Nikon Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.320 gesamt| Patent | |||
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04.05.2005
System zum Anzeigen der Restladung einer Batterie und Kamera
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2004
Anhängig
Vertretung
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27.04.2005
Elektronische Kamera
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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09.03.2005
Retikellagerkammer und Retikelkassetten zur Temperaturkontrolle und zum schnellen Entlagern von Retikeln zur Belichtung
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.12.2002
Anhängig
Vertretung
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09.02.2005
Haltevorrichtung für ein optisches Element eines Belichtungsapparats
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2001
Anhängig
Vertretung
Geyer, Werner, Dr.-Ing · München
Geyer, Fehners & Partner · München
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26.01.2005
Beleuchtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2001
Anhängig
Vertretung
Ter Meer Steinmeister & Partner · München
TER MEER STEINMEISTER & PARTNER GbR · München
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26.01.2005
Deformierbarer Spiegel mit passiven und aktiven Aktuatoren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.07.2003
Anhängig
Vertretung
Jentschura, Rolf · München
Jentschura, Rolf · München
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05.01.2005
Belichtungsverfahren, Belichtungseinrichtung und Bauelementeherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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29.12.2004
Auswertung einer Eigenschaft eines lithographischen Systems
Optik & Fototechnik
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29.12.2004
Synthetisches Quarzglaselement und Herstellungsverfahren dafür
Anorganische Chemie & Werkstoffe
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22.12.2004
Optisches Beugungselement und Verfahren zu Seiner Herstellung und Optische Einrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2003
Anhängig
Vertretung
Volpert, Marcus · München
Volpert, Marcus · München
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22.12.2004
Mikrostellantrieb und Diesen Verwendender Optischer Schalter
Optik & Fototechnik
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22.12.2004
Optische Wellenleitervorrichtung mit Lorentz-Kraft
Optik & Fototechnik
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15.12.2004
Lichtstrahlschalt-/-Einstellvorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
Optik & Fototechnik
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24.11.2004
Belichtungseinrichtung und Belichtungsverfahren
Optik & Fototechnik
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17.11.2004
Bilderzeugungszustandseinstellsystem, Belichtungsverfahren, Belichtungsvorrichtung, Programm und Informationsaufzeichnungsmedium
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.11.2004
Ausrichtung für Lithographie
Optik & Fototechnik
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27.10.2004
Fotomaske mit hoch aufgelöster Identifizierungsmarkierung, sowie Gerät und Methode zur Identifizierung solcher Masken
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.09.2003
Anhängig
Vertretung
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20.10.2004
Spektralmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.10.2004
Fluoridkristallmaterial für eine Optische Einrichtung für eine Fotolithographische Vorrichtung und Verfahren zu Seiner Herstellung
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Optik & Fototechnik
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29.09.2004
Belichtungsapparat und Einheit zur Einstellung einer Oberflächenposition
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.07.2001
Anhängig
Vertretung
W.P. Thompson & Co · Liverpool
WP Thompson · Liverpool
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08.09.2004
Verfahren zur Herstellung und Anpassung eines optischen Systems und eines Belichtungsapparats, Bestimmung der Spezifikation und Computersystem dafür
Optik & Fototechnik
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08.09.2004
Precursor-Zusammensetzung für ein Optisches Harz, Harz zur Optischen Verwendung; Optisches Element und Optische Artikel
Kunststoff- & Polymertechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2002
Anhängig
Vertretung
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01.09.2004
Optisches Projektionssystem, Belichtungsapparat und Bauelementherstellungsverfahren
Optik & Fototechnik
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18.08.2004
Inteferometersystem für ein Halbleiterbelichtungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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28.07.2004
Vorrichtungen zur Strahlerzeugung mit mehreren Plasma-Entladungsquellen und mikrolithographische Vorrichtungen-und Verfahren dazu
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 07.08.2002
Anhängig
Vertretung
Meddle, Alan L · München
Meddle, Alan Leonard · München
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30.06.2004
Projektionsbelichtungssystem sowie ein solches System benutzendes Gerät und Verfahren
Optik & Fototechnik
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30.06.2004
Kooperationssystem und -methode für einen Druckdienst
Software & Datenverarbeitung
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23.06.2004
Optisches Projektionssystem, Projektionsapparat und Projektionsbelichtungsmethode
Optik & Fototechnik
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16.06.2004
Optisches Projektionssystem sowie Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren
Optik & Fototechnik
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16.06.2004
Terahertz-Lichtvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.06.2004
Kinematische Halterung für optische Elemente
Optik & Fototechnik
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19.05.2004
Festkörperbildsensor, dessen Herstellungsverfahren und digitale Kamera
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2000
Anhängig
Vertretung
Volpert, Marcus · München
Volpert, Marcus · München
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19.05.2004
Minimalisierung thermischer Verformungen eines EUV Spiegels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.06.2003
Anhängig
Vertretung
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12.05.2004
Optisches Projektionssystem und Belichtungsgerät unter Verwendung desselben
Optik & Fototechnik
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28.04.2004
Optisches Projektionssystem und Belichtungseinrichtung mit dem Optischen Projektionssystem
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.06.2002
Anhängig
Vertretung
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28.04.2004
Optisches Glied für die Optische Lithographie und Bewertungsverfahren dafür
Optik & Fototechnik
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21.04.2004
Positionsdetektion
Optik & Fototechnik
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21.04.2004
Optisches Element mit einem Lanthanfluoridfilm
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Metallurgie & Oberflächentechnik
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14.04.2004
Polierelement, Cmp-Poliereinrichtung und Herstellungsverfahren für ein Halbleiterbauelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.07.2002
Anhängig
Vertretung
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14.04.2004
Interferometersystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.06.2002
Anhängig
Vertretung
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Wer vertritt Nikon?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Nikon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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