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07.11.2018
Verfahren zur Steuerung einer Messvorrichtung zum Bestimmen einer Form
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.05.2016
Erteilt am 07.11.2018
Vertretung
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07.11.2018
Langzeitvibrationssensor und Verfahren zur Korrektur des Ausgabewertes des Langzeitvibrationssensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2012
Erteilt am 07.11.2018
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
Zusammenfassung
A long-period vibration sensor includes an overdamped accelerometer including a magnet fixed to the inside of a casing, a detection coil disposed between magnetic poles formed due to the magnet, a bobbin configured to hold the detection coil, and a support spring configured to support the bobbin in the casing so that the bobbin can vibrate in a predetermined direction, a voltage being outputted from the detection coil when the bobbin is damped, a plurality of digital filters having different frequency characteristics from one another, a selection module configured to select one digital filter from the plurality of digital filters based on an output value of the voltage outputted from the overdamped accelerometer, and a correction module configured to correct the output value of the voltage outputted from the overdamped accelerometer using the digital filter selected by the selection module. |
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31.10.2018
Interferometersystem und Verfahren zur Erzeugung eines Interferenzsignals einer Oberfläche einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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31.10.2018
Bildsequenz und Beurteilungsverfahren, System und COMPUTERPROGRAMM zur strukturierten Beleuchtungsmikroskopie für 3D Höhenprofilsbestimmung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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24.10.2018
Härtetestverfahren, Härtetester und computerlesbares Speichermedium mit darauf gespeichertem Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.01.2011
Erteilt am 24.10.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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24.10.2018
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.02.2013
Erteilt am 24.10.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
A photoelectric encoder includes an irradiation unit (10) configured to apply first and second irradiation light beams (L1a,L1b) having a first linear polarization direction, a scale (20) configured to produce first and second diffraction light beams having the first linear polarization direction by diffracting the first and second irradiation light beams, respectively, the scale having a glass plate whose front surface has a grating shape (21), a polarizing unit (30) configured to convert the first diffraction light beam into a third diffraction light beam (L2c) having a second linear polarization direction which is perpendicular to the first linear polarization direction, to produce first and second composite light beams by combining the second diffraction light beam and the third diffraction light beam, and to convert the first composite light beam into a circularly polarized third composite light beam, and a light receiver configured to receive the second composite light beam and the third composite light beam. |
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24.10.2018
Weisslicht Interferenzmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2011
Erteilt am 24.10.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
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26.09.2018
Wärmeausdehnungskoeffizientmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.09.2018
Daten-Übertragungs / Empfangsverfahren und Vorrichtung für einen Messwertgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 23.04.2004
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.09.2018
Fokuserkennungsvorrichtung mit erweiterter Reichweite
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.04.2009
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.09.2018
Gitter für photoelektrischen Reflektions-Positionsgeber und Photoelektrischer Reflektions-Positionsgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2005
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.09.2018
Kalibrationsverfahren für eine Vorrichtung zur Messung der Oberflächentextur und genannte Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 04.05.2004
Erteilt am 19.09.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.09.2018
Verschiebungserkennungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.09.2018
Koordinatenkorrekturverfahren und Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.09.2018
Verfahren zum Geradheitskorrektur einer Oberflächentexturmesseinrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2006
Erteilt am 05.09.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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29.08.2018
Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung der Messposition eines Resonanzsensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2008
Erteilt am 29.08.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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29.08.2018
Optisches Linsensystem und photoelektrischer Encoder
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2007
Erteilt am 29.08.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.08.2018
Halbleiterpaket und Verfahren zu seiner Herstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.01.2013
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
Zusammenfassung
A semiconductor package includes a semiconductor device and a substrate, the semiconductor device including a straight line portion on an outer periphery and the substrate supporting the semiconductor device. A foil positioning pattern is formed on a front surface of the substrate, the positioning pattern touching the straight line portion of the semiconductor device to regulate a position of the semiconductor device. |
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08.08.2018
Optischer Codierer mit Verlagerungserkennung senkrecht zu Gitteroberfläche der Codiererskala
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2012
Erteilt am 08.08.2018
Vertretung
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25.07.2018
Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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11.07.2018
Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.07.2013
Erteilt am 11.07.2018
Vertretung
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04.07.2018
Austauschbare Optikkonfiguration für einen Lesestift eines Sensors mit chromatischem Bereich
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2013
Erteilt am 04.07.2018
Vertretung
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30.05.2018
Wegmesseinrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.12.2006
Erteilt am 30.05.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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30.05.2018
Härtetester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2013
Anhängig
Vertretung
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23.05.2018
Digitale Anzeige- und Mehrpunktmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2013
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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23.05.2018
Rückkopplungsregelungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2016
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
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18.04.2018
Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2012
Erteilt am 18.04.2018
Vertretung
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18.04.2018
Wärmeausdehnungskoeffizientenmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.04.2018
Verfahren zur Steuerung einer Formmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 20.05.2016
Erteilt am 18.04.2018
Vertretung
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18.04.2018
Doppelkegeltaststift
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2013
Erteilt am 18.04.2018
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
A double cone stylus 30 includes a shank 32 and a double cone-shaped tip 34 attached to the tip end of the shank, the double cone-shaped tip being a rotationally symmetric body obtained by rotating a triangle having a base extending along the shank around the shank as the symmetric rotation axis. The double cone stylus allows the shape of an inner wall surface of a measurement object with the inner wall surface retracted from an upper reference plane 8A to be measured from above. |
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11.04.2018
Messsonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.04.2018
Konfigurationen für Impulslichtquelle mit hoher Intensität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.04.2010
Erteilt am 04.04.2018
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.04.2018
Positionsdetektionskodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 28.05.2014
Erteilt am 04.04.2018
Vertretung
Zusammenfassung
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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