Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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21.11.2012
Automatisches Analysegerät
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.12.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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15.11.2012
Defect review apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.04.2012
Anhängig
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15.11.2012
Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.03.2012
Anhängig
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15.11.2012
Defect observation method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.04.2012
Anhängig
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15.11.2012
Inspection method for film thickness of transfer-receiving object, manufacturing method for transfer-receiving object, manufacturing device for transfer-receiving object, and stamper for transfer
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 07.05.2012
Anhängig
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01.11.2012
Sample holding apparatus for electron microscope, and electron microscope apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.04.2012
Anhängig
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01.11.2012
Spectrophotometer and method for determining slit conditions thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.04.2012
Anhängig
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31.10.2012
Automatisches Mehrzweckanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.10.2012
Defect classification method, and defect classification system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.04.2012
Anhängig
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18.10.2012
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2012
Anhängig
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18.10.2012
Charged particle microscope device and image capturing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2012
Anhängig
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17.10.2012
Transmissionselektronenmikroskop und Testprobenbeobachtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.10.2012
Flow cell with long light path length
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.04.2012
Anhängig
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04.10.2012
Device and method for detecting angle of rotation from normal position of image
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.11.2011
Anhängig
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04.10.2012
Method and system for exposing alignment film for liquid crystal, and liquid crystal panel manufactured using system for exposing alignment film for liquid crystal
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.02.2012
Anhängig
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04.10.2012
Multipole and charged particle beam apparatus using same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.02.2012
Anhängig
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27.09.2012
Charged particle ray apparatus and pattern measurement method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.01.2012
Anhängig
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20.09.2012
Nucleic acid analysis device and nucleic acid analyzer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2012
Anhängig
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19.09.2012
Substrat mit Lichtsteuerbarer Zellhaftungseigenschaft, Verfahren zur Zellanalyse und -Fraktionierung sowie Vorrichtung zur Zellanalyse und -Fraktionierung
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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19.09.2012
Partikelhaltiges Zellaggregat
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 12.11.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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13.09.2012
Electron microscope sample holder and sample observation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
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13.09.2012
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.11.2011
Anhängig
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13.09.2012
Electron-microscope sample holder and sample-observation method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.10.2011
Anhängig
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13.09.2012
Plasma Spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2012
Anhängig
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12.09.2012
Massenspektrometer und Messsystem sowie Verfahren zur Flugzeit-Massenspektrometrie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.05.2002
Erteilt am 12.09.2012
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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07.09.2012
Image processing device and computer program for performing image processing
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2012
Anhängig
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07.09.2012
Specimen data processing device for analysis device, auto-sampler device, liquid chromatograph device, specimen data processing method, and analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.02.2012
Anhängig
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07.09.2012
Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.02.2012
Anhängig
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30.08.2012
Vacuum device and lubricating oil used therein
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
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Status
Angemeldet am 07.12.2011
Anhängig
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30.08.2012
Pattern dimensions measurement method and charged particle beam apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
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30.08.2012
Pattern matching apparatus, and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
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29.08.2012
Gastemperatur-/feuchtigkeitsregelungsverfahren und Gaszufuhrvorrichtung
Pharma & Biotechnologie
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.10.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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23.08.2012
Charged particle beam microscope, and method for correcting measured image using same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
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23.08.2012
Analyzer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2012
Anhängig
Zusammenfassung
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16.08.2012
Microstructure transfer device and microstructure transfer method
Kunststoff- & Polymertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.02.2012
Anhängig
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16.08.2012
Device for detecting foreign matter and method for detecting foreign matter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.02.2012
Anhängig
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09.08.2012
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
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02.08.2012
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.12.2011
Anhängig
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02.08.2012
Pattern observation device, recipe production device, and recipe production method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.11.2011
Anhängig
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02.08.2012
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2011
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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