Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
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26.05.2010
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2008
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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20.05.2010
Pattern check device and pattern check method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2009
Anhängig
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20.05.2010
Automatic analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.11.2009
Anhängig
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19.05.2010
Versatzkorrektur eines Probenhalters für eine euzentrische Drehung in einem Teilchenstrahlmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.10.2008
Erteilt am 19.05.2010
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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14.05.2010
Calibration standard member, method for manufacturing the member, and scanning electronic microscope using the member
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.10.2009
Anhängig
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14.05.2010
Pattern dimension measuring method and scanning electron microscope using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.10.2009
Anhängig
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14.05.2010
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.10.2009
Anhängig
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14.05.2010
Electron beam type substrate inspecting apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.10.2009
Anhängig
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06.05.2010
Reference wafer for calibrating dark-field inspection device, method for fabricating reference wafer for calibrating dark-field inspection device, method for calibrating dark-field inspection device, dark-field inspection device, and wafer inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2009
Anhängig
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29.04.2010
Circuit pattern inspecting apparatus, management system including circuit pattern inspecting apparatus, and method for inspecting circuit pattern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.10.2009
Anhängig
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29.04.2010
Charged corpuscular beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.10.2009
Anhängig
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29.04.2010
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.10.2009
Anhängig
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22.04.2010
Mass spectrometer and mass spectrometry method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.10.2009
Anhängig
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22.04.2010
Supersensitization of defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2009
Anhängig
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15.04.2010
Scanning Charged Particle Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.10.2009
Anhängig
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15.04.2010
Pattern-searching condition determining method, and pattern-searching condition setting device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.10.2009
Anhängig
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15.04.2010
Stage drive device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.10.2009
Anhängig
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08.04.2010
Diagnosis device of recipe used for scanning electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.09.2009
Anhängig
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08.04.2010
Method for measuring sample and measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.09.2009
Anhängig
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08.04.2010
Apparatus and method for inspecting an object surface defect
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.07.2009
Anhängig
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08.04.2010
Nucleic acid extraction stabilizer, nucleic acid extraction method, and nucleic acid extraction apparatus
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.09.2009
Anhängig
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08.04.2010
Defect observation device and defect observation method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2009
Anhängig
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08.04.2010
Pattern matching method and image processing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 02.10.2009
Anhängig
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07.04.2010
Verfahren und Vorrichtung zur Ladungsträgerstrahllithographie
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.10.2004
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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01.04.2010
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.09.2009
Anhängig
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01.04.2010
Data processing device, data processing method, and check work support system using the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.08.2009
Anhängig
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01.04.2010
Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.08.2009
Anhängig
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25.03.2010
Pattern inspection device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.09.2009
Anhängig
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18.03.2010
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.08.2009
Anhängig
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18.03.2010
Method and device for synthesizing panorama image using scanning charged-particle microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.09.2009
Anhängig
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11.03.2010
Scanning type charged particle microscope device and method for processing image acquired with scanning type charged particle microscope device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.07.2009
Anhängig
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11.03.2010
Pretreatment device and mass spectrometer equipped with same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.07.2009
Anhängig
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04.03.2010
Method and device for defect inspection
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 05.06.2009
Anhängig
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04.03.2010
Mass Spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.08.2009
Anhängig
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04.03.2010
Defect check method and device thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.07.2009
Anhängig
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04.03.2010
Charged corpuscular particle beam irradiating method, and charged corpuscular particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.07.2009
Anhängig
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04.03.2010
Defect inspection method, and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.07.2009
Anhängig
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03.03.2010
Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis einer Substanz in einer biologischen Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2005
Erteilt am 03.03.2010
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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25.02.2010
Pattern defect inspecting apparatus and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.07.2009
Anhängig
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18.02.2010
Contact detecting device and contact detecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.07.2009
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29