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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
10.12.2009
Semiconductor wafer, semiconductor circuit, testing board and testing system
WO2009147720
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test system
WO2009147719
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2009
Verfahren und Struktur zur Entwicklung eines Testprogramms für Integrierte Halbleiterschaltungen
EP1756602
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
09.12.2009
Verfahren und Struktur zur Entwicklung eines Testprogramms für Integrierte Halbleiterschaltungen
EP1756601
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Wafer unit for testing and testing system
WO2009144828
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Electronic component handling apparatus, electronic component test apparatus and electronic component holding tray
WO2009144790
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Manufacturing equipment for substrate for testing, and method and program of manufacturing substrate for testing
WO2009144806
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Unit for testing and test system
WO2009144948
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Test device and test method
WO2009144844
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Communication system, test device, communication device, communication method, and test method
WO2009144843
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.12.2009
Excessive noise ratio deriving apparatus, noise factor deriving apparatus, method, program, and recording medium
WO2009145127
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Test equipment, testing method and system
WO2009144842
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.12.2009
Tester, information processing system, and data transmission method
WO2009144838
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Tester and information processing system
WO2009144839
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Tester and information processing system
WO2009144837
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Test system and write wafer
WO2009144791
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Testing equipment and transmitter
WO2009144834
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.11.2009
Pattern generator and memory testing device using the same
WO2009141848
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.11.2009
Pallet
WO2009141904
Verpackungs- & Fördertechnik
26.11.2009
Testing wafer unit and testing system
WO2009141906
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.11.2009
Pallet and packing material having the same
WO2009141905
Verpackungs- & Fördertechnik
26.11.2009
Wafer unit for testing and testing system
WO2009141907
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.11.2009
Pattern Generator
WO2009141849
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
25.11.2009
Diagnoseprogramm, Umschaltprogramm, Testeinrichtung und Diagnoseverfahren
EP1876458
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.11.2009
Manufacturing method and wafer unit for testing
WO2009139070
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.11.2009
Digital modulated signal test equipment and test method
WO2009136428
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
12.11.2009
Digital modulated signal test equipment, and digital modulator, moudlating method and semiconductor device using the same
WO2009136427
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
12.11.2009
Memory test apparatus and testing method
WO2009136503
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.11.2009
Testvorrichtung, Diagnoseprogramm und Diagnoseverfahren
EP1881331
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.11.2009
Messvorrichtung und Messverfahren
EP2116838
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.10.2009
Test system and probe apparatus
WO2009130793
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.10.2009
Test system and probe apparatus
WO2009130794
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.10.2009
Power source stabilization circuit, electronic devce and testing apparatus
WO2009128160
Steuerungs- & Regelungstechnik
22.10.2009
Semiconductor testing apparatus and testing method
WO2009128114
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.10.2009
Driver circuit and testing apparatus
WO2009125491
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
15.10.2009
Loop type clock adjustment circuit and test device
WO2009125580
Elektronik & Schaltungstechnik
14.10.2009
Testemulator, Emulationsprogramm und Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen
EP1790989
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
14.10.2009
Ladungsträgerteilchenstrahl-Belichtungsgerät und dessen Anwendungverfahren zur Herstellung von Vorrichtungen
EP1253619
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.10.2009
Test module, test device, and test method
WO2009122701
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
08.10.2009
Test module, test device, and test method
WO2009122699
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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