Leica Microsystems Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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949 gesamt| Patent | |||
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05.03.2015
Verfahren zur Kalibrierung einer Laserablenkeinrichtung eines Lasermikrodissektionssystems und Lasermikrodissektionssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.08.2014
Anhängig
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18.02.2015
Operationsmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2000
Erteilt am 18.02.2015
Vertretung
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Patentbüro Paul Rosenich AG · Triesenberg
PPR AG · Triesenberg
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11.02.2015
Verfahren und Vorrichtung zum Hochaufgelösten Optischen Abtasten einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.07.2006
Erteilt am 11.02.2015
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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15.01.2015
Verfahren und Vorrichtung zur Spektrometrischen Reflexionsmessung bei Sphärischen Flächen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.07.2014
Anhängig
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08.01.2015
Lichtmikroskopisches Verfahren der Lokalisationsmikroskopie zur Lokalisierung von Punktobjekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.07.2014
Anhängig
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04.12.2014
Verfahren zur Lasermikrodissektion und Lasermikrodissektionssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2014
Anhängig
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04.12.2014
Lasermikrodissektionssystem mit Benutzerinformationseinheit und Verfahren zur Lasermikrodissektion
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.05.2014
Anhängig
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04.12.2014
Lasermikrodissektionssystem mit Visualisierungseinrichtung und Verfahren zur Lasermikrodissektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.05.2014
Anhängig
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01.10.2014
Rastermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2004
Erteilt am 01.10.2014
Vertretung
Landskron, Jürgen · München
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Stamer, Harald · Wetzlar
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
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25.09.2014
Spim-Anordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.03.2014
Anhängig
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25.09.2014
Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.03.2014
Anhängig
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20.08.2014
Tubus zur Adaption an ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2003
Erteilt am 20.08.2014
Vertretung
Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar
Reichert, Werner Franz · Wetzlar
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06.08.2014
Abtastmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung eines Objektes
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.06.2012
Erteilt am 06.08.2014
Vertretung
Zusammenfassung
Ein Abtastmikroskop (100, 200, 300, 400, 500) umfasst eine Lichtquelle (20, 61, 64) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (12), eine Beleuchtungsoptik (10) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (16, 84) in einem abzubildenden Objekt (36) und eine Abtastvorrichtung (33) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des abzubildenden Objektes (36) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (12) in eine Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) fällt. Die Abtastvorrichtung (33) richtet den Beleuchtungslichtstrahl (12) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (16, 84) relativ zur optischen Achse (O<1>) der Beleuchtungsoptik (10) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) und ändert zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (36) innerhalb dieses Teilbereichs. Es ist ein von der Beleuchtungsoptik (10) räumlich getrenntes Beobachtungsobjektiv (38) vorgesehen, das mit seiner optischen Achse (O<3>) im Wesentlichen senkrecht zu dem beleuchteten Zielbereich und unter einem spitzen Winkel (α) zur optischen Achse (O<1>) der Beleuchtungsoptik (10) angeordnet ist. |
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25.06.2014
System und Verfahren zur Erzeugung eines Hellfeldbildes Mithilfe Fluoreszierender Bilder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.08.2012
Anhängig
Vertretung
O'Brien, Dominic Paul · Södertälje
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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28.05.2014
Fluoreszenzmikroskope mit Polychromen Spiegelwechslern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2012
Anhängig
Vertretung
Cavill, Ross David · Chalfont St Giles
Sörby, Lennart · Uppsala
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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26.02.2014
Analyse der Expression von Biomarkern bei Zellen mit Clustern
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.04.2012
Anhängig
Vertretung
O'Brien, Dominic Paul · Södertälje
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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26.02.2014
Analyse der Expression von Biomarkern bei Zellen mit Clustern
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 23.04.2012
Anhängig
Vertretung
O'Brien, Dominic Paul · Södertälje
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
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20.02.2014
Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von mehreren Probenschnitten in Form eines Schnittstapels
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.08.2013
Anhängig
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06.02.2014
Scanner für die Abtastung von Schnellschnitt-Proben
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2013
Anhängig
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03.01.2014
Mikroskop mit Beleuchtungseinrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2013
Anhängig
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28.11.2013
Probenfänger zum Auffangen eines Laser-Mikrodissektats
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2013
Anhängig
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21.11.2013
Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe in Bezug auf die Lebensdauer eines Angeregten Zustands
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2013
Anhängig
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07.11.2013
Verfahren zur Ausführung Beim Betreiben eines Mikroskops und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2013
Anhängig
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30.10.2013
Scanmikroskop zum Untersuchen mikroskopischer Präparate und Beleuchtungseinrichtung für ein Scanmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.06.2001
Erteilt am 30.10.2013
Vertretung
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25.09.2013
Keramische Beschichtung für Teile eines Mikroskops
Metallurgie & Oberflächentechnik
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18.09.2013
Beschichtungsanlage mit einer Funkvorrichtung sowie Verfahren zur Steuerung eines Aktors Bzw. einer Heizung
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 26.11.2007
Erteilt am 18.09.2013
Vertretung
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06.09.2013
Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.02.2013
Anhängig
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04.09.2013
Mikroskoptisch
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2011
Erteilt am 04.09.2013
Vertretung
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14.08.2013
Emccd-Detektor sowie ein Spektrometer und Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.09.2005
Erteilt am 14.08.2013
Vertretung
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
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14.08.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2006
Erteilt am 14.08.2013
Vertretung
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14.08.2013
Vorrichtung und Verfahren zum Ablenken eines Lichtstrahls in Zwei Unterschiedliche Richtungen und Scan-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.08.2010
Erteilt am 14.08.2013
Vertretung
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08.08.2013
Mikroskop mit Kabelloser Funkschnittstelle und Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2013
Anhängig
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03.07.2013
Detektor mit Mikrolinsen-Anordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.01.2006
Erteilt am 03.07.2013
Vertretung
Hassenbürger, Anneliese · Wetzlar
Naumann, Ulrich · Heidelberg
Ullrich & Naumann · Heidelberg
Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg
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02.05.2013
Anordnung zur Verwendung bei der Beleuchtung einer Probe bei der Spim-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2012
Anhängig
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17.04.2013
Verfahren und Vorrichtung zum Stabilisieren einer Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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11.04.2013
Mikroskopsystem und Verfahren zur Aufnahme von Multikanalbildern
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.10.2012
Anhängig
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27.02.2013
Verfahren zum Untersuchen einer Fluoreszierende Farbstoffe Enthaltenden Probe mit Hilfe eines Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.03.2011
Anhängig
Vertretung
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21.02.2013
Detektorvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.08.2012
Anhängig
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23.01.2013
Wechselvorrichtung für ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.07.2012
Anhängig
Vertretung
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19.12.2012
Raster-Mikroskop und Verfahren zum Optischen Abtasten einer oder mehrerer Proben
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2011
Anhängig
Vertretung
Dehns Germany Partnerschaft mbB · München
Kudlek & Grunert Patentanwälte · München
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Wer vertritt Leica Microsystems?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Leica Microsystems vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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