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Tektronix, Inc. Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

606
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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606 gesamt
Patent
13.08.2008
Differenzialmesssonde mit einem Masseklemmsystem für die Sondenspitzen
EP1726965
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.08.2008
Markierungen für in einer Gruppe zusammengefasste Kanäle
EP1956379
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.07.2008
Erkennung von Zeitfrequenzcodes über ein Spektrogramm
EP1949113
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.07.2008
Extrem genaue Oversampling-Methode und -Vorrichtung
EP1480050
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
16.07.2008
Verteiltes Echtzeit-Test- und Messinstrument
EP1156338
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.07.2008
Messung und Anzeige für Video-Spitzen-Jitter mit Erwarteter Wahrscheinlichkeit
EP1938268
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.06.2008
Linearitätskorrektur unter Verwendung von Filterprodukten
EP1933459
Elektronik & Schaltungstechnik
30.04.2008
Charakterisierung eines Frequenzgangs für eine Frequenzumsetzungsvorrichtung
EP1916533
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.03.2008
Instrument mit einer Ausnehmung für Verbinder im Gehäuse
EP1298973
Elektronik & Schaltungstechnik
05.03.2008
Rechteckige Gamutanzeige
EP1694080
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
21.02.2008
Calibration of symmetric and partially-symmetric fixtures
WO2008021885
21.02.2008
Method for analyzing jitter characteristics and displaying a table or graph thereof
WO2008022025
Software & Datenverarbeitung
21.02.2008
Calibrated s-parameter measurements of probes
WO2008021907
07.02.2008
Noise rejection filter for trigger circuit
WO2008016986
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.02.2008
Self-Adjusting Hold-Off Trigger
WO2008016982
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.12.2007
Signalanalysesystem und Kalibrierverfahren
EP1826583
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.11.2007
Referenzfrequenzstörungsunterdrückung in Synthese-messempfängern
EP1248395
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.11.2007
Probe holder for various thickness substrates
WO2007133979
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.11.2007
Current Probe
WO2007133965
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.11.2007
Current probing system
WO2007133975
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.10.2007
Mischsignalanzeige für ein Messinstrument
EP1847842
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.10.2007
Serieller Datenzeiger
EP1314987
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
04.10.2007
Improved Digital Trigger
WO2007112360
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.08.2007
Abnehmbare Prüfspitze für Abtastsystem
EP1607750
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.07.2007
Schaltungsanordnung zum Testen eines Kommunikationssystems
EP1213876
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
14.06.2007
Systems and methods for discovering sctp associations in a network
WO2007067693
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
16.05.2007
Automatische Kompensation der Verstärkung bezüglich der Temperatur
EP1786098
Elektronik & Schaltungstechnik
25.04.2007
Drop-und-Drag-Auslöser für ein logisches Analysegerät
EP1755025
Software & Datenverarbeitung
18.04.2007
Ein Vielkanalsignalaufnehmer mit geringer Eingangskapazität und Aufnehmerkopf
EP1324055
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.03.2007
Abrollende Zeitverlaufsanzeige von Multi-Slot Kanalinhalten
EP1422868
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
21.02.2007
Einfache integrierte Steuerung für Zoom-/Schwenkfunktionen
EP1754975
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.01.2007
Zeitverarbeitung für eine Echtzeitmodellierung vom Verhalten des menschlichen Sehvermögensystems
EP1294199
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.12.2006
Bildaliasunterdrückung unter Verwendung eines geformten statistischen Filters
EP1315138
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
06.12.2006
Nicht-beeinflussende Bestimmung von Ende-zu-Ende Netzwerkeingenschaften
EP1130850
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29.11.2006
Verfahren und Vorrichtung zur Rekonstruktion von Signalen aus Teilbandsignalen
EP1726966
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
22.11.2006
System und Verfahren zur Korrelation der Aktivität mobiler Teilnehmer auf mehreren Schnittstellen in einem GPRS Netzwerk
EP1725006
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
15.11.2006
Messung von Ausgangsspannungseigenschaften bei dynamischen Logiksignalen
EP1722245
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.11.2006
In einem Testinstrument integrierter breitbandiger Empfänger mit Amplituden- und Phasennormierung mit einer breitbandigen Temperatur kompensierten Rauschquelle und einem Pseudozufallsreihengenerator und entsprechendes Verfahren
EP1187376
Elektronik & Schaltungstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.11.2006
Mehrbandverstärker für Test- und Messinstrumente
EP1720248
Elektronik & Schaltungstechnik
02.11.2006
Vorrichtung und Verfahren zur auf Spektrumanalyse basierender Messung des Jitters serieller Daten
EP1267172
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Wer vertritt Tektronix, Inc.?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Tektronix, Inc. vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
349
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
213
Software & Datenverarbeitung
85
Elektronik & Schaltungstechnik
75
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
40
Optik & Fototechnik
9
Akustik, Musik & Datenspeicherung
9
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
8
Elektrische Energietechnik
7
Maschinenelemente & Fluidtechnik
2
Steuerungs- & Regelungstechnik
2
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
2

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