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Topcon Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489
Patente
2002–2025
Anmeldejahre
21
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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489 gesamt
Patent
14.10.2015
Optischer Tomograph
EP1922990 Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
07.05.2014
Optisches Dreidimensionales Strukturmessgerät und Strukturinformationsverarbeitungsverfahren Dazu
EP2409650 Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
05.03.2014
Messeinrichtung
EP1923721 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
19.02.2014
Optisches Tomographiegerät
EP1705476 Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
02.10.2013
Farbkodiertes Ziel, Farbkodenextraktionsvorrichtung und System zum Messen in drei Dimensionen
EP2068117 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.09.2013
Distanzmessvorrichtung und Distanzmessverfahren
EP2375265 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
05.09.2012
Vorrichtung und Verfahren zur Bildverarbeitung
EP1843292 Software & Datenverarbeitung erteilt
20.06.2012
Gerät und Verfahren zum Bilden eines Modells, und Bildaufnahmegerät und -Verfahren
EP1607716 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.06.2012
Einrichtung zum Installieren einer Vakuum-Einspannvorrichtung für eine Brillenlinse und Verfahren zur Bestimmung der Vakuum-Einspannvorrichtungs-Installationsposition
EP1736816 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
02.05.2012
Q-geschalteter Mikrolaser und dessen Verwendungsverfahren
EP1978611 Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
25.01.2012
Bilderfassungsvorrichtung und -Verfahren für Dreidimensionales Messen
EP2410290 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
11.05.2011
Elektronische Bildaufnahmevorrichtung mit Bildkorrekturfunktion und dazugehöriges Verfahren
EP1507407 Nachrichtentechnik & Telekommunikation
05.01.2011
Verfahren und Gerät zur dreidimensionalen Darstellung von aus Stereobildern generierten Modellen
EP1536378 Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation erteilt
13.10.2010
Dreidimensionales Messsystem und Verfahren dafür sowie farbkodierte Markierung
EP1750090 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.04.2010
Vorrichtung und Verfahren zur stereoskopischen Bildwiedergabe
EP1534021 Nachrichtentechnik & Telekommunikation erteilt
09.07.2008
Vermessungseinrichtung und Vermessungsverfahren
EP1942354 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.05.2008
Semiconductor inspection equipment and semiconductor inspection method
WO2008053518 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.05.2008
Semiconductor inspecting apparatus
WO2008053512 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2008
Semiconductor inspecting apparatus and semiconductor inspecting method
WO2008053524 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2008
Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen der Kontrast-Empfindlichkeit
EP1330979 Medizintechnik & Gesundheit erteilt
05.03.2008
Dreidimensionales Kalibrierungsfeld und Aufnahmeverfahren für dieses Feld
EP1482281 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
12.12.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Linsenfehler eines stereoskopischen Kamerasystems mit Zoom
EP1378790 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
15.11.2007
Electronic Lens
WO2007129376 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.10.2007
Method for manufacturing semiconductor device
WO2007116512 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2007
Vorrichtung und Verfahren zur stereoskopischen Bildwiedergabe
EP1343334 Nachrichtentechnik & Telekommunikation erteilt
13.09.2007
Method for fabricating semiconductor device
WO2007102192 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2007
Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Bildvermessung
EP1589482 Software & Datenverarbeitung erteilt
09.08.2007
Semiconductor measuring apparatus and semiconductor measuring method
WO2007088587 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.06.2007
Semiconductor tester and method of testing semiconductor
WO2007072557 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.05.2007
Dreidimensionales Messsystem mit Projektionsvorrichtung
EP1770356 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.04.2007
Semiconductor Analyzer
WO2007037013 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.04.2007
Chamber matching method, semiconductor process assisting device, maintenance method, and maintenance assisting device
WO2007037012 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2007
Apparatus for assisting selection of measuring position
WO2007017942 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.02.2007
Semiconductor device fabrication inspection device having self-diagnosis function
WO2007013170 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.01.2007
Semiconductor measuring apparatus, semiconductor measuring method and semiconductor device manufacturing method
WO2007007372 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.01.2007
Optical component and method for manufacturing the same
WO2007004506 Optik & Fototechnik
21.12.2006
Thin film measuring apparatus, thin film measuring method and thin film manufacturing method
WO2006134662 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.12.2006
Semiconductor manufacturing apparatus
WO2006129348 Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.12.2006
Semiconductor inspecting/manufacturing apparatus
WO2006129347 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.11.2006
Semiconductor device fabricating method
WO2006120722 Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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