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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
27.11.2008
Tray storage device and electronic part test apparatus
WO2008142752
Verpackungs- & Fördertechnik
20.11.2008
Electron beam exposure device and electron beam exposure method
WO2008139569
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.11.2008
Electronic part testing apparatus, electronic part testing system and method of testing electronic part
WO2008139579
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.11.2008
Testing apparatus
WO2008139606
Akustik, Musik & Datenspeicherung
20.11.2008
Electronic component testing apparatus, electronic component testing system and electronic component testing method
WO2008139853
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.11.2008
Test instrument and test method
WO2008136301
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2008
Tcp handling apparatus
WO2008132936
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2008
Tcp handling apparatus
WO2008132935
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2008
Tcp handling apparatus
WO2008132934
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.11.2008
Testing apparatus and testing method
WO2008133238
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
30.10.2008
Ad Converter
WO2008129949
Elektronik & Schaltungstechnik
30.10.2008
Da converter and da conversion method
WO2008129975
Elektronik & Schaltungstechnik
23.10.2008
Test device
WO2008126165
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
23.10.2008
Electronic component testing apparatus and method for transferring electronic component
WO2008126164
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.10.2008
Tcp handling device
WO2008126173
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.10.2008
Driver circuit and semiconductor testing apparatus
WO2008126603
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.10.2008
Testing apparatus, electronic device and testing method
WO2008126607
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.10.2008
Test apparatus, test method, and electronic device
WO2008126747
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
16.10.2008
Connecting board, probe card and electronic component testing apparatus provided with the probe card
WO2008123076
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.10.2008
Through-etching process and method for producing contactor
WO2008123075
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.10.2008
Testing apparatus and electronic device
WO2008123156
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.10.2008
Demodulation device, test device, and electronic device
WO2008123470
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
09.10.2008
Electron gun and electron beam exposure system
WO2008120341
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.10.2008
Multi-column electron beam exposure device and multi-column electron beam exposure method
WO2008120391
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.10.2008
Electron gun and electron beam exposure system
WO2008120412
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.10.2008
Tcp handling apparatus
WO2008120520
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2008
Tcp handling apparatus
WO2008120519
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2008
Tcp handling apparatus
WO2008120518
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2008
Contactor and method of manufacturing contactor
WO2008120547
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2008
Mounting method of contactor
WO2008120575
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.10.2008
Contactor, probe card, and method of manufacturing contactor
WO2008120587
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2008
Tester and electronic device
WO2008117381
Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.10.2008
Multicolumn electron beam exposure device and multicolumn electron beam exposure method
WO2008117398
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.10.2008
Tester
WO2008117468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2008
Tester and electronic device
WO2008117622
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.09.2008
Test equipment and electronic device
WO2008114602
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.09.2008
Tester and electronic device
WO2008114654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.09.2008
Testing apparatus and electronic device
WO2008114670
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.09.2008
Testing apparatus, electronic device and testing method
WO2008114671
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.09.2008
Testing apparatus and measuring circuit
WO2008114699
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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34
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31
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Elektrische Energietechnik
15
Medizintechnik & Gesundheit
12
Verpackungs- & Fördertechnik
8
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5
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5

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