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Topcon Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

710
Patente
2002–2025
Anmeldejahre
22
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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710 gesamt
Patent
12.03.2008
Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Kontrast-Empfindlichkeit
EP1330979
Medizintechnik & Gesundheit
05.03.2008
Dreidimensionales Kalibrierungsfeld und Aufnahmeverfahren für dieses Feld
EP1482281
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Linsenfehler eines stereoskopischen Kamerasystems mit Zoom
EP1378790
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.11.2007
Electronic Lens
WO2007129376
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.10.2007
Method for manufacturing semiconductor device
WO2007116512
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2007
Vorrichtung und Verfahren zur stereoskopischen Bildwiedergabe
EP1343334
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.09.2007
Method for fabricating semiconductor device
WO2007102192
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2007
Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Bildvermessung
EP1589482
Software & Datenverarbeitung
09.08.2007
Semiconductor measuring apparatus and semiconductor measuring method
WO2007088587
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.06.2007
Semiconductor tester and method of testing semiconductor
WO2007072557
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.05.2007
Dreidimensionales Messsystem mit Projektionsvorrichtung
EP1770356
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.04.2007
Semiconductor Analyzer
WO2007037013
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.04.2007
Chamber matching method, semiconductor process assisting device, maintenance method, and maintenance assisting device
WO2007037012
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2007
Apparatus for assisting selection of measuring position
WO2007017942
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.02.2007
Semiconductor device fabrication inspection device having self-diagnosis function
WO2007013170
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2007
Semiconductor measuring apparatus, semiconductor measuring method and semiconductor device manufacturing method
WO2007007372
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.01.2007
Optical component and method for manufacturing the same
WO2007004506
Optik & Fototechnik
21.12.2006
Thin film measuring apparatus, thin film measuring method and thin film manufacturing method
WO2006134662
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.12.2006
Semiconductor manufacturing apparatus
WO2006129348
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.12.2006
Semiconductor inspecting/manufacturing apparatus
WO2006129347
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.11.2006
Semiconductor device fabricating method
WO2006120722
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.07.2005
Bildkalibrationsverfahren, Bildkalibrations-Verarbeitungseinrichtung und Bildkalibrationsverarbeitungsendgerût
EP1550980
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
23.02.2005
Bauverwaltungssystem
EP1262915
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
26.01.2005
Elektronenstrahlvorrichtung und Verfahren zur Elektronenstrahl-Messung und -Beobachtung
EP1501114
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2004
Gerät und Verfahren zum Kalibrieren einer Zoomlinse
EP1484576
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
01.09.2004
Vorrichtung zur Messung des Sehvermögens
EP1332711
Medizintechnik & Gesundheit
26.05.2004
Oberflächenformmessvorrichtung, Oberflächenformmessverfahren, Oberflächenzustand-Grafikvorrichtung
EP1422495
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
26.05.2004
Kalibrierungsobjekt
EP1422496
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.03.2004
Eye characteristic measurement device and eye characteristic measurement method
WO2004023989
Medizintechnik & Gesundheit
03.12.2003
"kontrastaufzeichnungsgerät, Gerät zur Messung der Kontrastsensitivität und Verfahren zur Messung der Kontrastsensitivität"
EP1366706
Medizintechnik & Gesundheit

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Technologiefelder

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Medizintechnik & Gesundheit
293
Software & Datenverarbeitung
105
Optik & Fototechnik
46
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
16
Straßen-, Wasser- & Tiefbau
14
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
11
Steuerungs- & Regelungstechnik
10
Luft- & Raumfahrttechnik
10
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
6
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
5

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