Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
4.287 gesamt| Patent | |||
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16.05.2013
Charged particle beam apparatus and method of measuring and correcting landing angle of charged particle beam
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.11.2012
Anhängig
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16.05.2013
Sample positioning apparatus, sample stage, and charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.11.2012
Anhängig
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16.05.2013
Cooling device, ion microscope, and observation device or inspection device
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2012
Anhängig
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15.05.2013
Transmissions-Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.05.2011
Anhängig
Vertretung
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10.05.2013
Observation specimen for use in electron microscopy, electron microscopy, electron microscope, and device for producing observation specimen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.10.2012
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10.05.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.09.2012
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02.05.2013
Analysis device and analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.10.2012
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25.04.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.09.2012
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25.04.2013
Sample cell and spectrophotometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2012
Anhängig
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24.04.2013
Kapillararray und Elektrophoresegerät sowie zugehörige Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.04.2003
Erteilt am 24.04.2013
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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24.04.2013
Probenabgabevorrichtung und damit versehener automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.08.2003
Erteilt am 24.04.2013
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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24.04.2013
Nucleinsäure-Analysevorrichtung und Nucleinsäure-Analysator damit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2008
Erteilt am 24.04.2013
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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24.04.2013
Vorrichtung für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2011
Anhängig
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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24.04.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Vorbehandlung Biologischer Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.04.2013
Ion source and ion beam device using same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.10.2012
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18.04.2013
Fluid mixer and fluid mixing method
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.10.2012
Anhängig
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11.04.2013
Inspection or observation device and specimen inspection or observation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.09.2012
Anhängig
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11.04.2013
Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2012
Anhängig
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10.04.2013
Transmissionsinterferenzmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.05.2011
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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04.04.2013
Defect observation method and defect observation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.07.2012
Anhängig
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04.04.2013
Charged particle beam apparatus that performs image classification assistance
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.07.2012
Anhängig
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04.04.2013
Cross-sectional shape estimating method and cross-sectional shape estimated device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.08.2012
Anhängig
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04.04.2013
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.06.2012
Anhängig
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04.04.2013
Spectrophotometer and signal integration method for spectrophotometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.07.2012
Anhängig
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04.04.2013
Optical element, method for manufacturing same, and shape inspecting apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.08.2012
Anhängig
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04.04.2013
Device for measuring shape formed on substrate
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 20.08.2012
Anhängig
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04.04.2013
Electric Field Discharge-Type Electron Source
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.09.2012
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03.04.2013
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.05.2003
Erteilt am 03.04.2013
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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28.03.2013
Charged particle beam device, method for adjusting charged particle beam device, and method for observing sample or inspecting sample
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.07.2012
Anhängig
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28.03.2013
Automatic analysis apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.09.2012
Anhängig
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27.03.2013
Transmissionselektronenmikroskop mit elektronischem Spektroskop und Verfahren zur Anzeigen von Spektralbildern
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.01.2008
Erteilt am 27.03.2013
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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27.03.2013
Elektronenmikroskop und Verfahren zur Einstellung der Sichtachse Dieses Elektronenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.03.2013
Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.03.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.09.2012
Anhängig
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14.03.2013
Pattern measurement device and pattern measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.03.2012
Anhängig
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14.03.2013
Multipole measurement apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.05.2012
Anhängig
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14.03.2013
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2012
Anhängig
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14.03.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2012
Anhängig
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14.03.2013
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.07.2012
Anhängig
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14.03.2013
Ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2012
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.536
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.718
Software & Datenverarbeitung
295
Pharma & Biotechnologie
266
Verfahrens- & Trenntechnik
183
Medizintechnik & Gesundheit
114
Optik & Fototechnik
107
Elektronik & Schaltungstechnik
97
Verpackungs- & Fördertechnik
78
Elektrische Energietechnik
78
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
49
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
33