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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
04.02.2010
Time measurement circuit, time measurement method, time digital converter and test device using the same
WO2010013385
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
04.02.2010
Semiconductor device and manufacturing method
WO2010013286
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.02.2010
Testing device, and testing method
WO2010013306
Akustik, Musik & Datenspeicherung
28.01.2010
Ad Converter
WO2010010660
Elektronik & Schaltungstechnik
28.01.2010
Ad conversion device
WO2010010661
Elektronik & Schaltungstechnik
28.01.2010
Clock transfer circuit and tester using the same
WO2010010603
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
27.01.2010
Halbleiter-Prüfeinrichtung und Steuerverfahren dafür
EP1643509
Akustik, Musik & Datenspeicherung
21.01.2010
Socket guide, socket, pusher and electronic part testing device
WO2010007653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2010
Testing device
WO2010007770
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2010
Test head moving device and electronic part testing device
WO2010007652
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2010
Signal output circuit, timing generation circuit, testing device, and receiving circuit
WO2010007654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
14.01.2010
Electronic component holding device and electronic component testing device with the same
WO2010004623
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2010
Testing device and testing method
WO2010004755
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.01.2010
Testing device, testing method, and phase shifter
WO2010004754
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.01.2010
Electronic component testing method, insert, tray, and electronic component testing apparatus
WO2010004844
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2010
Test equipment and semiconductor device using built-in instruments standard interface
WO2010004751
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2010
Test equipment, program, and recording medium
WO2010001468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2010
Signal output device, signal output control method, program, and recording medium
WO2010001721
Elektronik & Schaltungstechnik
07.01.2010
Test device and socket board
WO2010001440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2009
Kalibrations-Komparatorschaltung
EP1669768
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2009
Testing apparatus and driver circuit
WO2009157126
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
23.12.2009
Testing apparatus and testing method
WO2009153996
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2009
Datenempfangsschaltung, Tester damit und Timing-Einstellschaltung für ein Strobe-Signal und Verfahren
EP2136218
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.12.2009
Test module, test device, and test method
WO2009150819
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Test device
WO2009150695
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Semiconductor integrated circuit and test equipment
WO2009150694
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Multi-strobe circuit, method for calibration of the same, and test equipment using the same
WO2009150816
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2009
Taktdatenwiedergewinnungsschaltung, Verfahren und Prüfeinrichtung damit
EP2133995
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
10.12.2009
Test system and substrate unit to be used for testing
WO2009147723
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test system
WO2009147719
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Semiconductor wafer, semiconductor circuit, testing board and testing system
WO2009147720
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Probe wafer, probe apparatus, and test system
WO2009147717
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Method of manufacturing probe wafer
WO2009147718
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Testing wafer, testing system and semiconductor wafer
WO2009147722
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test wafer unit and test system
WO2009147724
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Probe, electronic component testing device, and probe manufacturing method
WO2009147929
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test apparatus and testing method
WO2009147786
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.12.2009
Method for manufacturing probe device
WO2009147804
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Testing device, transmission circuit, testing device control method and transmission circuit control method
WO2009147797
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.12.2009
Tcp handling apparatus and tcp test apparatus
WO2009147712
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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Elektronik & Schaltungstechnik
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23
Elektrische Energietechnik
22
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14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
8
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8

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