Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
02.08.2012
Pattern matching apparatus and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.08.2012
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.01.2012
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.08.2012
Microparticle having single-molecule nucleic acid probe, method for producing same, method for analyzing nucleic acid using same, device for nucleic acid analysis, and apparatus for analyzing nucleic acid
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.01.2012
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.07.2012
Circuit pattern inspection device and inspection method therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.07.2012
Image classification method and image classification apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.07.2012
Charged particle beam device, and image analysis device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.01.2012
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.07.2012
Analytical apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.07.2012
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.07.2012
Exposure device and exposure method
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.07.2012
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 09.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.07.2012
Method for manufacturing solar cell module, apparatus for manufacturing solar cell module, and solar cell module
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.01.2012
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.07.2012
Exposure device and exposure method
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.07.2012
Charged particle beam device and method for correcting detected signal thereof
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
11.07.2012
Chemisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.08.2010
Anhängig
Vertretung
Buchetmann, Dominik · München
Strehl & Partner mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Measuring device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.10.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Solar cell collecting electrode formation device and method, and coating head
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Charged particle radiation device with microscale management function
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.10.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Examination device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Reference member for correction, process for producing same, and scanning electron microscope using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.07.2012
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 09.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.06.2012
Inspecting apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.06.2012
Charged particle emission gun and charged particle ray apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 08.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.06.2012
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
28.06.2012
Reaction device for nucleic acid analysis, and nucleic acid analyzer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.06.2012
Charged particle beam applied apparatus, and irradiation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.06.2012
Defect inspection method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 08.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.06.2012
Method and apparatus for observing defects
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
21.06.2012
Scanning electron microscope and length measuring method using the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.12.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.06.2012
Defect inspecting apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.06.2012
Charged particle beam apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.10.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
13.06.2012
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.09.2006
Erteilt am 13.06.2012
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.06.2012
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.06.2012
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.10.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.06.2012
Inspection apparatus and inspection system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.10.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.06.2012
Liquid chromatograph, sample introduction device for liquid chromatograph, and method for cleaning sample introduction device for liquid chromatograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.06.2012
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.07.2010
Anhängig
Vertretung
Tiesmeyer, Johannes · München
Weickmann & Weickmann PartmbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.06.2012
Zentrifugalabscheider
Verfahrens- & Trenntechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.07.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.05.2012
Method for analyzing polychlorinated biphenyls in oil
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.11.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
31.05.2012
Ion milling device and ion milling processing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.11.2011
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29