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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
29.04.2010
Definite component model identifying apparatus, definite component model identifying method, program, storage medium, test system, and electronic device
WO2010047128
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.04.2010
Electronic device and method for manufacturing the same
WO2010046997
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.04.2010
Orthogonal amplitude demodulator, demodulation method, semiconductor device using them, and test device
WO2010046957
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.04.2010
Fiber Laser
WO2010044486
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.04.2010
Test device
WO2010044251
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.04.2010
Test apparatus and manufacturing method
WO2010044143
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Coaxial connector and coaxial multi-pole connector
WO2010042579
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Circuit board, circuit board assembly and misinsertion detecting device
WO2010041324
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Orthogonal amplitude modulator, modulation method, semiconductor device utilizing them, and testing device
WO2010041293
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
15.04.2010
Interface member, test section unit, and electronic component testing device
WO2010041317
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.04.2010
Circuit design method, circuit design system, and recording medium
WO2010038387
Software & Datenverarbeitung
08.04.2010
Programmable device and data write-in method
WO2010038257
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
07.04.2010
Testvorrichtung
EP2172968
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.04.2010
Frequency characteristic measurement device
WO2010035646
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Test module, test device, and test method
WO2010035447
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Test module, test device, and test method
WO2010035450
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Delay circuit, timing generator using same, and test device
WO2010035309
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
01.04.2010
Test part unit and test head
WO2010035335
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.03.2010
Verfahren und System zur Terminplanung von Tests in einem Parallelen Testsystem
EP1849019
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.03.2010
Testing device and interdomain synchronization method
WO2010032440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
25.03.2010
Testing section unit attaching/detaching apparatus, and test head moving apparatus
WO2010032299
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2010
Testgerät und Testverfahren
EP2006698
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2010
Testsimulator, Testsimulationsprogramm und Aufzeichnungsmedium
EP1801603
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.03.2010
Tester and circuit system
WO2010029597
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.03.2010
Memory device, method for manufacturing memory device, and method for writing data
WO2010029618
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.03.2010
Test device and test method
WO2010029772
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.03.2010
Test module and test method
WO2010029746
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.03.2010
Testing device, testing method, circuit system, power supply device, power supply evaluation device, and method for emulating power supply environment
WO2010029709
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.03.2010
Waveform generator and testing apparatus using the same
WO2010026616
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
11.03.2010
Test device, transmission device, reception device, test method, transmission method, and reception method
WO2010026642
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
11.03.2010
Test apparatus and test method
WO2010026641
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.03.2010
Testing apparatus and test method
WO2010026765
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.03.2010
Interconnect circuit board, skew measuring method and testing device
WO2010023924
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.02.2010
Test device and testing method
WO2010021131
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.02.2010
Electron detection device and scanning electron microscope
WO2010021012
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.02.2010
Electronic component handling apparatus and electronic component test system
WO2010021038
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.02.2010
Test module and test method
WO2010018689
Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.02.2010
Testing device and testing method
WO2010018691
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.02.2010
Electronic component handling device
WO2010016119
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.02.2010
Testing device, and testing method
WO2010013306
Akustik, Musik & Datenspeicherung

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