Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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949 gesamt| Patent | |||
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19.12.2012
Mikroskop und Verfahren zur bildgebenden Fluoreszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2012
Anhängig
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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05.12.2012
Detektor mit Mikrolinsen-Anordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.01.2006
Erteilt am 05.12.2012
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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31.10.2012
Vorrichtung zur Justage einer Optischen Faser oder eines Optischen Faserbündels
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.09.2005
Erteilt am 31.10.2012
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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17.10.2012
Scan-Mikroskop zum optische Abtasten von Proben mit einer Streuscheibe vor einem Durchlicht-Detektor
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.08.2010
Erteilt am 17.10.2012
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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10.10.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung von Multipoint-FCS
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.03.2011
Anhängig
Vertretung
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30.08.2012
Abtastmikroskop und Verfahren zur Lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.02.2012
Anhängig
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04.07.2012
Verfahren zur Automatischen Erzeugung von Laser-Schnittlinien in der Laser-Mikrodissektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.10.2004
Erteilt am 04.07.2012
Vertretung
Grunert, Marcus · München
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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13.06.2012
Mikroskoptisch mit verschwenkbarer Objektivhalterung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
Vertretung
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13.06.2012
Einrichtung und Verfahren zur justierten Anbringung eines Mikroskoptisches an einem Mikroskopstativ
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Anhängig
Vertretung
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06.06.2012
Mikroskop mit einer Lichtquelle mit mehreren Mikrostrukturierten Optischen Elementen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.09.2004
Erteilt am 06.06.2012
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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31.05.2012
Konfokales Laser-Scanmikroskop und ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2011
Anhängig
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30.05.2012
Einrichtung zum Fokussieren eines Mikroskopobjektivs auf eine Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2011
Anhängig
Vertretung
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02.05.2012
Verfahren und Vorrichtung zur Laser-Mikrodissektion mit einer Kontinuierlichen Veränderung der Schnittparameter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.06.2006
Erteilt am 02.05.2012
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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11.04.2012
Vorrichtung zur Feinpositionierung eines Bauteils
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.05.2000
Erteilt am 11.04.2012
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Naumann, Ulrich · Heidelberg
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28.03.2012
System und Verfahren zum Computergestützten Durchführen mindestens eines Tests bei einem Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.05.2010
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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09.02.2012
Einrichtung zur Lückenlosen Einstellung von Spektrometer-Spaltbreiten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.06.2011
Anhängig
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02.02.2012
Einrichtung und Verfahren zur Mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.07.2011
Anhängig
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05.01.2012
Verfahren und Einrichtung zur Lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.06.2011
Anhängig
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14.12.2011
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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23.11.2011
Mikroskop-Aufbau
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2001
Erteilt am 23.11.2011
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
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26.10.2011
Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von einer mit einer fluoreszierenden Substanz markierten Struktur einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.08.2007
Erteilt am 26.10.2011
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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26.10.2011
Vorrichtung mit einer breitbandigen Lichtquelle
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2010
Anhängig
Vertretung
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26.10.2011
Verfahren zur Untersuchung eines Objekts mit einem Mikroskop und ein Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.08.2007
Anhängig
Vertretung
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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12.10.2011
Verfahren und Vorrichtung zur Justierung der Beiden Objektive in einer 4PI-Anordnung
Optik & Fototechnik
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12.10.2011
Fluoreszenzmikroskop und Verfahren zur Durchführung von Multipositionierungen in einer Screening-Applikation
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.03.2011
Anhängig
Vertretung
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28.09.2011
Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Fluoreszenzanregung (2-Wellenlängen-IR)
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.02.2011
Anhängig
Vertretung
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14.09.2011
Verfahren für einen beschleunigten Anregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2011
Anhängig
Vertretung
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09.09.2011
Probenhalterung für ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2011
Anhängig
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18.08.2011
Vorrichtung zum Scannen eines Objekts, Verfahren zum Betreiben der Vorrichtung und Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.01.2011
Anhängig
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18.08.2011
Vorrichtung und Verfahren zum Scannen eines Objekts und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2011
Anhängig
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15.06.2011
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2000
Erteilt am 15.06.2011
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Maisch, Thomas · Heidelberg
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09.06.2011
Phasenfilter für ein Rastermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.11.2010
Anhängig
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18.05.2011
Led-Modul zur Beleuchtung in einem Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2006
Erteilt am 18.05.2011
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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14.04.2011
Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.10.2010
Anhängig
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06.04.2011
Phasenfilter für die Sted-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2006
Erteilt am 06.04.2011
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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06.04.2011
Objektivwechsler und ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.09.2008
Erteilt am 06.04.2011
Vertretung
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16.02.2011
Rastermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2004
Erteilt am 16.02.2011
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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26.01.2011
Konfokalmikroskop und Verfahren zur Detektion mit einem Konfokalmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.08.2006
Erteilt am 26.01.2011
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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05.01.2011
Vorrichtung zum Positionieren eines optischen Bauteils in einem Strahlengang
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2001
Erteilt am 05.01.2011
Vertretung
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Naumann, Ulrich · Heidelberg
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05.01.2011
Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2006
Erteilt am 05.01.2011
Vertretung
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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