STMicroelectronics Italy Patente
🇮🇹 Italien
Italienische Konzerngesellschaft des schweizerisch-französischen Halbleiterherstellers STMicroelectronics. Entwickelt und fertigt Halbleiterkomponenten für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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2.334 gesamt| Patent | |||
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19.11.2025
Verfahren zur Verwaltung der Verbindung von Profilen in einer Integrierten Schaltung in einem Kommunikationsgerät und Entsprechendes System und Integrierte Schaltung
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Status
Angemeldet am 23.02.2023
Erteilt am 19.11.2025
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19.11.2025
Steuervorrichtung für einen Schaltspannungsregler mit Reduziertem Audiorauschen und Steuerverfahren
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19.11.2025
Selbsttest eines Mems-Beschleunigungsmessers unter Verwendung einer Variablen Erregerspannung und Fester Zeitsteuerung
EP4603846
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.11.2025
Steuermodul für einen Resonanten Switched-Capacitor-Wandler mit Verbessertem Wirkungsgrad bei Geringer Last und Verfahren zur Steuerung eines Resonanten Switched-Capacitor-Wandlers
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12.11.2025
System zum Testen einer Elektronischen Schaltung, insbesondere einer Integrierten Schaltung, mit einer Spannungsüberwachungsschaltung und Entsprechendes Verfahren sowie Computerprogrammprodukt
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Status
Angemeldet am 20.12.2022
Erteilt am 12.11.2025
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05.11.2025
Systeme und Verfahren zur Überwachung von Leckstrom
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Status
Angemeldet am 23.12.2022
Erteilt am 05.11.2025
Vertretung
Zusammenfassung
A system (200) to monitor a MOSFET (102), the system including a switching arrangement (202) configured to switchably isolate a gate terminal (102G) of the MOSFET (102) and a source terminal (102S) of the MOSFET (102) from a gate-control voltage source ((104) and a test circuit (204) configured to detect a change in a gate-to-source voltage of the MOSFET (102) over a test period, the test period occurring while the gate terminal (102G) and the source terminal (102S) are isolated. |
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29.10.2025
Systeme und Verfahren zum Testen eines Asynchronen Endlichen Automaten
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Status
Angemeldet am 27.01.2023
Erteilt am 29.10.2025
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29.10.2025
Integrierter Thermischer Sensor und Verfahren zu Seiner Herstellung
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29.10.2025
Leistungsschaltkreis und Entsprechendes Betriebsverfahren
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Status
Angemeldet am 18.03.2022
Erteilt am 29.10.2025
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29.10.2025
Kommunikationsverfahren, Entsprechendes System und Vorrichtung
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Status
Angemeldet am 09.09.2021
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
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29.10.2025
Rechnersystem mit einem Algorithmus zur Fusion von Daten aus Trägheitssensoren und Verfahren
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29.10.2025
Verfahren zur Modifizierung eines Testprofils in einer Chipkarte, Entsprechende Chipkarte, Testverfahren und Vorrichtung
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Status
Angemeldet am 29.08.2023
Erteilt am 29.10.2025
Vertretung
Zusammenfassung
Method for modifying a test profile in an integrated circuit card, in particular an embedded UICC, (108), to test an apparatus (10), in particular a device, hosting said integrated circuit card (108), said method comprising using as test profile a generic test profile (GTP) stored in said integrated circuit card (108) comprising an Elementary File Test file (EFT) containing information for updating files in order to support apparatus test operations and a test applet (TAP) configured to perform said updating on files of said generic test profile (GTP), said test applet (TAP) being configured to perform an update operation (335) on contents of a target elementary file (TGF) with a determined file identifier (<File Id>), storing in a record of the Elementary File Test file (EFT) information to perform said operation of update ((<File Path>), <data to be updated>), said information to perform said operation of update in a record of the Elementary File Test file (EFT) ((<File Path>), <data to be updated>) comprising a file path (<File Path>) identifying the position of said target elementary file (TGF) with a determined file identifier (<File Id>) in the file system (FS) of the Elementary File Test file (EFT), obtained as the concatenation of a respective parent file identifier in the file system (FS) of the Elementary File Test file (EFT) followed by the target Elementary File (TGF) file identifier (<File Id>), data to be updated <data to be updated>) built as comprising a first type of data (SD) corresponding to significant data, preceded by a length indication of the first type of data (SD), and a second type of data corresponding not significant data, represented as a filling pattern (FP), in particular preceded by length indication of the second type of data (SD), reading (330) by the Test Applet (TAP) said information to perform said operation of update in a record of the Elementary File Test file (EFT) ((<File Path>), <data to be updated>) stored, performing (335) said operation of update by selecting the target elementary file (TGF) in the file system (FS) of the Elementary File Test file (EFT) by said file path (<File Path>) and updating its content with said significant data (DS) and said filling pattern (FP) used in one or more instances to fill the target elementary file (TGF) until the end of its size. |
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29.10.2025
Vorrichtungsaufnahmedetektion
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22.10.2025
Steuervorrichtung für einen Schaltspannungsregler mit Verbesserter Steuerleistung und Steuerverfahren
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22.10.2025
Kippkompensiertes Zeigeverfahren mit Niedriger Leistung und Entsprechende Elektronische Zeigevorrichtung
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Status
Angemeldet am 30.07.2020
Erteilt am 22.10.2025
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22.10.2025
Elektrostatischer Ladungssensor mit Kontaktflächen mit Hoher Impedanz
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15.10.2025
Mems-Mikrospiegelvorrichtung aufweisend eine Verpackung mit einer Transparenten Oberfläche und aufweisend eine Kippbare Plattform
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Status
Angemeldet am 09.07.2021
Erteilt am 15.10.2025
Vertretung
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15.10.2025
Verfahren zum Betrieb Elektroakustischer Wandler, Zugehörige Schaltung und Vorrichtung
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Status
Angemeldet am 13.12.2022
Erteilt am 15.10.2025
Vertretung
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15.10.2025
Verfahren und System zum Extrahieren von Merkmalen zur Verwendung in Eingebetteten Mechanismen der Künstlichen Intelligenz
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01.10.2025
Selbstkalibrierungsschaltung für Delta-Sigma-Modulatoren, Entsprechende Vorrichtung und Verfahren
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Status
Angemeldet am 21.03.2022
Erteilt am 01.10.2025
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01.10.2025
Digitale Synchronisierungsvorrichtung
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24.09.2025
Mems-Aktuator und Verfahren zu Seiner Herstellung
EP4148016
erteilt
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17.09.2025
Selbsttest eines Mems-Beschleunigungsmessers unter Verwendung einer Variablen Erregerspannung und Fester Zeitsteuerung
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Zusammenfassung
A microelectromechanical system (MEMS) accelerometer sensor (12x, 12y, 12z) has a mobile mass and a sensing capacitor. To self-test the sensor, a test signal having a variably controlled excitation voltage and a fixed pulse width is applied to the sensing capacitor. The leading and trailing edges of the test signal are aligned to coincide with reset phases of a sensing circuit (32-36) coupled to the sensing capacitor. The variably controlled excitation voltage of the test signal is configured to cause an electrostatic force which produces a desired physical displacement of the mobile mass. During a read phase of the sensing circuit, a variation in capacitance of sensing capacitor due to the actual physical displacement of the mobile mass is sensed for comparison to the desired physical displacement. |
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10.09.2025
Mems-Aktuator zur Bewegung einer Beweglichen Masse in der Ebene und Optisches Modul mit Diesem Mems-Aktuator
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10.09.2025
Verfahren zur Herstellung einer Mikroelektromechanischen Vorrichtung aus einem Einzigen Halbleiter-Wafer und Zugehörige Mems-Vorrichtung
EP4155255
erteilt
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10.09.2025
Dotierungsaktivierung und Ohmsche Kontaktbildung in einer Elektronischen Sic-Vorrichtung und Elektronische Sic-Vorrichtung
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Status
Angemeldet am 12.04.2021
Erteilt am 10.09.2025
Vertretung
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10.09.2025
Mikroelektromechanisches Gyroskop mit Detektionsbewegung Ausserhalb der Ebene mit Verbesserten Elektrischen Eigenschaften
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10.09.2025
System zur Erkennung einer Berührungsgeste eines Benutzers, Vorrichtung mit dem System und Verfahren
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03.09.2025
Schaltzelle
EP4572591
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.08.2025
Ohmsche Kontaktbildung in einer Sic-Basierten Elektronischen Vorrichtung und Elektronische Vorrichtung
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Status
Angemeldet am 12.04.2021
Erteilt am 27.08.2025
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27.08.2025
Pwm-Begrenzungsdetektorschaltung, Entsprechendes Elektronisches System und Verfahren
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Status
Angemeldet am 21.02.2020
Erteilt am 27.08.2025
Vertretung
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13.08.2025
Phasenwechselspeicherzelle mit Asymmetrischer Struktur, Speichervorrichtung mit der Phasenwechselspeicherzelle und Verfahren zur Herstellung der Phasenwechselspeicherzelle
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13.08.2025
Verpackte Elektronische Vorrichtung mit Hoher Wärmeableitung und Verfahren zur Herstellung davon
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Angemeldet am 16.12.2021
Erteilt am 13.08.2025
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30.07.2025
Verfahren zur Fernbereitstellung von Software-Modulen in Integrierten Schaltungskarten, Entsprechende Vorrichtung und Computerprogrammprodukt
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Angemeldet am 15.10.2021
Erteilt am 30.07.2025
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30.07.2025
Elektrisches Testsystem und Entsprechendes Elektrisches Testverfahren
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30.07.2025
Beschleunigung von 1X1-Faltungen in Neuronalen Faltungsnetzwerken
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30.07.2025
Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen, Zugehöriges Halbleiterbauelement, Anordnung und Trägersubstrat
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Status
Angemeldet am 13.10.2023
Erteilt am 30.07.2025
Vertretung
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30.07.2025
Mikrofluidische Vorrichtung zum Sprühen Sehr Kleiner Flüssigkeitstropfen
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23.07.2025
Sic-Basierte Elektronische Vorrichtung mit Sicherungselement für Kurzschlussschutz und Herstellungsverfahren dafür
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Zusammenfassung
SiC-based MOSFET electronic device (20; 30) comprising: a solid body (48); a gate terminal (24), extending into the solid body (48); a conductive path (36), extending at a first side of the solid body (48), configured to be electrically coupeable to a generator (23) of a biasing voltage (V<sub>GS</sub>); a protection element (21) of a solid-state material, coupled to the gate terminal (24) and to the conductive path (36), the protection element (21) forming an electronic connection between the gate terminal (24) and the conductive path (36), and being configured to go from the solid state to a melted or gaseous state, interrupting the electrical connection, in response to a leakage current (i<sub>SC</sub>) through the protection element (21) greater than a critical threshold; a buried cavity (69) in the solid body (48) accommodating, at least in part, the protection element (21). |
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16.07.2025
Verarbeitungssystem und Zugehöriges Verfahren zum Betrieb
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Angemeldet am 18.03.2022
Erteilt am 16.07.2025
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Wer vertritt STMicroelectronics Italy?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die STMicroelectronics Italy vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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