Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
610 gesamt| Patent | |||
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25.09.2008
Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, electronic device and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2008
Anhängig
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25.09.2008
Test apparatus and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 13.03.2008
Anhängig
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25.09.2008
Tester and electronic device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 13.03.2008
Anhängig
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18.09.2008
Scanning electron microscope having length measuring function and sample dimension length measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2008
Anhängig
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12.09.2008
Method for replacing tray
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.03.2007
Anhängig
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12.09.2008
Tester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 08.03.2007
Anhängig
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12.09.2008
Driver Circuit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2008
Anhängig
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12.09.2008
Signal measuring apparatus and testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.03.2008
Anhängig
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04.09.2008
Driver Circuit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.02.2008
Anhängig
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28.08.2008
Electron gun, electron beam exposure apparatus and electron beam exposure method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2007
Anhängig
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28.08.2008
Device for pressing electronic component and device for testing electronic component
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2008
Anhängig
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21.08.2008
Testing apparatus and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.01.2008
Anhängig
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21.08.2008
Testing apparatus and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 13.02.2008
Anhängig
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14.08.2008
Amplification Control Device, Test Signal Generation Module, Test Device, Amplification Control Method, Program, Recording Medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2008
Anhängig
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07.08.2008
Testing apparatus and probe card
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2007
Anhängig
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24.07.2008
Substrate fixing device and substrate fixing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.01.2007
Anhängig
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17.07.2008
Electron gun and electron beam exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.01.2007
Anhängig
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16.07.2008
Dipolantenne und Herstellungsverfahren dafür
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.04.2000
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
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03.07.2008
Test equipment and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.12.2007
Anhängig
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26.06.2008
Electronic component testing equipment and method of testing electronic component
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2006
Anhängig
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26.06.2008
Measurement device, measurement method, calibration device, and calibration method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2007
Anhängig
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19.06.2008
Coaxial cable unit and test device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.12.2006
Anhängig
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19.06.2008
Test device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.09.2007
Anhängig
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19.06.2008
Testing apparatus, testing method and connecting section
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.12.2007
Anhängig
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12.06.2008
Electronic component testing method and electronic component testing equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.11.2006
Anhängig
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12.06.2008
Electronic component handling device, electronic component handling system and electronic component testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.11.2006
Anhängig
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12.06.2008
Electron beam exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2006
Anhängig
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12.06.2008
Electronic Component Testing Equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.12.2006
Anhängig
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12.06.2008
Testing apparatus and device interface
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2007
Anhängig
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12.06.2008
Pattern controlled, full speed ate compare capability for deterministic and non-deterministic ic data
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2007
Anhängig
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05.06.2008
Program, recording medium, testing apparatus and diagnosing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2007
Anhängig
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29.05.2008
Electron-beam exposing device, and electron-beam exposing method
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.11.2006
Anhängig
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29.05.2008
Electronic component test equipment and method for conveying tray
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2006
Anhängig
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22.05.2008
Measuring circuit and test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.11.2007
Anhängig
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15.05.2008
Tcp handling device, and method for positional alignment of connecting terminals in the device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.11.2006
Anhängig
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08.05.2008
Variable-capacity element, resonator, and modulator
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.10.2007
Anhängig
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02.05.2008
Customer tray and electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2006
Anhängig
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02.05.2008
Electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2006
Anhängig
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02.05.2008
Semiconductor testing apparatus and method of testing semiconductor memory
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 22.08.2007
Anhängig
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02.05.2008
Tester, driver comparator chip, response measuring device, calibration method, and calibration device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.10.2007
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
425
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
145
Elektronik & Schaltungstechnik
72
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
62
Akustik, Musik & Datenspeicherung
34
Software & Datenverarbeitung
31
Optik & Fototechnik
26
Elektrische Energietechnik
15
Medizintechnik & Gesundheit
12
Verpackungs- & Fördertechnik
8
Steuerungs- & Regelungstechnik
5
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
5