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Leica Microsystems Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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770 gesamt
Patent
17.08.2006
Vorrichtung zur Ver[nderung des Abstandes zwischen einem Mikroskopobjektiv und einem Mikroskoptisch
WO2006084775 Optik & Fototechnik
16.08.2006
Verfahren zum Benutzertraining für ein Scanmikroskop, Scanmikroskop und Software zum Benutzertraining für ein Scanmikroskop
EP1341023 Optik & Fototechnik erteilt
02.08.2006
Mikroskop
EP1686408 Optik & Fototechnik
19.07.2006
Tubus zur Adaption an ein Mikroskop
EP1460467 Optik & Fototechnik erteilt
12.07.2006
Verfahren zur Probenuntersuchung und Mikroskop mit Evaneszenter Probenbeleuchtung
EP1678544 Optik & Fototechnik
05.07.2006
Optische Anordnung und Scanmikroskop
EP1421427 Optik & Fototechnik erteilt
15.06.2006
Verfahren zur Auswahl einer Wellenl[nge und Mikroskop
WO2006061359 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
14.06.2006
Objektiv zur Evaneszenten Beleuchtung und Mikroskop
EP1668395 Optik & Fototechnik
14.06.2006
Mikroskop mit Evaneszenter Beleuchtung
EP1668394 Optik & Fototechnik
24.05.2006
Verfahren und System zur Ger Teunabh Ngigen Bestimmung von Koordinaten eines mittels eines Mikroskops Abgebildeten Punktes
EP1658521 Optik & Fototechnik
17.05.2006
Optische Vorrichtung und Mikroskop mit einer Optischen Vorrichtung zur Kollinearen Vereinigung von Lichtstrahlen Unterschiedlicher Wellenlänge
EP1656578 Optik & Fototechnik
26.04.2006
Mikroskop
EP1549989 Optik & Fototechnik erteilt
19.04.2006
Laserscanmikroskop und Verfahren zur Referenzkorrektur bei einem Laserscanmikroskop
EP1089061 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
19.04.2006
Verfahren zur Geführten "blind Deconvolution" Mikroskopischer Bilder und Software
EP1459203 Software & Datenverarbeitung erteilt
12.04.2006
Lichtquelle mit einem Mikrostrukturierten Optischen Element und Mikroskop mit Lichtquelle
EP1644765 Optik & Fototechnik
06.04.2006
Halterung für eine Linse mit einem Elastischen Mittel zwischen Linse Un Halterung
WO2006034957 Optik & Fototechnik
29.03.2006
Verfahren und eine Vorrichtung zum Zusammenführen eines Ersten und Zweiten Strahlenbündels
EP1440334 Optik & Fototechnik erteilt
15.03.2006
Feinverstellvorrichtung
EP1634109 Optik & Fototechnik
08.03.2006
Mikroskop und Verfahren zum Wechseln von Objektiven in einem Mikroskop
EP1093002 Optik & Fototechnik erteilt
01.03.2006
Mikroskop und Verfahren zur Änderung des Lichtflusses in einem Mikroskop
EP1418454 Optik & Fototechnik erteilt
15.02.2006
Optische Anordnung zum Ablenken eines Lichtstrahls
EP1179747 Optik & Fototechnik erteilt
08.02.2006
Vorrichtung zur Spektralen Selektion und Detektion der Spektralbereiche eines Lichtstrahls
EP1623259 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
01.02.2006
Beleuchtungseinrichtung für ein DUV-Mikroskop
EP1069449 Optik & Fototechnik erteilt
26.01.2006
Rastermikroskop
WO2006008304 Optik & Fototechnik
05.01.2006
Optische Anordnung zum Spektralselektiven Nachweis von Licht eines Lichtstrahls
WO2006000173 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
05.01.2006
Mikroskop
WO2006000563 Optik & Fototechnik
21.12.2005
Scanmikroskop und Verfahren zur wellenlängenabhängigen Detektion
EP1273951 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
21.12.2005
Rastermikroskop mit Konfokalem Spaltscanner zum Abbilden eines Objektes
EP1606665 Optik & Fototechnik
08.12.2005
System zur Bildaufnahme und Bilddarstellung von Präparaten
WO2005116718 Optik & Fototechnik
16.11.2005
Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben
EP1211542 Optik & Fototechnik erteilt
16.11.2005
Polarisationsinterferenzmikroskop
EP1408361 Optik & Fototechnik erteilt
09.11.2005
Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens eines Spektralbereichs eines spektral aufgefächerten Lichtstrahls
EP1126257 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
03.11.2005
Vorrichtung und Verfahren zur Aufnahme Statischer und Funktionaler Daten
WO2005103791 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
19.10.2005
Mikroskop
EP1220005 Optik & Fototechnik erteilt
13.10.2005
Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopischen Untersuchung einer Probe
WO2005096058 Optik & Fototechnik
28.09.2005
Spektroskopische Anordnung in einem konfokalen Mikroskop
EP1178345 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
10.08.2005
DUV-taugliches Mikroskop-Objektiv mit parfokalem IR-Fokus
EP1067420 Optik & Fototechnik erteilt
10.08.2005
Laser-Mikro-Dissektionsgerät
EP1276586 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik erteilt
04.08.2005
Mikroskopsystem und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopsystems
WO2005071460 Optik & Fototechnik
20.07.2005
Vorrichtung und Verfahren für ROI-Abtastung mit hoher zeitlicher Auflösung
EP1265092 Optik & Fototechnik erteilt

Wer vertritt Leica Microsystems?

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Technologiefelder

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555
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
267
Software & Datenverarbeitung
114
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43
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41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
19
Verfahrens- & Trenntechnik
17
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
4
Akustik, Musik & Datenspeicherung
4
Metallurgie & Oberflächentechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3

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