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Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt
Patent
13.10.2011
Inverses Mikroskop
WO2011124301
Optik & Fototechnik
13.10.2011
Hochaperturiges Immersionsobjektiv
WO2011124300
Optik & Fototechnik
05.10.2011
Verfahren zur Erzeugung von Bildern einer Probe
EP2372351
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.09.2011
Beleuchtungsvorrichtung
WO2011113652
Optik & Fototechnik
11.08.2011
Befestigung von Optischen Mikroskopkomponenten
WO2011095609
Optik & Fototechnik
10.08.2011
Vorrichtung zum Fokussieren sowie zum Speichern von Ionen und zum Trennen von Druckbereichen
EP2355127
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.08.2011
Repräsentationssystem
EP2350798
Software & Datenverarbeitung
13.07.2011
Ausrichtung von Geladenen Teilchenstrahlen
EP2342734
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.04.2011
Stromvergrösserung in Quellen Geladener Teilchen und Systemen
EP2311063
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.03.2011
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP2301058
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2011
Elektronendetektionssysteme und Verfahren
EP2288905
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2011
Verfahren, Systeme und Komponenten zur Probenuntersuchung
EP2288904
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2011
Querschnittssysteme Und- Verfahren
EP2289089
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.11.2010
Verfahren und Anordnung zur Zeitaufgelösten Spektroskopie mit einem Photonenmischdetektor
EP2250473
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.10.2010
Anordnung zum Bestimmen des Reflexionsgrades einer Probe
EP2235503
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.10.2010
Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung einer dünnen Siliziumschicht auf einem lichtdurchlässigen Substrat
EP2237025
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.05.2010
Verfahren und Vorrichtung zum Bearbeiten eines Biologischen Objekts mit Laserstrahlung
EP2181316
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.09.2009
Einrichtung und Verfahren zur reproduzierbaren Einstellung der Pinholeöffnung und Pinholelage in Laserscanmikroskopen
EP2098892
Optik & Fototechnik
02.09.2009
Verfahren zur Aufzeichnung und Darstellung von Fluoreszenzbildern mit hoher räumlicher Auflösung
EP1235424
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.07.2009
Verfahren und Anordnung zum Fokussieren von Objektiven, Objekten und Kondensoren bei Mikroskopen
EP2076810
Optik & Fototechnik
15.04.2009
Mikroskopbildverarbeitungsverfahren, Computer, Computerprogramm und Datenträger
EP2047427
Software & Datenverarbeitung
15.04.2009
Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlvereiniger
EP2047313
Optik & Fototechnik
31.12.2008
Wellenlängen- und Intensitätsstandard für Spektrometer
EP2009424
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2008
Spektrometrisches Messsystem und Verfahren zur Kompensation von Falschlicht
EP2002225
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2008
Objektiv für Stereomikroskope vom Teleskoptyp
EP2002205
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
12.11.2008
Verfahren zur Bearbeitung einer Masse mittels eines Laserstrahls und Entsprechende Vorrichtung
EP1989527
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.10.2008
Fokussier- und Positionierhilfseinrichtung für ein Teilchenoptisches Rastermikroskop
EP1979926
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP1955349
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP1955353
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP1955355
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP1955354
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.08.2008
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
EP1955356
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.07.2008
Verfahren zur Segmentierung in einem N-Dimensionalen Merkmalsraum und Verfahren zur Klassifikation auf Grundlage von Geometrischen Eigenschaften Segmentierter Objekte in einem N-Dimensionalen Datenraum
EP1938270
Software & Datenverarbeitung
23.04.2008
Verfahren zur Detektion von Fluoreszenzlicht
EP1441218
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.04.2008
Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
EP1914572
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
05.03.2008
Beleuchtungsvorrichtung, insbesondere für Mikroskope
EP1894050
Optik & Fototechnik
30.01.2008
Laser-Scanning-Mikroskop
EP1882969
Optik & Fototechnik
13.06.2007
Mikroskopobjektiv
EP1794637
Optik & Fototechnik
08.11.2006
Laser-Scanning-Mikroskop
EP1720053
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
EP1617249
Optik & Fototechnik

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Technologiefelder

Optik & Fototechnik
408
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
182
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
123
Software & Datenverarbeitung
69
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25
Elektrische Energietechnik
10
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
6
Verfahrens- & Trenntechnik
5
Metallurgie & Oberflächentechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
3
Elektronik & Schaltungstechnik
3

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