Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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17.04.2014
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 09.10.2013
Anhängig
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17.04.2014
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 09.10.2013
Anhängig
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16.04.2014
Verfahren zur Erzeugung der Darstellung eines Objekts mittels Teilchenstrahl sowie eine Teilchenstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.04.2014
Ladungsträgerteilchenstrahlverarbeitungssystem mit schwenkbarem ringförmigen Gaszuführungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.04.2012
Erteilt am 16.04.2014
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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03.04.2014
Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2013
Anhängig
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02.04.2014
Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.02.2010
Erteilt am 02.04.2014
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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27.03.2014
Hochaperturiges Immersionsobjektiv
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.09.2013
Anhängig
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20.03.2014
Mikroskopmodul und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2013
Anhängig
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05.03.2014
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2004
Erteilt am 05.03.2014
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05.03.2014
Verfahren und Anordnung zur optischen tiefenaufgelösten Erfassung einer beleuchteten Probe
Optik & Fototechnik
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20.02.2014
Beobachtungseinrichtung für eine Vakuumvorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 17.07.2013
Anhängig
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20.02.2014
Spektrometer und Verfahren zum Betreiben eines Spektrometers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2013
Anhängig
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20.02.2014
Schutzfenstervorrichtung für eine Beschichtungsanlage
Metallurgie & Oberflächentechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.08.2013
Anhängig
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16.01.2014
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.06.2013
Anhängig
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08.01.2014
System und Verfahren zur Berarbeitung eines Objekts mit einem Strahl geladener Teilchen
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.11.2008
Erteilt am 08.01.2014
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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21.11.2013
Mikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2013
Anhängig
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21.11.2013
Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2013
Anhängig
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24.10.2013
Mikroskop mit Phasengitter, das Beweglich auf die Probe Abbildbar Ist
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2013
Anhängig
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16.10.2013
Immersionsobjektiv und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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10.10.2013
Abbildendes Farbteilermodul sowie Verfahren zum Abbilden eines Objektfeldes in eine Erste und eine Zweite Bildebene
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.03.2013
Anhängig
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10.10.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.04.2013
Anhängig
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25.09.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Ergebnisbildes durch Anwenden eines Operators auf ein Eingangsbild mit N Zeilen
Software & Datenverarbeitung
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04.09.2013
Abtastverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.05.2010
Erteilt am 04.09.2013
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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21.08.2013
Elektronenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.08.2013
Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Simulieren von Abläufen in einem Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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07.08.2013
Flansch zum Abschluss eines Optischen Geräts Gegenüber einem Probenstrom und Optisches Gerät zur Teilweisen Anordnung in einem Probenstrom
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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10.07.2013
Verfahren zur Beschleunigung der Verstellbewegung in einem Positioniersystem mit Schrittmotoren
Elektrische Energietechnik
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10.07.2013
Lichtmikroskop und Optisches Modul
Optik & Fototechnik
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19.06.2013
Lichtrastermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2005
Anhängig
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12.06.2013
Autofokussystem
Optik & Fototechnik
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06.06.2013
Schieber zum Einführen in einen Strahlengang eines Lichtmikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2011
Anhängig
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29.05.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Dreidimensionalen Vermessung eines Objektes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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22.05.2013
Laser-Mikrodissektionsverfahren und Laser-Mikrodissektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.03.2008
Erteilt am 22.05.2013
Vertretung
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15.05.2013
Gekühlte Teilchenstrahlsysteme und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.06.2010
Erteilt am 15.05.2013
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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15.05.2013
Optische Scan-Einrichtung
Optik & Fototechnik
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08.05.2013
Farblängsfehler verringerndes Optiksystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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24.04.2013
Spektrometer mit Eintrittsspalt und die Herstellung des Eintrittsspaltes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.04.2013
Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2012
Anhängig
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10.04.2013
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Anhängig
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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04.04.2013
Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.09.2012
Anhängig
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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