Topcon Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Patente

2002–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
06.07.2005	06.07.2005 Bildkalibrationsverfahren, Bildkalibrations-Verarbeitungseinrichtung und Bildkalibrationsverarbeitungsendgerût EP1550980 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2003 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2005	23.02.2005 Bauverwaltungssystem EP1262915 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.05.2002 Anhängig Vertretung Whitlock, Holly Elizabeth Ann · London Maucher Jenkins Milhench, Howard Leslie · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2005	26.01.2005 Elektronenstrahlvorrichtung und Verfahren zur Elektronenstrahl-Messung und -Beobachtung EP1501114 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.07.2004 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.12.2004	08.12.2004 Gerät und Verfahren zum Kalibrieren einer Zoomlinse EP1484576 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.06.2004 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.09.2004	01.09.2004 Vorrichtung zur Messung des Sehvermögens EP1332711 Medizintechnik & Gesundheit	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.01.2003 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.05.2004	26.05.2004 Oberflächenformmessvorrichtung, Oberflächenformmessverfahren, Oberflächenzustand-Grafikvorrichtung EP1422495 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.07.2002 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.05.2004	26.05.2004 Kalibrierungsobjekt EP1422496 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.07.2002 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.03.2004	25.03.2004 Eye characteristic measurement device and eye characteristic measurement method WO2004023989 Medizintechnik & Gesundheit	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.09.2003 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.12.2003	03.12.2003 "kontrastaufzeichnungsgerät, Gerät zur Messung der Kontrastsensitivität und Verfahren zur Messung der Kontrastsensitivität" EP1366706 Medizintechnik & Gesundheit	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2002 Anhängig Vertretung Hoffmann Eitle · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen