Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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610 gesamt| Patent | |||
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24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2007
Anhängig
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24.04.2008
Jitter applying device, jitter applying method, test equipment, and communication chip
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2007
Anhängig
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24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2007
Anhängig
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24.04.2008
Measuring apparatus, measuring method, program and testing apparatus
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 11.10.2007
Anhängig
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17.04.2008
Tray transfer apparatus and electronic component testing apparatus provided with the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.10.2006
Anhängig
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17.04.2008
Testing device, testing method, and manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.08.2007
Anhängig
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17.04.2008
Tester and control method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.09.2007
Anhängig
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17.04.2008
Semiconductor test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2007
Anhängig
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17.04.2008
Electron beam lithography system and electron beam lithography
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.09.2007
Anhängig
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17.04.2008
Calibration apparatus, contact judging method and semiconductor testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.10.2007
Anhängig
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10.04.2008
Electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.10.2006
Anhängig
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03.04.2008
Jitter measuring device, jitter measuring method, recording medium, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2007
Anhängig
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03.04.2008
Delay circuit, jigger-apllied circuit, and tester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 21.09.2007
Anhängig
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27.03.2008
Switching device and testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.08.2007
Anhängig
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20.03.2008
Test tray and electronic component testing apparatus provided with same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.09.2006
Anhängig
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20.03.2008
Pattern dimension measuring device and pattern area measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.09.2006
Anhängig
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20.03.2008
A/d converter, a/d converting method, a/d converting program and control apparatus
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2007
Anhängig
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20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.09.2007
Anhängig
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20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.09.2007
Anhängig
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06.03.2008
Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.08.2007
Anhängig
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28.02.2008
Signal generating apparatus, testing apparatus and circuit device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 28.05.2007
Anhängig
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28.02.2008
Threshold voltage control apparatus, testing apparatus and circuit device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 28.05.2007
Anhängig
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28.02.2008
Variable delay circuit, timing generator and semiconductor testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.08.2007
Anhängig
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28.02.2008
Spectrum analyzer system and spectrum analyze method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.08.2007
Anhängig
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21.02.2008
Load variation compensating circuit, electronic device, testing apparatus, timing generator circuit and load variation compensating method
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 20.07.2007
Anhängig
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21.02.2008
Test device and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 07.08.2007
Anhängig
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14.02.2008
Probability density function separator, probability density function separating method, program, tester, bit error rate measurement device, electronic device, and jitter transfer function measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.08.2007
Anhängig
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14.02.2008
Noise separator, noise separating method, probability density function separator, probability density function separating method, tester, electronic device, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.08.2007
Anhängig
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13.02.2008
Teilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.05.2000
Erteilt am 13.02.2008
Vertretung
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31.01.2008
Electronic component transfer method and electronic component handling device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2006
Anhängig
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10.01.2008
High speed serial crossbar switch based loopback module
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 03.07.2007
Anhängig
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11.10.2006
Vorrichtung, Verfahren und Programm zur Anzeige der Signalformqualität eines Cdma-Signals und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.06.2001
Erteilt am 11.10.2006
Vertretung
Lorenz, Werner · Heidenheim
Lorenz, Werner · Heidenheim
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13.09.2006
Darstellung der Qualität eines Multiplex-Signales, Verfahren, Programm und Speichermedium, auf dem das Programm Gespeichert Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.06.2001
Erteilt am 13.09.2006
Vertretung
Lorenz, Werner · Heidenheim
Lorenz, Werner · Heidenheim
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19.07.2006
Gemultiplexte Signalqualitätsanzeige, Verfahren und Programm und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.06.2001
Erteilt am 19.07.2006
Vertretung
Hess, Peter K. G · München
Hess, Peter K., Dipl.-Phys · München
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14.06.2006
Vorrichtung zur Messung Elektromagnetischer Wellen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2001
Erteilt am 14.06.2006
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner · München
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22.03.2006
Teilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2006
Verfahren und Apparat zur Mehrfach-Elektronenstrahlbelichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.07.2003
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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22.06.2005
Mach-Zehnder Interferometer, optischer Koppler und Verfahren zu seiner Herstellung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2004
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner · München
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15.06.2005
Teilchenstrahl-Raster-Spiegelmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.06.2005
Performance-Bord und Testsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2003
Anhängig
Vertretung
Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden
Pfenning, Meinig & Partner · München
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