Leica Microsystems Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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770 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
20.07.2005	20.07.2005 Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung, Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie EP1260848 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.05.2002 Erteilt am 20.07.2005 Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.07.2005	06.07.2005 Mikroskop mit Korrektur und Verfahren zur Korrektur der durch Temperaturänderung Hervorgerufenen Xyz-Drift EP1549990 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.06.2005	16.06.2005 Rastermikroskop WO2005054924 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2004 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.06.2005	15.06.2005 Halter für ein Magnetisch-Optisches Element und Mikroskopbaugruppe damit EP1540402 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.08.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.06.2005	08.06.2005 Trägervorrichtung für ein Biologisches, mittels Laser-Mikrodissektion Schneidbares Präparat EP1537401 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.07.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2005	25.05.2005 Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion eines Objekts EP1532479 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.08.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.04.2005	14.04.2005 Verfahren zur Laser-Mikrodissektion WO2005033669 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.04.2005	07.04.2005 Mikroskopobjektiv zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie und Mikroskop WO2005031431 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.09.2004 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.03.2005	16.03.2005 Autofokusmodul mit Zusatzlichtquellen für mikroskopbasierte Systeme und Zweistrahl-Fokusdetektionsverfahren unter Benutzung des Moduls EP1333304 Optik & Fototechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.01.2003 Erteilt am 16.03.2005 Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.12.2004	22.12.2004 Labor für Microscopy EP1488400 Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.11.2004	10.11.2004 Mikroskop und Mikroskopierverfahren zur Erzeugung von Überlagerungsbildern EP1475653 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.04.2004 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.10.2004	27.10.2004 Mikroskop-Aufbau EP1168031 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.06.2001 Anhängig Vertretung Naumann, Ulrich · Heidelberg Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Ullrich & Naumann PartG mbB · Heidelberg Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.10.2004	27.10.2004 Verfahren zur Datenverarbeitung in einem Scanmikroskop mit Schnellem Scanner und Scanmikroskop mit Schnellem Scanner EP1470720 Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.01.2003 Anhängig Vertretung Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Reichert, Werner Franz · Wetzlar Grunert, Marcus · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.09.2004	22.09.2004 Verfahren und Anordnung zur Anpassung der lateralen und zeitlichen Auflösung eines Mikroskopbildes EP1168030 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.06.2001 Anhängig Vertretung Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Hössle Patentanwälte Partnerschaft · Stuttgart Hössle Kudlek & Partner · Stuttgart Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.07.2004	21.07.2004 Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung Lichtmikroskopischer, Dreidimensionaler Bilder EP1438697 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.10.2002 Anhängig Vertretung Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron · München Bradl, Joachim · Schriesheim Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.01.2004	21.01.2004 Inspektionsmikroskop für Mehrere Wellenlängenbereiche und Reflexionsminderungsschicht für ein Inspektionsmikroskop für Mehrere Wellenlängenbereiche EP1381901 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.03.2002 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.10.2003	29.10.2003 Konfokales Laserscan-Mikroskop EP1093001 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.10.2000 Anhängig Vertretung Naumann, Ulrich, Dr.-Ing · Heidelberg Naumann, Ulrich · Heidelberg Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.10.2003	29.10.2003 Verfahren und Vorrichtung zur Laser-Mikrodissektion EP1186879 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.08.2001 Erteilt am 29.10.2003 Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2003	01.10.2003 Anordnung zum Scannen einer Objektaufnahmeeinrichtung EP1107037 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.11.2000 Anhängig Vertretung Naumann, Ulrich · Heidelberg Naumann, Ulrich, Dr.-Ing · Heidelberg Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.08.2003	06.08.2003 Verfahren und Anordnung zur Abbildung und Vermessung mikroskopischer dreidimensionaler Strukturen EP1235049 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.01.2002 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2003	26.03.2003 Beleuchtungs- und Abbildungseinrichtung für mehrere Spektralbereiche und Koordinatenmessmaschine mit einer Beleuchtungs- und Abbildungseinrichtung für mehrere Spektralbereiche EP1186854 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.08.2001 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.01.2003	29.01.2003 Anordnung zum Mikromanipulieren von biologischen Objekten EP1279986 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.07.2002 Anhängig Vertretung Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron, Eckert · München Bradl, Joachim · Schriesheim Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.01.2003	08.01.2003 Vorrichtung zum Laserschneiden von Präparaten und Mikroskop EP1272887 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.03.2001 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.01.2003	08.01.2003 Vorrichtung zur farbneutralen Helligkeitseinstellung im Beleuchtungsstrahlengang eines Mikroskops EP1273953 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.06.2002 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.11.2002	06.11.2002 Verfahren zur Untersuchung einer Probe und Scanmikroskop EP1255105 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.04.2002 Anhängig Vertretung Reichert, Werner Franz · Wetzlar Reichert, Werner F., Dr · Wetzlar Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.05.2001	23.05.2001 Laserscanmikroskop EP1102101 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.10.2000 Anhängig Vertretung Naumann, Ulrich · Heidelberg Naumann, Ulrich, Dr.-Ing · Heidelberg Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen