Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
4.287 gesamt| Patent | |||
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14.03.2013
Region setting device, observation device or inspection device, region setting method, and observation method or inspection method using region setting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.07.2012
Anhängig
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14.03.2013
Emitter, gas field ionization ion source, and ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2012
Anhängig
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07.03.2013
Surface shape measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2012
Anhängig
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06.03.2013
Saugfähiger Artikel und Verfahren zu Seiner Herstellung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.04.2011
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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06.03.2013
Probenbeobachtungsverfahren und Transmissionselektronenstrahlmikroskop
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.11.2003
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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28.02.2013
Method for estimating shape before shrink, and cd-sem apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2012
Anhängig
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28.02.2013
Optical microscope device and testing apparatus comprising same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2012
Anhängig
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28.02.2013
Electron gun and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.05.2012
Anhängig
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28.02.2013
Charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.08.2012
Anhängig
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28.02.2013
Enlargement imaging device and image sensor
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.07.2012
Anhängig
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27.02.2013
Vorrichtung und Verfahren zum Elektronenstrahlschreiben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.07.2003
Erteilt am 27.02.2013
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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20.02.2013
Ionenstrahlvorrichtung und Ionenstrahlverarbeitungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.04.2011
Anhängig
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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07.02.2013
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.07.2012
Anhängig
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07.02.2013
Genetic testing system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.05.2012
Anhängig
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07.02.2013
Recipe generating device, inspection assisting device, inspection system, and recording medium
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2012
Anhängig
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07.02.2013
Test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.08.2012
Anhängig
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07.02.2013
Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.05.2012
Anhängig
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31.01.2013
Electromagnetic lens and charged particle device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.07.2012
Anhängig
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31.01.2013
Charged particle beam apparatus and measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2012
Anhängig
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31.01.2013
Semiconductor inspecting system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.07.2012
Anhängig
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31.01.2013
Nucleic acid testing device
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 25.06.2012
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31.01.2013
Charged particle device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.05.2012
Anhängig
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31.01.2013
Optical tomographic image measuring apparatus and optical tomographic image measuring system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2012
Anhängig
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31.01.2013
Charged particle beam device
Steuerungs- & Regelungstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 09.07.2012
Anhängig
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24.01.2013
Method for automatically determining inspection conditions and measurement conditions of sample, and scanning microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2012
Anhängig
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24.01.2013
Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.05.2012
Anhängig
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24.01.2013
Scanning electron microscope and scanning tunneling electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.07.2012
Anhängig
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17.01.2013
Scanning electron microscope, defect inspection system, and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2012
Anhängig
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17.01.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.06.2012
Anhängig
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10.01.2013
Phase plate, and electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.05.2012
Anhängig
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10.01.2013
Optical inspection device, inspection system and coordinate management wafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.06.2012
Anhängig
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09.01.2013
Automatisches Analysegerät mit einem sich vertikal bewegenden Rührorgan
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2007
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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03.01.2013
Sample creation device, creation method, and charged particle beam device using same
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2012
Anhängig
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02.01.2013
Anionkonzentrations-Messvorrichtung und Element
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.08.2008
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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27.12.2012
Nucleic acid amplification apparatus and nucleic acid analysis apparatus
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 31.05.2012
Anhängig
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20.12.2012
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.04.2012
Anhängig
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13.12.2012
Stage device and control method for stage device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.06.2012
Anhängig
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13.12.2012
Charged particle beam device and sample production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.05.2012
Anhängig
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06.12.2012
Sample treatment device, sample treatment method, and reaction container for use therein
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.05.2012
Anhängig
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06.12.2012
Electron microscope and image capturing method using electron beam
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.05.2012
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.536
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.718
Software & Datenverarbeitung
295
Pharma & Biotechnologie
266
Verfahrens- & Trenntechnik
183
Medizintechnik & Gesundheit
114
Optik & Fototechnik
107
Elektronik & Schaltungstechnik
97
Verpackungs- & Fördertechnik
78
Elektrische Energietechnik
78
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
49
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
33