Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
609
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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04.04.2013
Verfahren zur Variation des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.09.2012
Anhängig
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04.04.2013
Mikroskop für die Weitfeldmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2012
Anhängig
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04.04.2013
Verfahren zur Bestimmung der Dicken von Schichten eines Schichtsystems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2012
Anhängig
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27.03.2013
Verfahren und Anordnung zur Parallelisierten Mikroskopischen Bildgebung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.03.2013
Mikroskopsystem, Verfahren zum Betreiben eines Ladungsträger-Mikroskops
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.11.2010
Erteilt am 13.03.2013
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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13.03.2013
Mikroskop mit einer Wechseleinrichtung zur Aufnahme Optischer Elemente
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.07.2005
Erteilt am 13.03.2013
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20.02.2013
Detektor für ein Rasterelektronenmikroskop mit Variablem Druck und Rasterelektronenmikroskop mit einem Solchen Detektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.02.2013
Strahlensystem mit geladenen Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2010
Erteilt am 20.02.2013
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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14.02.2013
"laser-Scanning-Mikroskop mit einem Beleuchtungsarray"
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 31.07.2012
Anhängig
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07.02.2013
Echelle-Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.07.2012
Anhängig
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07.02.2013
Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Angemeldet am 23.07.2012
Anhängig
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06.02.2013
Mikroskop und Verfahren zur Erfassung von Probenlicht
Optik & Fototechnik
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17.01.2013
Konfokales Auflicht-Rastermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2012
Anhängig
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02.01.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von biologischen Objekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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02.01.2013
Mikroskop und Mikroskopierverfahren zur Messung des Oberflächenprofils eines Objekts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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27.12.2012
Konfokales Rastermikroskop und Betriebsverfahren für ein Solches sowie Verfahren zum Manipulieren einer Probe
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.06.2012
Anhängig
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26.12.2012
Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes
Optik & Fototechnik
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13.12.2012
Strahlkombinierer zum Kombinieren von Zwei Jeweils Eigenständig Gescannten Beleuchtungsstrahlen eines Lichtrastermikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2012
Anhängig
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12.12.2012
Messverfahren und Messvorrichtung zur Ermittlung von Transmissions- und/oder Reflektionseigenschaften
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.12.2012
Vorrichtung zur referenzierten Messung von reflektiertem Licht und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.12.2012
Spektroskopische Messverfahren und Entsprechende Messeinrichtungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2012
Anhängig
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22.11.2012
Verfahren und Vorrichtung zum Festlegen eines Z-Bereiches in einer Probe, in dem ein Z-Stapel der Probe mittels eines Mikroskops Aufzunehmen Ist
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.04.2012
Anhängig
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21.11.2012
Beidseitig Telezentrisches Vergrösserungssystem
Optik & Fototechnik
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31.10.2012
Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Erkennung optischer Bauteile
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2005
Erteilt am 31.10.2012
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31.10.2012
Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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26.10.2012
Weitfeldmikroskop und Verfahren zur Weitfeldmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.03.2012
Anhängig
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24.10.2012
Ringleuchte, insbesondere für Optische Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.10.2012
Einrichtung zur Kontraststeigerung für Ringlichtbeleuchtungen
Optik & Fototechnik
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20.09.2012
Einrichtung zur Roentgenspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2012
Anhängig
Vertretung
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20.09.2012
Einrichtung zur Probenanalyse mittels Röntgenspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2012
Anhängig
Vertretung
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01.08.2012
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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28.06.2012
Mikroskop mit einem Farbbildsensor sowie Mikroskopierverfahren mit einem Farbbildsensor
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 08.12.2011
Anhängig
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20.06.2012
Mikroskop zur Messung von Totalreflexions-Fluoreszenz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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07.06.2012
Vorrichtung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung Optisch Abbildender Systeme
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2011
Anhängig
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31.05.2012
Optisches Inspektionssystem mit einem aus Fünf Linsengruppen Bestehenden Variationssystem zur Abbildung eines Objektes in den Unendlichraum
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2011
Anhängig
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29.03.2012
Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2011
Anhängig
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29.03.2012
"3d localisation microscopy and 4d localisation microscopy and tracking methods and systems"
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.09.2011
Anhängig
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10.11.2011
Optisches Beobachtungsgeraet mit Ergonomischer Okularbeleuchtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.03.2011
Anhängig
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20.10.2011
Verfahren und Vorrichtungen zur Positions - und Kraftdetektion in Optischen Pinzetten
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 23.03.2011
Anhängig
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20.10.2011
Verfahren und Vorrichtungen zur Positions und Kraftdetektion in Optischen Pinzetten
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 23.03.2011
Anhängig
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
408
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
182
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Software & Datenverarbeitung
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Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25
Elektrische Energietechnik
10
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
6
Verfahrens- & Trenntechnik
5
Metallurgie & Oberflächentechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
3
Elektronik & Schaltungstechnik
3