Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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21.08.2024
Verfahren zur Authentifizierung von Bilddaten
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.03.2024
Anhängig
Vertretung
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25.07.2024
Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 05.01.2024
Anhängig
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24.07.2024
Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Bilddaten
Optik & Fototechnik
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10.07.2024
Verfahren zum Detektieren von Emissionslicht, Detektionsvorrichtung und Laserscanning-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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15.05.2024
Digitales Mikroskop und Mikroskopischer Satz
Optik & Fototechnik
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08.05.2024
Funktionales Modul und damit Ausgestattetes Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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17.04.2024
Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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03.04.2024
Verfahren zum Korrigieren einer Farbwiedergabe eines Digitalen Mikroskops sowie Digitales Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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28.02.2024
Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2019
Erteilt am 28.02.2024
Vertretung
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21.02.2024
Verfahren und Systeme zum Abtasten einer Oberfläche eines Objekts unter Verwendung eines Teilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.05.2013
Erteilt am 21.02.2024
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
Zusammenfassung
A method of scanning a surface of an object using a particle beam comprises: determining a surface portion of the surface of the object, wherein the surface portion is to be scanned; determining initial positions of a set of raster points within the surface portion; changing the positions of at least some raster points of the set of raster points; and then scanning the surface portion by directing the particle beam to the positions of the raster points. |
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01.02.2024
Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.07.2023
Anhängig
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31.01.2024
Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2011
Erteilt am 31.01.2024
Vertretung
Kraus & Lederer PartGmbB · München
Kraus & Weisert Patentanwälte PartGmbB · München
Zusammenfassung
Ein Mikroskopsystem umfasst ein Mikroskop (5-11) zur Datenaufnahme und eine Recheneinrichtung (2), die eingerichtet ist, um das Mikroskop (5-11) bei der Datenaufnahme zu steuern und/oder um von dem Mikroskop (5-11) bereitgestellte Rohdaten zu verarbeiten. Die Recheneinrichtung (2) ist mit einer optischen Ausgabeeinrichtung (3) gekoppelt. Das Mikroskop (5-11) und die Recheneinrichtung (2) sind eingerichtet, um die Datenaufnahme und/oder Datenverarbeitung abhängig von für eine Mehrzahl von Einstellgrößen jeweils eingestellten Werten durchzuführen. Die Recheneinrichtung (2) gibt abhängig von einer benutzerdefiniert ausgewählten Einstellgröße selektiv Grafikdaten (16) über die optische Ausgabeeinrichtung (3) aus, die der ausgewählten Einstellgröße zugeordnet sind und einen Einfluss der ausgewählten Einstellgröße auf wenigstens einen Schritt einer Prozedur, die der Datenaufnahme und/oder Datenverarbeitung zugrunde liegt, repräsentieren. |
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10.01.2024
Vorrichtung und Verfahren zum Manipulieren eines Fokus von Anregungslicht auf oder in einer Probe und Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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21.12.2023
Vorrichtung und Verfahren zur Lichtfeldmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.06.2023
Anhängig
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08.11.2023
Verfahren zur Bestimmung von Kristallografischen Eigenschaften einer Probe und Elektronenstrahlmikroskop zur Durchführung des Verfahrens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.07.2015
Erteilt am 08.11.2023
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
Zusammenfassung
Method of determining crystallographic properties of a sample comprises: generating first and second electron beams of electrons having first and second mean kinetic energies, respectively; detecting, for each of first locations of a region of the sample, a two-dimensional spatial distribution of electrons incident onto a detection area while directing the first electron beam onto the first locations; generating, for each of the first locations, first data representing the two-dimensional spatial distribution; detecting, for each of second locations of the region of the sample, a two-dimensional spatial distribution of electrons incident onto the detection area while directing the second electron beam onto the second locations; generating, for each of the second locations, second data representing the two-dimensional spatial distribution; and determining the crystallographic properties for target locations of the region based on the first data of the first locations and the second data of the second locations. |
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20.09.2023
Automatische Identifizierung von Interessierenden Bereichen auf Bildern Biologischer Zellen
Software & Datenverarbeitung
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13.09.2023
System, Einrichtung und Verfahren zur Lasererfassungs-Mikrodissektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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23.08.2023
Mikroskop und Verfahren zur Lichtfeldmikroskopie mit Lichtblattanregung sowie zur Konfokalen Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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16.08.2023
Verfahren zur Erzeugung von Bilddaten eines Objekts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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19.07.2023
Optikgruppe für Detektionslicht für ein Mikroskop, Verfahren zur Mikroskopie und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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21.06.2023
Verfahren zur Erzeugung eines Mikroskopbildes und Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.08.2010
Erteilt am 21.06.2023
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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14.06.2023
Verfahren zur Dekonvolution von Bilddaten
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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07.06.2023
Optische Anordnung, Multispot-Scanning-Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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07.06.2023
Verfahren und Lichtmikroskop mit einer Vielzahl von Arrays von Photonenzählenden Detektorelementen
Optik & Fototechnik
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17.05.2023
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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26.04.2023
Lichtfeld-Bildgebung mit Scanoptik
Optik & Fototechnik
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30.03.2023
Method for manufacturing three-dimensional structure
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.07.2022
Anhängig
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08.03.2023
Vorrichtung zur Abbildung einer Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 31.08.2015
Erteilt am 08.03.2023
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22.02.2023
Digitales Mikroskop und Verfahren zur Aufnahme und Darstellung Mikroskopischer Bilder
Optik & Fototechnik
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02.02.2023
Probenträger und dessen Verwendung sowie Verfahren, insbesondere zur Detektion von Pathogenen
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2022
Anhängig
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01.02.2023
Auswerteschaltung für einen Optoelektronischen Detektor und Verfahren zum Aufzeichnen von Fluoreszenzereignissen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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11.01.2023
Beschleunigte Verfahren und Vorrichtungen für die Dreidimensionale Mikroskopie mit Strukturierter Beleuchtung
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 29.10.2019
Erteilt am 11.01.2023
Vertretung
Schiffer, Axel Martin · München
Loritz, Rainer · Jena
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04.01.2023
Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren einer Objektoberfläche, insbesondere zum Inspizieren der Oberfläche eines Pulverbettes mit einer Vielzahl von Pulverpartikeln
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.11.2019
Erteilt am 04.01.2023
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
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21.12.2022
Bestimmung der Beleuchtungsgeometrie eines Mikroskops basierend auf der Klassifikation einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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21.12.2022
Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2014
Erteilt am 21.12.2022
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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08.12.2022
Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme von Trainingsdaten
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 18.05.2022
Anhängig
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08.12.2022
Mikroskopiesystem und Verfahren zum Erzeugen eines Virtuell Eingefärbten Bildes
Software & Datenverarbeitung
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08.12.2022
Mikroskopiesystem und Verfahren zum Erzeugen eines Virtuell Eingefärbten Bildes
Software & Datenverarbeitung
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07.12.2022
Mikroskopiesystem und Verfahren zum Erzeugen Stilisierter Kontrastbilder
Software & Datenverarbeitung
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17.11.2022
Bewertungsverfahren für Simulationsmodelle in der Mikroskopie
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.05.2022
Anhängig
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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