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Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt
Patent
17.04.2014
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.04.2014
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Aufnahme einer Bildersequenz
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
16.04.2014
Verfahren zur Erzeugung der Darstellung eines Objekts mittels Teilchenstrahl sowie eine Teilchenstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.04.2014
Ladungsträgerteilchenstrahlverarbeitungssystem mit schwenkbarem ringförmigen Gaszuführungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.04.2014
Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung
Optik & Fototechnik
02.04.2014
Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2014
Hochaperturiges Immersionsobjektiv
Optik & Fototechnik
20.03.2014
Mikroskopmodul und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
05.03.2014
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
05.03.2014
Verfahren und Anordnung zur optischen tiefenaufgelösten Erfassung einer beleuchteten Probe
Optik & Fototechnik
20.02.2014
Beobachtungseinrichtung für eine Vakuumvorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
20.02.2014
Spektrometer und Verfahren zum Betreiben eines Spektrometers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.02.2014
Schutzfenstervorrichtung für eine Beschichtungsanlage
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2014
Mikroskop
Optik & Fototechnik
08.01.2014
System und Verfahren zur Berarbeitung eines Objekts mit einem Strahl geladener Teilchen
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.11.2013
Mikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
21.11.2013
Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
24.10.2013
Mikroskop mit Phasengitter, das Beweglich auf die Probe Abbildbar Ist
Optik & Fototechnik
16.10.2013
Immersionsobjektiv und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
10.10.2013
Abbildendes Farbteilermodul sowie Verfahren zum Abbilden eines Objektfeldes in eine Erste und eine Zweite Bildebene
Optik & Fototechnik
10.10.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Mikroskopie
Optik & Fototechnik
25.09.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Ergebnisbildes durch Anwenden eines Operators auf ein Eingangsbild mit N Zeilen
Software & Datenverarbeitung
04.09.2013
Abtastverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2013
Elektronenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.08.2013
Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Simulieren von Abläufen in einem Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
07.08.2013
Flansch zum Abschluss eines Optischen Geräts Gegenüber einem Probenstrom und Optisches Gerät zur Teilweisen Anordnung in einem Probenstrom
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.07.2013
Verfahren zur Beschleunigung der Verstellbewegung in einem Positioniersystem mit Schrittmotoren
Elektrische Energietechnik
10.07.2013
Lichtmikroskop und Optisches Modul
Optik & Fototechnik
19.06.2013
Lichtrastermikroskop
Optik & Fototechnik
12.06.2013
Autofokussystem
Optik & Fototechnik
06.06.2013
Schieber zum Einführen in einen Strahlengang eines Lichtmikroskops
Optik & Fototechnik
29.05.2013
Vorrichtung und Verfahren zur Dreidimensionalen Vermessung eines Objektes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
22.05.2013
Laser-Mikrodissektionsverfahren und Laser-Mikrodissektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.05.2013
Gekühlte Teilchenstrahlsysteme und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2013
Optische Scan-Einrichtung
Optik & Fototechnik
08.05.2013
Farblängsfehler verringerndes Optiksystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
24.04.2013
Spektrometer mit Eintrittsspalt und die Herstellung des Eintrittsspaltes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.04.2013
Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
10.04.2013
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik
04.04.2013
Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik

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