Topcon Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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489 gesamt| Patent | |||
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14.10.2015
Optischer Tomograph
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Status
Angemeldet am 16.11.2007
Erteilt am 14.10.2015
Vertretung
Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch · München
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07.05.2014
Optisches Dreidimensionales Strukturmessgerät und Strukturinformationsverarbeitungsverfahren Dazu
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Status
Angemeldet am 03.03.2010
Erteilt am 07.05.2014
Vertretung
Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch · München
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05.03.2014
Messeinrichtung
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19.02.2014
Optisches Tomographiegerät
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Angemeldet am 09.12.2005
Erteilt am 19.02.2014
Vertretung
Klunker . Schmitt-Nilson . Hirsch · München
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02.10.2013
Farbkodiertes Ziel, Farbkodenextraktionsvorrichtung und System zum Messen in drei Dimensionen
EP2068117
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.09.2013
Distanzmessvorrichtung und Distanzmessverfahren
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05.09.2012
Vorrichtung und Verfahren zur Bildverarbeitung
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20.06.2012
Gerät und Verfahren zum Bilden eines Modells, und Bildaufnahmegerät und -Verfahren
EP1607716
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.06.2012
Einrichtung zum Installieren einer Vakuum-Einspannvorrichtung für eine Brillenlinse und Verfahren zur Bestimmung der Vakuum-Einspannvorrichtungs-Installationsposition
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02.05.2012
Q-geschalteter Mikrolaser und dessen Verwendungsverfahren
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Status
Angemeldet am 31.03.2008
Erteilt am 02.05.2012
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner GbR · München
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25.01.2012
Bilderfassungsvorrichtung und -Verfahren für Dreidimensionales Messen
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11.05.2011
Elektronische Bildaufnahmevorrichtung mit Bildkorrekturfunktion und dazugehöriges Verfahren
EP1507407
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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05.01.2011
Verfahren und Gerät zur dreidimensionalen Darstellung von aus Stereobildern generierten Modellen
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13.10.2010
Dreidimensionales Messsystem und Verfahren dafür sowie farbkodierte Markierung
EP1750090
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.04.2010
Vorrichtung und Verfahren zur stereoskopischen Bildwiedergabe
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09.07.2008
Vermessungseinrichtung und Vermessungsverfahren
EP1942354
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.05.2008
Semiconductor inspection equipment and semiconductor inspection method
WO2008053518
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.10.2006
Anhängig
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08.05.2008
Semiconductor inspecting apparatus
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Status
Angemeldet am 27.10.2006
Anhängig
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08.05.2008
Semiconductor inspecting apparatus and semiconductor inspecting method
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Status
Angemeldet am 31.10.2006
Anhängig
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12.03.2008
Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Kontrast-Empfindlichkeit
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Status
Angemeldet am 07.01.2003
Erteilt am 12.03.2008
Vertretung
Jacob, Reuben Ellis · London
Milhench, Howard Leslie · London
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05.03.2008
Dreidimensionales Kalibrierungsfeld und Aufnahmeverfahren für dieses Feld
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12.12.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Linsenfehler eines stereoskopischen Kamerasystems mit Zoom
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15.11.2007
Electronic Lens
WO2007129376
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.04.2006
Anhängig
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18.10.2007
Method for manufacturing semiconductor device
WO2007116512
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.04.2006
Anhängig
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10.10.2007
Vorrichtung und Verfahren zur stereoskopischen Bildwiedergabe
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13.09.2007
Method for fabricating semiconductor device
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Status
Angemeldet am 06.03.2006
Anhängig
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29.08.2007
Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Bildvermessung
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09.08.2007
Semiconductor measuring apparatus and semiconductor measuring method
WO2007088587
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.01.2006
Anhängig
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28.06.2007
Semiconductor tester and method of testing semiconductor
WO2007072557
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.12.2005
Anhängig
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09.05.2007
Dreidimensionales Messsystem mit Projektionsvorrichtung
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05.04.2007
Semiconductor Analyzer
WO2007037013
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.09.2005
Anhängig
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05.04.2007
Chamber matching method, semiconductor process assisting device, maintenance method, and maintenance assisting device
WO2007037012
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.09.2005
Anhängig
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15.02.2007
Apparatus for assisting selection of measuring position
WO2007017942
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.08.2005
Anhängig
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01.02.2007
Semiconductor device fabrication inspection device having self-diagnosis function
WO2007013170
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2005
Anhängig
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18.01.2007
Semiconductor measuring apparatus, semiconductor measuring method and semiconductor device manufacturing method
WO2007007372
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.07.2005
Anhängig
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11.01.2007
Optical component and method for manufacturing the same
WO2007004506
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2006
Anhängig
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21.12.2006
Thin film measuring apparatus, thin film measuring method and thin film manufacturing method
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Status
Angemeldet am 17.06.2005
Anhängig
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07.12.2006
Semiconductor manufacturing apparatus
WO2006129348
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.05.2005
Anhängig
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07.12.2006
Semiconductor inspecting/manufacturing apparatus
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Status
Angemeldet am 31.05.2005
Anhängig
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16.11.2006
Semiconductor device fabricating method
WO2006120722
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.05.2005
Anhängig
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Wer vertritt Topcon?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Topcon vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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