Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
07.10.2010
Examining method and examining device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 04.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.10.2010
Examining apparatus and examining method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.11.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.10.2010
Liquid chromatograph, liquid chromatograph column and filter for liquid chromatograph column
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.03.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
07.10.2010
Method and device for creating composite image
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.04.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.09.2010
Sample analyzing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.03.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.09.2010
Autoanalyzer and pipetting nozzle for autoanalyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.09.2010
Pipetting nozzle for autoanalyzer, method for producing same and autoanalyzer using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 05.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
29.09.2010
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 12.05.2004
Erteilt am 29.09.2010
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.09.2010
Examination method and examination device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.11.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.09.2010
Etching apparatus, analysis apparatus, etching treatment method, and etching treatment program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.11.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.09.2010
Pattern inspecting apparatus and pattern inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.09.2010
Automatic analytical device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
15.09.2010
Trennanalysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.02.2004
Erteilt am 15.09.2010
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.09.2010
Analysis apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 18.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.09.2010
Liquid chromatograph and analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.03.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.09.2010
Surface inspecting apparatus and surface inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Defect inspecting method and defect inspecting apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 15.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Electron microscope, and specimen holding method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 15.10.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.10.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Defect observation method and defect observation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Pattern measurement apparatus
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Chemical analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.09.2010
Surface inspecting apparatus and method for correcting same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 02.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.08.2010
Autoanalyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.08.2010
Defect examining method and defect examining device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.08.2010
Sample observing method and scanning electron microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 09.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.08.2010
Mass spectrometric system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 15.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.08.2010
Automatic analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 12.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
19.08.2010
Immunoanalytical method and system using mass spectrometry technology
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 09.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Total internal reflection microscope apparatus and method for analyzing fluorescent sample
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.11.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Method for adjusting optical axis of charged particle radiation and charged particle radiation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Semiconductor inspection method and device that consider the effects of electron beams
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Method and apparatus for inspecting semiconductor using absorbed current image
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Charged particle radiation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
12.08.2010
Semiconductor defect integrated projection method and defect inspection support apparatus equipped with semiconductor defect integrated projection function
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.02.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2010
Automatic Analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 14.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2010
Fluorescence analyzing device and fluorescence analyzing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.11.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2010
Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2010
Method for evaluating superimposition of pattern
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 10.12.2009
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.08.2010
Device for pretreating biological sample and mass spectrometer equipped with same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.01.2010
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29