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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
29.12.2011
Sample stage device
WO2011162325
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.12.2011
Liquid mixing device and liquid chromatograph
WO2011158430
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2011
Charged particle beam device and soundproofing cover
WO2011158458
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2011
Circuit pattern inspection device, and inspection method therefor
WO2011155122
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2011
Observation image classification reference optimization method and image classification device
WO2011155123
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
15.12.2011
Method and apparatus for inspecting defect
WO2011155345
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2011
Spectrophotometer
WO2011155368
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.12.2011
Stamper for microstructure transfer and microstructure transfer device
WO2011155582
Kunststoff- & Polymertechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.12.2011
Ladungsträgerstrahlgerät und Methode zur Messung von Musterdimensionen
EP1646067
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2011
Pattern measurement device, pattern measurement method, and program
WO2011152106
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
08.12.2011
Charged particle beam device provided with automatic aberration correction method
WO2011152303
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.12.2011
Defect inspection method and device therefor
WO2011152261
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.12.2011
Image processing device, charged particle beam device, charged particle beam device adjustment sample, and manufacturing method thereof
WO2011148975
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.12.2011
Inspection system
WO2011148991
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.11.2011
Verfahren und Geräte zur Analyse von Nukleinsäuren-Amplifikation.
EP2233579
Pharma & Biotechnologie
24.11.2011
Pattern dimension measurement method, pattern dimension measurement device, program for causing computer to execute pattern dimension measurement method, and recording medium having same recorded thereon
WO2011145338
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2011
Nucleic acid analysis reaction cell and nucleic acid analyzer
WO2011142085
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2011
Defect inspection method, and device thereof
WO2011142196
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2011
Nucleic acid analysis device, method for producing same, and nucleic acid analyzer
WO2011142307
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.11.2011
Template matching processing device and template matching processing program
WO2011138882
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
10.11.2011
Scanning electron microscope and sample observation method
WO2011138853
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.11.2011
Rasterelektronenmikroskop
EP1777729
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.11.2011
Plasmaverarbeitungsanlage und Plasmaerzeugungsanlage
EP2384098
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
27.10.2011
Gas field ionization source and ion beam device
WO2011132767
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.10.2011
Reviewing method and reviewing device
WO2011132766
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.10.2011
Ablenkvorrichtung, Herstellungsverfahren und Verwendung in einem geladenen Teilchen-Strahl-Beleuchtungsgerät
EP1453076
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.10.2011
Elementary analysis device and method
WO2011129189
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.10.2011
Inspection method and device therefor
WO2011125925
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.10.2011
Transmissionselektronenmikroskop mit Elektronenspektroskop
EP2375436
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2011
Testing device and testing method
WO2011121694
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.10.2011
Electron beam irradiation method and scanning electron microscope
WO2011121875
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2011
Substrate holding apparatus, substrate holding method, and inspecting apparatus and inspecting method using the substrate holding apparatus and the substrate holding method
WO2011121868
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2011
Patterned media defect inspector device and inspection method for stamper for patterned media employing same
WO2011122096
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.10.2011
Surface inspection device and surface inspection method
WO2011122649
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.10.2011
Probentransportsystem
EP2100830
Verpackungs- & Fördertechnik
29.09.2011
Inspection device and inspection method
WO2011117943
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.09.2011
Microchannel chip and microarray chip
WO2011118331
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.09.2011
Stamp for micropattern transfer
WO2011118289
Kunststoff- & Polymertechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
29.09.2011
Composite charged-particle-beam apparatus
WO2011118744
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.09.2011
Image processing apparatus, image processing method, and image processing program
WO2011118745
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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