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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

610 gesamt
Patent
24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Jitter applying device, jitter applying method, test equipment, and communication chip
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Calibration device, calibration method, and test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Measuring apparatus, measuring method, program and testing apparatus
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.04.2008
Tray transfer apparatus and electronic component testing apparatus provided with the same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Testing device, testing method, and manufacturing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Tester and control method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Semiconductor test device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.04.2008
Electron beam lithography system and electron beam lithography
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.04.2008
Calibration apparatus, contact judging method and semiconductor testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Electronic component testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2008
Jitter measuring device, jitter measuring method, recording medium, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2008
Delay circuit, jigger-apllied circuit, and tester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
27.03.2008
Switching device and testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.03.2008
Test tray and electronic component testing apparatus provided with same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
Pattern dimension measuring device and pattern area measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.03.2008
A/d converter, a/d converting method, a/d converting program and control apparatus
Elektronik & Schaltungstechnik
20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
Elektronik & Schaltungstechnik
20.03.2008
A/d converter and a/d converting method
Elektronik & Schaltungstechnik
06.03.2008
Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.02.2008
Signal generating apparatus, testing apparatus and circuit device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.02.2008
Threshold voltage control apparatus, testing apparatus and circuit device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.02.2008
Variable delay circuit, timing generator and semiconductor testing apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
28.02.2008
Spectrum analyzer system and spectrum analyze method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.02.2008
Load variation compensating circuit, electronic device, testing apparatus, timing generator circuit and load variation compensating method
Elektronik & Schaltungstechnik
21.02.2008
Test device and test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.02.2008
Probability density function separator, probability density function separating method, program, tester, bit error rate measurement device, electronic device, and jitter transfer function measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.02.2008
Noise separator, noise separating method, probability density function separator, probability density function separating method, tester, electronic device, program, and recording medium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.02.2008
Teilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2008
Electronic component transfer method and electronic component handling device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.01.2008
High speed serial crossbar switch based loopback module
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
11.10.2006
Vorrichtung, Verfahren und Programm zur Anzeige der Signalformqualität eines Cdma-Signals und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
13.09.2006
Darstellung der Qualität eines Multiplex-Signales, Verfahren, Programm und Speichermedium, auf dem das Programm Gespeichert Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
19.07.2006
Gemultiplexte Signalqualitätsanzeige, Verfahren und Programm und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
14.06.2006
Vorrichtung zur Messung Elektromagnetischer Wellen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.03.2006
Teilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.01.2006
Verfahren und Apparat zur Mehrfach-Elektronenstrahlbelichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.06.2005
Mach-Zehnder Interferometer, optischer Koppler und Verfahren zu seiner Herstellung
Optik & Fototechnik
15.06.2005
Teilchenstrahl-Raster-Spiegelmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.06.2005
Performance-Bord und Testsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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